[發明專利]一種便攜式粒形粒度檢測方法及系統有效
| 申請號: | 201810022873.0 | 申請日: | 2018-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN108335310B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 楊建紅;房懷英;朱合軍;范偉;黃文景;林偉端;余文 | 申請(專利權)人: | 華僑大學;福建南方路面機械有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/13 | 分類號: | G06T7/13;G06T7/12;G06T7/40;G06T7/42;G06T5/10 |
| 代理公司: | 廈門市首創君合專利事務所有限公司 35204 | 代理人: | 張松亭 |
| 地址: | 362000 福建省*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 便攜式 粒度 檢測 方法 系統 | ||
1.一種便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,包括:
接收移動終端攝像頭正投影方向拍攝的正方形內顆粒的圖像;
根據所述正方形的尺寸對粒徑進行標定;
對所述圖像依次進行邊緣檢測法、圖像二值化法、圖像分割法和數學形態學法處理,提取圖像外輪廓;
根據提取的外輪廓,使用粒徑算法獲取定方向徑、定方向等分徑和定向最大徑;
根據提取的外輪廓,使用盒維數法或功率譜法獲得分形維數;
根據提取的外輪廓,通過顆粒的外接橢圓來測定顆粒的扁平率,具體通過用長軸長與短軸長之比來描述顆粒的扁平率;
根據提取的外輪廓,通過輪廓濾波方法獲得表面紋理粗糙度;
通過所述分形維數和粗糙度定量的表征顆粒的棱角性。
2.根據權利要求1所述的便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,還包括:對所述定方向徑、定方向等分徑、定向最大徑、分形維數、長軸長、短軸長、扁平率、紋理粗糙度及棱角性進行顯示。
3.根據權利要求2所述的便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,所述定方向徑、定方向等分徑和定向最大徑可通過數據顯示和/或顆粒直方分布圖顯示。
4.根據權利要求1所述的便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,通過水平儀檢測法使移動終端攝像頭為正投影方向拍攝。
5.根據權利要求1所述的便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,所述邊緣檢測法采用Sobel進行邊緣檢測,使用一個3*3的濾波器來對圖像進行濾波從而得到梯度圖像。
6.根據權利要求1所述的便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,所述盒維數法的計算公式如下:
其中,ε是小立方體一邊的長度,N(ε)是用此小立方體覆蓋被測形體所得的數目,維數公式意味著通過用邊長為ε的小立方體覆蓋被測形體來確定形體的維數。
7.根據權利要求1所述的便攜式粒形粒度檢測方法,其特征在于,所述輪廓濾波方法包括傅里葉變換法、Gabor變換法或小波變換法。
8.一種便攜式粒形粒度檢測系統,其特征在于,包括:
顆粒圖像獲取模塊,用于接收移動終端攝像頭正投影方向拍攝的正方形內顆粒的圖像;
固定尺寸標定模塊,用于根據所述正方形的尺寸對粒徑進行標定;
外輪廓提取模塊,用于對所述圖像依次進行邊緣檢測法、圖像二值化法、圖像分割法和數學形態學法處理,提取圖像外輪廓;
粒徑檢測模塊,用于根據提取的外輪廓,使用粒徑算法獲取定方向徑、定方向等分徑和定向最大徑;
分形維數檢測模塊,用于根據提取的外輪廓,使用盒維數法獲得分形維數;
扁平率檢測模塊,用于根據提取的外輪廓,通過顆粒的外接橢圓來測定顆粒的扁平率,具體通過用長軸長與短軸長之比來描述顆粒的扁平率;
表面紋理檢測模塊,用于根據提取的外輪廓,通過輪廓濾波方法獲得表面紋理粗糙度;
棱角性檢測模塊,用于通過所述分形維數和粗糙度定量的表征顆粒的棱角性。
9.根據權利要求8所述的便攜式粒形粒度檢測系統,其特征在于,還包括:顯示模塊,用于對所述定方向徑、定方向等分徑、定向最大徑、分形維數、長軸長、短軸長、扁平率、紋理粗糙度及棱角性進行顯示。
10.根據權利要求8所述的便攜式粒形粒度檢測系統,其特征在于,還包括:水平儀檢測模塊,用于通過水平儀使移動終端攝像頭為正投影方向拍攝。
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