[發明專利]一種基于X射線源的密度測井方法有效

申請號：	201810033536.1	申請日：	2018-01-15
公開（公告）號：	CN108222927B	公開（公告）日：	2021-05-25
發明（設計）人：	張鋒;田立立;李亞芬;王陽;趙靚;邱飛;陳前	申請（專利權）人：	中國石油大學（華東）
主分類號：	E21B49/00	分類號：	E21B49/00
代理公司：	青島智地領創專利代理有限公司 37252	代理人：	陳海濱
地址：	266580 山東省青島***	國省代碼：	山東;37
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	一種基于射線密度測井方法
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【說明書】：

本發明提供了一種基于X射線源的密度測井方法，包括測井儀器，測井儀器設置在井眼中，井眼的周圍為地層，測井儀器在井眼中進行連續深度的測量，測井儀器包括NaI探測器，NaI探測器的下端連接有鎢鎳鐵屏蔽體，鎢鎳鐵屏蔽體的下端連接有X射線源。本方法通過X射線源連續向地層發射X射線，NaI探測器探測X射線譜，并選取一定范圍的X射線計數，根據地層密度和X射線計數響應規律，計算地層密度。該基于X射線源的密度測井方法與現有的伽馬源進行密度測井的方式相比，避免了輻射危害，提供了一種安全可控性密度測井方法，對地層密度測量更加精確。

技術領域

本發明涉及地質勘探領域，具體涉及一種基于X射線源的密度測井方法。

背景技術

目前密度測井一般利用Cs-137伽馬源發射的伽馬射線照射地層，根據光電效應和康普頓效應測量地層的體積密度。目前，密度測井是確定地層密度最有效的測井方法之一，在識別地層巖性、計算物性參數、劃分儲集層等方面發揮了重要作用，是電纜測井方法中的必測項目。但是，現有的采用伽馬源進行密度測井的方式，對環境和操作人員會造成輻射危害，且在密度響應靈敏度、測量精度方面有待提高。

發明內容

針對現有伽馬源進行密度測井的方式，存在的輻射危害和靈密度低、精度低的問題，本發明提供了一種基于X射線源的密度測井方法。

一種基于X射線源的密度測井方法，包括測井儀器，測井儀器包括NaI探測器，NaI探測器的下端連接有鎢鎳鐵屏蔽體，鎢鎳鐵屏蔽體的下端連接有X射線源；

利用測井儀器進行地層密度測井的步驟包括：

步驟1：將測井儀器放置在井眼中，X射線源連續向地層發射X射線，NaI探測器探測0-0.4MeV能量范圍內的X射線譜；

步驟2：選取能量范圍為0.1-0.2MeV范圍的X射線計數；

步驟3：在刻度井中獲取地層密度與0.1-0.2MeV范圍的X射線計數響應規律，計算地層密度。

優選地，所述X射線源采用能量為0.15MeV的分布源。

優選地，所述X射線源的發射強度為30Ci。

優選地，所述刻度井中地層密度與0.1-0.2MeV范圍X射線計數的自然對數成線性關系。

本發明具有的有益效果是：

本發明提供的基于X射線源的密度測井方法，利用X射線源進行井下密度測量，與現有的伽馬源進行密度測井的方式相比，避免了輻射危害，提供了一種安全可控性密度測井方法，對地層密度測量更加精確。