[發(fā)明專利]場(chǎng)效應(yīng)晶體管及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810028656.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108389890B | 公開(公告)日: | 2022-01-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃賢國(guó);宋洵奕;王猛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 矽力杰半導(dǎo)體技術(shù)(杭州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡純;張靖琳 |
| 地址: | 310012 浙江省杭州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 場(chǎng)效應(yīng) 晶體管 及其 制造 方法 | ||
1.一種場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,包括:
襯底;
第一阱區(qū),位于所述襯底上;
第二阱區(qū)、位于所述第一阱區(qū)內(nèi);
體接觸區(qū)、源區(qū)和漏區(qū),位于所述第一阱區(qū)內(nèi),所述源區(qū)位于所述體接觸區(qū)與所述漏區(qū)之間;以及
柵極導(dǎo)體,位于所述第一阱區(qū)上,
其中,所述襯底、第一阱區(qū)、所述第二阱區(qū)和體接觸區(qū)為第一摻雜類型,所述源區(qū)和漏區(qū)為第二摻雜類型,所述第二阱區(qū)的摻雜濃度高于所述第一阱區(qū)的摻雜濃度,
在所述第一阱區(qū)中所述源區(qū)與所述漏區(qū)之間形成溝道,所述第二阱區(qū)形成寄生三極管的基區(qū)以減小所述寄生三極管的基區(qū)電阻,且所述第二阱區(qū)不影響所述溝道。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述第二阱區(qū)至少位于在所述體接觸區(qū)與所述源區(qū)之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,通過調(diào)節(jié)所述第一阱區(qū)的摻雜濃度來調(diào)節(jié)所述場(chǎng)效應(yīng)晶體管的擊穿電壓,以及通過調(diào)節(jié)所述第二阱區(qū)的摻雜濃度來調(diào)節(jié)所述場(chǎng)效應(yīng)晶體管的維持電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述第一摻雜類型為N型和P型之一,所述第二摻雜類型為N型和P型中另一個(gè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,所述場(chǎng)效應(yīng)晶體管的擊穿點(diǎn)發(fā)生在所述漏區(qū)與所述第一阱區(qū)交界處。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述第二阱區(qū)位于所述體接觸區(qū)與所述源區(qū)之間,所述體接觸區(qū)以及所述源區(qū)位于所述第一阱區(qū)內(nèi),所述柵極導(dǎo)體位于所述第一阱區(qū)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述體接觸區(qū)位于所述第二阱區(qū)內(nèi),所述源區(qū)位于所述第一阱區(qū)內(nèi),所述柵極導(dǎo)體位于所述第一阱區(qū)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述體接觸區(qū)位于所述第二阱區(qū)內(nèi),所述源區(qū)位于所述第一阱區(qū)以及第二阱區(qū)內(nèi),所述柵極導(dǎo)體位于所述第一阱區(qū)上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述體接觸區(qū)以及所述源區(qū)位于所述第二阱區(qū)內(nèi),所述源區(qū)靠近所述柵極導(dǎo)體的一邊與所述第二阱區(qū)靠近所述柵極導(dǎo)體的一邊接近,使得所述柵極導(dǎo)體位于所述第一阱區(qū)上。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述第二阱區(qū)比所述體接觸區(qū)深。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,所述體接觸區(qū)、所述源區(qū)以及所述漏區(qū)的上表面暴露于所述阱區(qū)之外。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,通過柵介質(zhì)層將所述柵極導(dǎo)體的下表面與所述阱區(qū)的上表面隔開。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,在所述體接觸區(qū)與所述源區(qū)之間、所述體接觸區(qū)與所述場(chǎng)效應(yīng)晶體管的邊緣之間、所述漏區(qū)與所述場(chǎng)效應(yīng)晶體管的邊緣之間還設(shè)有絕緣層。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場(chǎng)效應(yīng)晶體管,其中,還包括:
N阱區(qū),位于所述襯底和阱區(qū)之間。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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