[發(fā)明專利]在X線片上測量髖臼假體前傾角的測量裝置及測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810038910.7 | 申請日: | 2018-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN108225144A | 公開(公告)日: | 2018-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 肖何;王健;吳宣平 | 申請(專利權(quán))人: | 肖何;王健;吳宣平 |
| 主分類號: | G01B3/56 | 分類號: | G01B3/56;A61B5/107 |
| 代理公司: | 廣州中瀚專利商標(biāo)事務(wù)所 44239 | 代理人: | 蓋軍 |
| 地址: | 510515 廣東省廣州市白云區(qū)廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 準(zhǔn)線 長軸 游標(biāo) 前傾角 中分線 底板 測量裝置 測量 轉(zhuǎn)盤 髖臼假體 印刻 轉(zhuǎn)軸 垂直 活動連接 透明材料 轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動 垂線 對稱 | ||
本發(fā)明提出了一種能夠快速、準(zhǔn)確、方便地在X線片上地測量髖臼假體前傾角的測量裝置及測量方法。該測量裝置包括均由透明材料制成的底板、長軸游標(biāo)、定比游標(biāo)和交點轉(zhuǎn)盤,所述底板設(shè)有縱向延伸的中分線,中分線兩側(cè)分別對稱設(shè)有頂點準(zhǔn)線,并在一側(cè)的頂點準(zhǔn)線與中分線之間設(shè)有定比準(zhǔn)線;長軸游標(biāo)設(shè)有垂直于底板中分線的長軸準(zhǔn)線;定比游標(biāo)設(shè)有垂直于長軸準(zhǔn)線的定比垂線;交點轉(zhuǎn)盤通過位于長軸準(zhǔn)線上的轉(zhuǎn)軸與長軸游標(biāo)活動連接,交點轉(zhuǎn)盤上設(shè)有一條經(jīng)過轉(zhuǎn)軸的交點準(zhǔn)線;長軸游標(biāo)在交點轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動時交點準(zhǔn)線經(jīng)過的區(qū)域印刻有前傾角刻度,所述前傾角刻度的刻度值θ印刻于交點準(zhǔn)線與長軸準(zhǔn)線成角度為γ的位置,其中:
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及到一種在X線片上測量髖臼假體前傾角的測量裝置及測量方法。
背景技術(shù)
骨科臨床實踐中,全髖關(guān)節(jié)置換術(shù)后的髖臼假體前傾角是評估手術(shù)效果重要指標(biāo)。前傾角測量的金標(biāo)準(zhǔn)是骨盆三維CT重建下的測量,而CT并不是髖關(guān)節(jié)置換術(shù)后必須的、常規(guī)的檢查項目,具有花費高,技術(shù)相對復(fù)雜,電離輻射對人體傷害大等缺點。為解決上述問題,醫(yī)生傾向于在X線片上測量髖臼前傾角,不僅能提高臨床工作效率,也能為患者省去CT檢查,減少患者的花費和放射性傷害。
髖臼外杯假體的開口是圓形,在前后位X線片上的投影為橢圓(以下簡稱“髖臼橢圓”),根據(jù)定義,髖臼橢圓半短軸與半長軸的比值的反正弦函數(shù)即為該髖臼假體的影像前傾角。髖臼橢圓的長軸通常可在X線片上直接測量,然而,髖臼橢圓的短軸頂點常常被股骨假體遮擋重合,因而無法在X線上直接測量半短軸長度。目前在X線片上測量髖臼前傾角的方法可分為兩類,第一類是先根據(jù)橢圓曲線特征估計并繪出髖臼橢圓被股骨假體遮擋的部分,再測量半長軸和半短軸長度從而計算前傾角,此類方法被遮擋的曲線是通過估計補充的,不夠準(zhǔn)確,并且計算過程涉及反三角函數(shù),需要科學(xué)計算器;第二類是根據(jù)經(jīng)長軸分為一定比例的兩條線段的點(定比分點)作垂線,測量長軸長度及經(jīng)定比分點的長軸垂線與髖臼橢圓交點的距離,根據(jù)橢圓解析方程求出半短軸長度,再由反三角函數(shù)計算出前傾角,此類方法不但需要科學(xué)計算器,而且需要測量多個數(shù)值,過程復(fù)雜,測量誤差累加。目前尚無在既不需要計算也不需要估測髖臼橢圓被遮擋部分的輪廓的前提下,快速、準(zhǔn)確地測量前后位X線片上的髖臼假體影像學(xué)前傾角的方法或工具。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提出一種能夠快速、準(zhǔn)確、方便地在X線片上地測量髖臼假體前傾角的測量裝置及測量方法。
本發(fā)明的在X線片上測量髖臼假體前傾角的測量裝置包括均由透明材料制成的底板、長軸游標(biāo)、定比游標(biāo)和交點轉(zhuǎn)盤,所述底板設(shè)有縱向延伸的中分線,中分線兩側(cè)分別對稱設(shè)有頂點準(zhǔn)線,并在一側(cè)的頂點準(zhǔn)線與中分線之間設(shè)有定比準(zhǔn)線,所述定比準(zhǔn)線及頂點準(zhǔn)線上的點與中分線的距離是從定比準(zhǔn)線及頂點準(zhǔn)線的一端到另一端漸變的,且定比準(zhǔn)線、頂點準(zhǔn)線上的對應(yīng)點與中分線的距離的比例是預(yù)定的固定值,所述定比準(zhǔn)線及頂點準(zhǔn)線上的對應(yīng)點為同一條垂直于中分線的垂線分別與定比準(zhǔn)線、頂點準(zhǔn)線相交的點;所述長軸游標(biāo)設(shè)有垂直于底板中分線的長軸準(zhǔn)線;所述定比游標(biāo)設(shè)有垂直于長軸準(zhǔn)線的定比垂線;所述交點轉(zhuǎn)盤通過位于長軸準(zhǔn)線上的轉(zhuǎn)軸與長軸游標(biāo)活動連接,所述交點轉(zhuǎn)盤上設(shè)有一條經(jīng)過轉(zhuǎn)軸的交點準(zhǔn)線;所述長軸游標(biāo)在交點轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動時交點準(zhǔn)線經(jīng)過的區(qū)域印刻有前傾角刻度,所述前傾角刻度的刻度值θ印刻于交點準(zhǔn)線與長軸準(zhǔn)線成角度為γ的位置,其中:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于肖何;王健;吳宣平,未經(jīng)肖何;王健;吳宣平許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810038910.7/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 電子元器件的厚度測定方法、電子元器件卷盤及其制造方法、以及電子元器件的檢查裝置
- 一種簡易椅背標(biāo)準(zhǔn)線對齊測試裝置
- 在X線片上測量髖臼假體前傾角的測量裝置及測量方法
- 一種基于負(fù)荷準(zhǔn)線的高比例新能源消納方法
- 圖像處理裝置、駕駛支援系統(tǒng)及記錄介質(zhì)
- 一種用于目標(biāo)方位預(yù)測的非線性瞄準(zhǔn)線建模方法
- 一種鋼結(jié)構(gòu)的組裝方法
- 一種基于分布式多存儲服務(wù)的循環(huán)存儲方法和系統(tǒng)
- 一種便于檢測鋼筋插入深度的半灌漿套筒
- 一種應(yīng)用于水工建筑物水平位移監(jiān)測視準(zhǔn)線法的測量裝置





