[發明專利]一種千分尺示值檢具

在審

• 申請號: 201810036703.8
• 申請日: 2018-01-15
• 公開（公告）號: CN108168394A
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發明（設計）人: 汪先根;王婷
• 申請（專利權）人: 成都成量工具集團有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B3/18
• 代理公司: 成都高遠知識產權代理事務所(普通合伙) 51222
• 代理人: 李安霞;曾克

本發明公開一種千分尺示值檢具，屬于量具檢具領域，包括撐架和支架，所述支架一端設有第一螺紋孔，第一螺紋孔水平，第一螺紋孔設有調節螺桿，調節螺桿上設有鎖緊螺母，所述撐架的一端通過銷軸與支架鉸接，支架另一端、撐架另一端均設有開口槽，開口槽相對的兩端均設有第二螺紋孔，第二螺紋孔設有夾緊螺桿，銷軸平行于第二螺紋孔，第二螺紋孔軸線垂直于第一螺紋孔軸線，第二螺紋孔軸線與第一螺紋孔軸線在水平面內的投影互相垂直。本發明能快速精準檢定千分尺測微頭示值誤差，代替了組合塊規式檢測，對提高效率有極大作用。

技術領域

本發明涉及量具檢具領域，尤其涉及一種千分尺示值檢具。

背景技術

常規的，大型外徑千分尺的示值誤差在檢測時，需要用大尺寸塊規或組合塊規進行外徑千分尺示值誤差的檢測，由于塊規尺寸越大，其制造誤差也相應的增大，其精度偏低，進而使組合塊規的綜合誤差較大；且用大尺寸塊規或組合塊規操作起來非常不方便，由于尺寸越大越不易端平，因此不能進行準確的測量，進而產生測量誤差；此外，用大尺寸塊規或組合塊規檢測時間長，需要進行多次測量來確定示值誤差，其工作效率低下。

發明內容

本發明旨在提供一種千分尺示值檢具，用于解決現有的外徑千分尺在使用大尺寸塊規或組合塊規進行示值誤差的檢測時存在的誤差大、使用不方便的問題。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案如下：一種千分尺示值檢具，包括撐架和支架，所述支架一端設有第一螺紋孔，第一螺紋孔水平，第一螺紋孔設有調節螺桿，調節螺桿上設有鎖緊螺母，所述撐架的一端通過銷軸與支架鉸接，支架另一端、撐架另一端均設有開口槽，開口槽相對的兩端均設有第二螺紋孔，第二螺紋孔均設有夾緊螺桿，銷軸平行于第二螺紋孔，第二螺紋孔軸線垂直于第一螺紋孔軸線，第二螺紋孔軸線與第一螺紋孔軸線在水平面內的投影互相垂直。

優選的，所述調節螺桿、夾緊螺桿頭端均設有圓盤，圓盤直徑大于螺紋直徑，圓盤側壁設有防滑紋。

進一步的，所述調節螺桿、夾緊螺桿均為滾花手擰螺桿。

優選的，所述鎖緊螺母側壁設有防滑紋。

進一步的，所述調節螺桿尾端安裝有鋼球。

進一步的，所述夾緊螺桿的尾端設有壓塊。

優選的，所述夾緊螺桿的尾端設有內螺紋，所述壓塊設有通孔，通孔為沉頭孔，通孔內設有壓緊螺釘，壓緊螺桿與夾緊螺桿尾端的內螺紋相適配。

優選的，所述壓塊為錳黃銅。

本發明的有益效果為：

1、支架另一端、撐架另一端開口槽及夾緊螺桿的設置，能夠保證本發明的檢具穩定的夾持在千分尺本體上；

2、支架一端第一螺紋孔及調節螺桿的設置，具有調節長度的作用。

附圖說明

圖1為本發明主視、俯視結構示意圖；

圖2為支架主視、俯視結構示意圖；

圖3為撐架主視、俯視結構示意圖；

圖4為調節螺桿結構示意圖；

圖5為夾緊螺桿結構示意圖；

圖6為鎖緊螺母結構示意圖；

圖7為壓塊結構示意圖；

圖8為壓緊螺釘結構示意圖。

圖中：1-撐架、2-銷軸、3-調節螺桿、4-鎖緊螺母、5-支架、6-鋼球、7-夾緊螺桿、8-壓塊、9-壓緊螺釘、10-量塊、11-千分尺、30-第一螺紋孔、70-第二螺紋孔。

具體實施方式