[發明專利]像素電流檢測范圍調整方法、檢測電路及顯示裝置

在審

• 申請號: 201810040850.2
• 申請日: 2018-01-16
• 公開（公告）號: CN107945722A
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 宋琛;王糖祥;高展
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3233;G09G3/3258
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司11438
• 代理人: 王輝,闞梓瑄

技術領域

本公開涉及顯示技術領域，尤其涉及一種檢測范圍調整方法、像素電流檢測電路及顯示裝置。

背景技術

有機發光二極管(Organic Light Emitting Diode，OLED)顯示裝置由于其輕薄、能耗低、亮度高以及反應速度快等特點，越來越成為顯示領域的主流產品。OLED顯示裝置的像素單元通過驅動電路對OLED發光元件供給電流而實現發光。驅動電路一般包括驅動晶體管，儲存電容和開關晶體管，像素電流受驅動晶體管的柵源電壓、閾值電壓及特征尺寸等的影響。由于OLED制造工藝的偏差，驅動晶體管閾值電壓或遷移率的漂移，驅動線路電阻的變化等，在使用中OLED不同像素單元的像素電流會存在差異，且同一像素單元的像素電流也會隨使用而變化，從而導致發光不均勻、斑點、殘影等顯示缺陷。

相關技術中通常將驅動電路通過感測線連接到檢測電路中，檢測出像素電流的實際大小后，進行相應的電學補償。然而現有的檢測電路檢測范圍是固定的，當OLED使用條件或驅動電路發生改變，或者像素電流與初始值偏差較大時，實際像素電流可能超出原來的檢測范圍，導致無法準確的檢測像素電流的大小。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的目的在于提供一種檢測顯示裝置驅動電流的方法、電路及顯示裝置，進而至少在一定程度上克服由于相關技術的限制和缺陷而導致的像素電流檢測范圍不可調的問題。

本公開的其他特性和優點將通過下面的詳細描述變得顯然，或部分地通過本公開的實踐而習得。

根據本公開的一個方面，提供一種檢測范圍調整方法，應用于像素電流檢測電路，所述檢測電路用于利用第一參考電壓和待檢測的像素電流生成積分電壓以及根據所述積分電壓變化到第二參考電壓所用的變化時間確定所述像素電流的大小，所述調整方法包括：

根據所述像素電流的大小與所述檢測電路的檢測范圍的關系，調整所述第一參考電壓和/或所述第二參考電壓的大小。

在本公開的一種示例性實施例中，所述調整所述第一參考電壓或所述第二參考電壓的大小包括：

當所述像素電流大于所述檢測范圍的中心值時，增大所述第一參考電壓和/或減小所述第二參考電壓；

當所述像素電流小于所述檢測范圍的中心值時，減小所述第一參考電壓和/或增大所述第二參考電壓。

在本公開的一種示例性實施例中，所述調整所述第一參考電壓或所述第二參考電壓的大小包括：

當所述像素電流超出所述檢測范圍上限時，增大所述第一參考電壓和/或減小所述第二參考電壓；

當所述像素電流超出所述檢測范圍下限時，減小所述第一參考電壓和/或增大所述第二參考電壓。

在本公開的一種示例性實施例中，確定所述積分電壓變化到第二參考電壓所用的變化時間包括：

在所述積分電壓開始輸出時，通過一計數器開始計數；

在所述積分電壓變化到第二參考電壓時，使所述計數器停止計數；

通過所述計數器的計數結果確定所述積分電壓變化到第二參考電壓所用的變化時間。

在本公開的一種示例性實施例中，所述方法還包括：

調整所述計數器的計數頻率，以將所述檢測電路的檢測精度調整到目標檢測精度。

在本公開的一種示例性實施例中：所述計數器根據時鐘信號計數；

所述調整所述計數器的計數頻率包括：

根據所述變化時間調整所述時鐘信號的頻率。

根據本公開的一個方面，提供一種像素電流檢測電路，包括：

積分電路，用于利用第一參考電壓和待檢測的像素電流生成積分電壓；

計時模塊，用于檢測所述積分電壓變化到第二參考電壓所用的變化時間；

其中，所述第一參考電壓和第二參考電壓中至少一個可調。

在本公開的一種示例性實施例中，所述積分電路包括：

運算放大器，第一輸入端連接所述像素電流，第二輸入端連接所述第一參考電壓，輸出端連接所述計時模塊；

電容器，連接在所述運算放大器的第一輸入端和輸出端之間；

第一開關，設置于所述第一輸入端，用于開通或關斷所述像素電流；

第二開關，設置于所述運算放大器的第一輸入端和輸出端之間，并與所述電容器并聯。

在本公開的一種示例性實施例中，所述計時模塊包括：