[發(fā)明專利]用于分析測量區(qū)域的方法和微型光譜儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810023301.4 | 申請日: | 2018-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN108303387B | 公開(公告)日: | 2022-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | B.施泰因;C.舍林;F.米歇爾;M.赫默斯多夫;M.胡斯尼克;R.諾爾特邁爾 | 申請(專利權(quán))人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 宣力偉;鄧雪萌 |
| 地址: | 德國斯*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 分析 測量 區(qū)域 方法 微型 光譜儀 | ||
1.用于在考慮到光譜評估(14)至少一個單個測量(11'、11''、11'''、11'''')的情況下分析測量區(qū)域(5)的方法(10),其中所述單個測量(11'、11''、11'''、11'''')具有如下步驟:
?以電磁射束輻射(110'、110'')測量區(qū)域(5)的物體(5''),
?光譜測定地測量(111)來自測量區(qū)域的射束(501),
其特征在于,為了分析測量區(qū)域(5)執(zhí)行至少兩個單個測量(11'、11''、11'''、11''''),其中
?針對第一單個測量(11')利用第一射束分布以電磁射束輻射(110')物體(5'')并且通過光譜測定地測量(111)來自測量區(qū)域的第一射束來提供第一光譜測定的探測器信號(111'),
?針對第二單個測量(11'')利用與第一射束分布不同的第二射束分布以電磁射束輻射(110'')物體(5'')并且通過光譜測定地測量(111)來自測量區(qū)域的第二射束來提供第二光譜測定的探測器信號(111''),
?通過比較(12)第一光譜測定的探測器信號(111')和第二光譜測定的探測器信號(111'')獲知比較值(12'、121'),其中所述比較值(12'、121')是針對存在至少部分包圍物體的介質(zhì)上的直接反射的指示器,并且
?為了光譜評估(14),根據(jù)所述比較值(12'、121')選出(13)光譜測定的探測器信號(111'、111''),用以分析測量區(qū)域(5)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(10),其特征在于,所述第一光譜測定的探測器信號(111')和所述第二光譜測定的探測器信號(111'')分別包括光子強度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法(10),其特征在于,所述第一光譜測定的探測器信號(111')和所述第二光譜測定的探測器信號(111'')在時間上錯開地被測量單元(7)記錄。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法(10),其特征在于,所述比較值(12'、121')是第一光學(xué)測定的探測器信號(111')和第二光學(xué)測定的探測器信號(111'')的標(biāo)準(zhǔn)化的相對差信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法(10),其特征在于,在表明存在直接反射的比較值(12')的情況下,
?帶有第一值的光譜測定的探測器信號(131')為了確定(141)介質(zhì)(5')的光譜信息(141')被評估,在所述介質(zhì)上發(fā)生直接反射,其中所述值是針對被探測的電磁射束的量度,并且其中所述第一值大于另外的探測器信號(132')的第二值,并且
?帶有小于第一值的第二值的另外的光譜測定的探測器信號(132')為了確定(142)物體(5'')的光譜信息(142')被評估。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法(10),其特征在于,在不明確的比較值(12'、121')的情況下,由測量單元(7)探測到的射束強度是針對存在直接反射的另外的指示器(122'),并且根據(jù)所述另外的指示器(122')進(jìn)行光譜評估(14)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法(10),其特征在于,在不明確的比較值(12'、121')的情況下,
?當(dāng)所述射束強度具有射入測量區(qū)域的電磁射束的強度的0.2%或5%的值或者在0.2%與5%之間的值時,兩個光譜測定的探測器信號(111'、111'')適用于獲知(142)物體(5'')的光譜信息(142'),或者
?當(dāng)所述射束強度具有射入測量區(qū)域的電磁射束的強度的10%或100%的值或者在10%與100%之間的值時,丟棄所述兩個光譜測定的探測器信號(111'、111'')。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法(10),其特征在于,
?光譜評估(14)不存在直接反射的光譜測定的探測器信號(132'),用以獲知(142)物體(5'')的光譜信息(142'),并且
?丟棄(16)存在直接反射的光譜測定的探測器信號(131')。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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