[發明專利]一種基于數據壓縮技術的時間序列信號存儲測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201810026072.1
• 申請日: 2018-01-11
• 公開（公告）號: CN108198585A
• 公開（公告）日: 2018-06-22
• 發明（設計）人: 周繼昆;張榮;鄧婷
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院總體工程研究所
• 主分類號: G11C11/22
• 分類號: G11C11/22;G11C29/40
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 楊春

本發明屬于嵌入式存儲測試及數據壓縮技術領域，具體公開一種基于數據壓縮技術的時間序列信號存儲測試裝置及方法，該裝置可以準確有效的記錄電子學系統產生的一系列時間動作信號，并提出了一種數據壓縮存儲算法，采用這種算法進行數據存儲，可以極大的減少裝置對存儲器容量的開銷，該裝置具有測量精度高、體積小、功耗低、攜帶方便、存儲時間長等優點。

技術領域

本發明屬于嵌入式存儲測試及數據壓縮技術領域，具體公開一種基于數據壓縮技術的時間序列信號存儲測試裝置及方法。

背景技術

在彈從發射到碰靶的過程中，彈載控制系統通常需要發出一系列作動信號來實現相關動作，如：發動機點火信號、爆炸螺栓起爆信號、時序控制信號、計數器周期信號等。為了檢驗彈載控制系統是否在規定的時間點給出相應信號，通常采用彈載時間序列信號存儲測試裝置來記錄這些時間作動信號的電平特征，待碰靶回收后，讀取裝置中的數據可以作為評估彈載控制是否正常工作的依據。

現有的彈載時間序列信號存儲測試裝置通常以5-10倍于被測信號的采樣率對被測信號進行采樣，然后順序的將每一個采樣結果存儲到存儲器中，待彈碰靶后回讀存儲器中的數據。由于數據存儲過程中并未對信號進行壓縮處理，若彈的飛行時間太長或被測信號的頻率較高，需要存儲的數據量就會很大，通常需要選擇NAND FLASH大容量存儲器來對采集到的數據進行存儲。但NAND FLASH存儲器會隨機出現壞塊，如果在讀取數據時，存儲器中存儲的存儲有效數據段的存儲塊損壞，則會丟失一部分有效數據，對試驗結果造成誤判。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種基于數據壓縮技術的時間序列信號存儲測試裝置及方法，可以有效提高存儲測試裝置的可靠性和降低裝置的功耗。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：

一種基于數據壓縮技術的時間序列信號存儲測試裝置，包括：

光電隔離器，用于將輸入的多通道時間序列信號轉換為標準電平數字信號；

CPLD器件，與所述光電隔離器連接，用于讀取標準電平數字信號的高低電平，并將讀取到的高低電平按數據壓縮算法進行編碼；

鐵電存儲器，與所述CPLD器件連接，用于存儲編碼后的數據；

數據回讀模塊，與所述CPLD器件連接，用于將存儲的數據傳輸到上位機，由上位機對時間序列信號進行恢復還原并顯示。

本發明的有益效果是：針對現有測試裝置的不足，提出一種針對時間序列信號的數據壓縮算法，并基于該算法設計了時間序列信號存儲測試裝置。由于采用了數據壓縮算法，該裝置采用鐵電存儲器作為存儲介質即可滿足對存儲容量的需求，鐵電存儲器擁有高速讀寫，超低功耗和無限次寫入等特性，且不會產生壞塊，可以有效提高存儲測試裝置的可靠性和降低裝置的功耗。

在上述技術方案的基礎上，本發明還可以做如下改進。

進一步，所述數據回讀模塊包括穩壓芯片U8，以及與所述穩壓芯片U8連接的USB接口芯片U12和USB接口P5。

采用上述進一步方案的有益效果是：可熱插拔，使用方便。

進一步，所述鐵電存儲器型號為FM22L16。

采用上述進一步方案的有益效果是：使得測試裝置具有高速讀寫，超低功耗和無限次寫入等特性。