[發(fā)明專利]高分辨地電阻率快速成像方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810038410.3
• 申請日: 2018-01-16
• 公開（公告）號: CN108169801B
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馬濤;王紅兵;蘇建黎;吳中州;楊寶健;王宗旭;譚鑫;陳婷;高鑫;崔雷;李良泉
• 申請（專利權(quán)）人: 陜西鐵道工程勘察有限公司
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38
• 代理公司: 西安新思維專利商標事務(wù)所有限公司 61114
• 代理人: 李罡

1.高分辨地電阻率快速成像方法，其特征在于：

包括以下步驟：

(1)高分辨地電阻率圖像重建的反演，在常規(guī)佐迪反演方法的基礎(chǔ)上，對反演得到的電阻率曲線進行微分運算，繪制GDS～Z圖，實現(xiàn)微分成像；

(2)高分辨地電阻率快速成像，針對三層地電模型，在達扎諾克反演法的基礎(chǔ)上，分別對四種不同達扎諾克反演曲線進行校正系數(shù)的擬合，通過非線性最小二乘擬合函數(shù)1squcurvefit擬合出第一層和第二層的校正系數(shù)繪制GDS～Z圖，實現(xiàn)微分成像；

其中：

高分辨地電阻率圖像重建的反演的步驟包括：

建立初始模型；

確定各層的深度；

利用正演公式，計算電阻率變換函數(shù)T_L(k)，其中k為采樣點，k＝1,2,3...M,M為實測電阻率變換函數(shù)T₁(k)的采樣數(shù)；

構(gòu)建極小目標函數(shù)δ；

得到滿足δ極小的最佳步長矢量ΔP，然后對Pⁱ進行校正，求得Pⁱ⁺¹點，其中Pⁱ為第i次迭代之初始值，Pⁱ⁺¹＝Pⁱ+ΔP；

反復(fù)迭代，逐次逼近，使T_L(k,Pⁱ)真正接近于T₁(k)，從而求得更精確的ΔP；

得到反演結(jié)果，繪制ρ(z)～z曲線，其中z為深度，ρ(z)為深度z處的電阻率值；

求取GDS值；

繪制GDS～z曲線，也即曲線；

采用滑動光滑技術(shù)和三次樣條函數(shù)插值對數(shù)據(jù)進行復(fù)構(gòu)；然后，對重構(gòu)以后的數(shù)據(jù)進行高密度采樣，最后實現(xiàn)微分成像；

高分辨地電阻率快速成像的步驟包括：

把實測電測深曲線ρ_s(r)～r看為達扎諾克曲線

計算

計算深度z及相應(yīng)的電阻率；

繪ρ(z)～z曲線；

構(gòu)建自適應(yīng)系數(shù)的關(guān)系式；

導(dǎo)出自適應(yīng)校正系數(shù)；

通過校正系數(shù)對ρ(z)～z曲線進行校正，重新生成ρ(z)～z曲線；

求取GDS值；

繪制GDS～z曲線，也即曲線；

采用滑動光滑技術(shù)和三次樣條函數(shù)插值對數(shù)據(jù)進行復(fù)構(gòu)；然后，對重構(gòu)以后的數(shù)據(jù)進行高密度采樣，最后實現(xiàn)GDS微分成像。