[發(fā)明專利]高精度幅寬自動(dòng)化測(cè)量裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810039769.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108387178A | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 武宏昌;陳志忠;譚海斌;林飛;高學(xué)文;張偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳精創(chuàng)視覺科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市龍華區(qū)龍華*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)量模組 待測(cè)樣品 自動(dòng)化測(cè)量裝置 方向位移 控制模組 測(cè)量 光學(xué)膜 幅寬 模組 應(yīng)用前景廣闊 測(cè)量精度高 數(shù)據(jù)一致性 玻璃 測(cè)量過程 測(cè)量效率 傳統(tǒng)方式 幅寬測(cè)量 光學(xué)檢測(cè) 人工測(cè)量 人工成本 人力物力 使用性能 樣品表面 產(chǎn)業(yè)用 省時(shí) 省力 自動(dòng)化 | ||
本發(fā)明屬于光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及玻璃及光學(xué)膜產(chǎn)業(yè)用高精度幅寬自動(dòng)化測(cè)量裝置,包括機(jī)架以及設(shè)置在機(jī)架上的測(cè)量平臺(tái)、測(cè)量模組、X軸位移模組、控制模組,使用時(shí)將待測(cè)樣品放置在測(cè)量平臺(tái)中,控制模組控制X軸位移模組帶動(dòng)測(cè)量模組進(jìn)行X軸方向位移,測(cè)量模組在X軸方向位移過程中完成對(duì)測(cè)量平臺(tái)中待測(cè)樣品的幅寬測(cè)量,測(cè)量過程不必與待測(cè)樣品接觸,不會(huì)對(duì)待測(cè)樣品表面造成劃損,能夠有效提高玻璃及光學(xué)膜等待測(cè)樣品的品質(zhì)及使用性能,本發(fā)明可以實(shí)時(shí)得到精確的測(cè)量結(jié)果,自動(dòng)化程度高,省時(shí)省力,人工成本低,節(jié)省大量人力物力,測(cè)量效率高,能夠有效避免傳統(tǒng)方式因人工測(cè)量導(dǎo)致的測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù)一致性差的缺陷,測(cè)量精度高,應(yīng)用前景廣闊。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及玻璃及光學(xué)膜產(chǎn)業(yè)用高精度幅寬自動(dòng)化測(cè)量裝置。
背景技術(shù)
眾所周知,在光學(xué)行業(yè)中,玻璃制品及光學(xué)膜產(chǎn)品在光學(xué)產(chǎn)品中占據(jù)著很高的比例,在玻璃制品及光學(xué)膜產(chǎn)品的加工制造過程中,對(duì)玻璃制品及光學(xué)膜產(chǎn)品的幅寬指標(biāo)進(jìn)行控制是至關(guān)重要的一步。隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)生產(chǎn)的高速發(fā)展,人們對(duì)測(cè)量要求也越來越高,并開始向著高速、高精度、小型化、智能化等方面發(fā)展,尤其是在科技高速發(fā)展的今天,對(duì)零件尺寸測(cè)量精度要求越來越高。
在人類的日常生活中,測(cè)量占據(jù)了舉足輕重的地位。在傳統(tǒng)測(cè)量領(lǐng)域里,玻璃制品及光學(xué)膜產(chǎn)品的幅寬測(cè)量是在線下另行完成的,且以卷尺、鋼尺等接觸式測(cè)量為主,這種檢測(cè)方式主要存在以下幾種缺陷:(1)檢測(cè)過程需要耗費(fèi)大量人力物力,人工成本高,費(fèi)時(shí)費(fèi)力,檢測(cè)效率低,無法進(jìn)行快速在線測(cè)量,更無法根據(jù)在線測(cè)量結(jié)果對(duì)玻璃及光學(xué)膜進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控和調(diào)整,不能滿足現(xiàn)代社會(huì)規(guī)模化生產(chǎn)要求;(2)檢測(cè)精度低,測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)制程的反饋嚴(yán)重滯后,不利于玻璃及光學(xué)膜產(chǎn)品品質(zhì)的提升,而且傳統(tǒng)的測(cè)量方式常常由于測(cè)量者不同得到的結(jié)果也不一樣,測(cè)量結(jié)果的一致性很差,導(dǎo)致玻璃及光學(xué)膜的質(zhì)量不穩(wěn)定;(3)檢測(cè)范圍有限,對(duì)于大尺寸的玻璃及光學(xué)膜的幅寬測(cè)量,難以通過卷尺、鋼尺等傳統(tǒng)檢測(cè)方式獲得高精度的測(cè)量結(jié)果;(4)由于傳統(tǒng)檢測(cè)方式主要是通過接觸式測(cè)量,檢測(cè)過程中容易對(duì)玻璃及光學(xué)膜等待檢樣品表面造成劃損,影響玻璃及光學(xué)膜的使用性能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種測(cè)量效率高、測(cè)量范圍廣、測(cè)量精度高、省時(shí)省力且不會(huì)對(duì)待測(cè)樣品造成劃損的高精度幅寬自動(dòng)化測(cè)量裝置。
本發(fā)明解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足所采用的技術(shù)方案是:
一種高精度幅寬自動(dòng)化測(cè)量裝置,其特征在于,包括:
機(jī)架,用于承載設(shè)置在其上的模組,所述機(jī)架上方設(shè)有測(cè)量平臺(tái),所述測(cè)量平臺(tái)上供承載待測(cè)樣品;
測(cè)量模組,架設(shè)在所述機(jī)架上方,用于對(duì)測(cè)量平臺(tái)中的待測(cè)樣品進(jìn)行幅寬測(cè)量;
X軸位移模組,設(shè)置在所述機(jī)架兩側(cè),用于驅(qū)動(dòng)所述測(cè)量模組進(jìn)行X軸方向位移;
控制模組,分別與所述測(cè)量模組、X軸位移模組電性連接。
優(yōu)選的,本發(fā)明中所述測(cè)量模組是在所述測(cè)量平臺(tái)上方架設(shè)有測(cè)量架,所述測(cè)量架上設(shè)有Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu),所述Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上設(shè)有能夠在所述Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行Y軸方向位移的取像元件,所述取像元件用于對(duì)所述測(cè)量平臺(tái)中的待測(cè)樣品圖像進(jìn)行采集。通過利用取像元件對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行圖像采集,避免測(cè)量過程中與待測(cè)樣品接觸對(duì)待測(cè)樣品表面造成劃損,能夠有效提高玻璃及光學(xué)膜等待測(cè)樣品的品質(zhì)及使用性能,由于取像元件可以在Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行Y軸方向位移,因而可以適用于任意尺寸的待測(cè)樣品,應(yīng)用范圍廣。
優(yōu)選的,本發(fā)明中所述Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置有兩個(gè),且兩個(gè)所述Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)相接設(shè)置在所述測(cè)量架上。通過相接設(shè)置兩個(gè)Y軸運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)分別帶動(dòng)兩個(gè)取像元件進(jìn)行Y軸方向移動(dòng),可以方便快捷的同時(shí)采集待測(cè)樣品的幅寬圖像,提高測(cè)量精度和測(cè)量效率。
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