[發明專利]工件量測及定位方法

有效

• 申請號: 201810021674.8
• 申請日: 2018-01-10
• 公開（公告）號: CN110020648B
• 公開（公告）日: 2022-03-22
• 發明（設計）人: 洪興隆
• 申請（專利權）人: 上銀科技股份有限公司
• 主分類號: G06V10/25
• 分類號: G06V10/25;G06V10/422;G06V10/12
• 代理公司: 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355
• 代理人: 張雅軍;謝瓊慧

1.一種工件量測及定位方法，適用于量測及定位位于輸送平臺上的工件，以獲得所述工件之中心于所述輸送平臺之工件推估位置，由工件量測裝置執行，所述工件量測裝置包括存儲單元、高度量測單元、圖像拍攝單元，及電連接所述存儲單元、所述高度量測單元及所述圖像拍攝單元的處理單元，所述存儲單元存儲有M個不同的基準感興趣區域、M個分別對應所述M個基準感興趣區域的基準偏移向量、基準拍攝高度，及基準工件高度，每一感興趣區域對應有中心點，及形狀尺寸，其特征在于：該工件量測及定位方法包含以下步驟：

(A)借由所述處理單元，控制所述圖像拍攝單元移動到所述基準拍攝高度拍攝所述工件，以產生相關于所述工件的第一圖像；

(B)借由所述處理單元，根據所述M個基準感興趣區域中之候選感興趣區域、對應所述候選感興趣區域的候選基準偏移向量、所述基準工件高度，及由所述高度量測單元量測所述工件而獲得的實際工件高度，獲得相關于所述第一圖像的第一感興趣區域；

(C)借由所述處理單元，根據所述第一圖像及所述第一感興趣區域，獲得相關于所述工件之中心相對于所述輸送平臺之位置的所述工件推估位置；

(D)借由所述處理單元，根據所述第一圖像及所述第一感興趣區域判定步驟(B)中所獲得的所述第一感興趣區域是否為第一正確區域；

(E)當所述處理單元判定出所述第一感興趣區域不為所述第一正確區域時，借由所述處理單元，自所述M個基準感興趣區域中選取另一候選感興趣區域，并重復步驟(B)至步驟(D)；及

(F)當所述處理單元判定出所述第一感興趣區域為所述第一正確區域時，借由所述處理單元，將此次執行該步驟(B)中所根據的所述候選感興趣區域作為目標感興趣區域，并將此次執行步驟(C)所獲得的所述工件推估位置作為目標工件推估位置。

2.根據權利要求1所述的工件量測及定位方法，其特征在于：所述存儲單元還存儲有第一誤差值，步驟(D)包括以下步驟：

(D-1)借由所述處理單元，根據所述第一圖像獲得相關于所述工件于所述第一圖像的工件輪廓，其中所述工件輪廓包含多個工件特征點；及

(D-2)借由所述處理單元，判定每一工件特征點至所述第一感興趣區域之邊界的最小距離是否小于所述第一誤差值，以判定所述第一感興趣區域是否為所述第一正確區域。

3.根據權利要求1所述的工件量測及定位方法，其特征在于：步驟(E)還包括以下步驟：

(E-1)借由所述處理單元，判定是否可調整所述候選感興趣區域的形狀尺寸；

(E-2)當判定出可調整所述候選感興趣區域的所述形狀尺寸時，借由所述處理單元，調整所述候選感興趣區域的形狀尺寸，并重復步驟(C)至步驟(D)；及

(E-3)當判定出不可調整所述候選感興趣區域的形狀尺寸時，借由所述處理單元，自所述M個基準感興趣區域中選取另一候選感興趣區域，并重復步驟(B)至步驟(D)。

4.根據權利要求1所述的工件量測及定位方法，其特征在于：所述存儲單元還存儲有第二誤差值，該方法在步驟(E)及步驟(F)之間，還包含以下步驟：

(i)借由所述處理單元，將所述第一感興趣區域的中心點轉換為相對于所述輸送平臺的真實坐標位置；

(ii)借由所述處理單元，判定所述真實坐標位置與所述工件推估位置間的距離是否小于所述第二誤差值；及

(iii)當所述處理單元判定出所述真實坐標位置與所述工件推估位置的距離不小于所述第二誤差值時，借由所述處理單元，重復步驟(A)至步驟(D)；

其中，在步驟(F)中，當所述處理單元判定出所述第一感興趣區域為所述第一正確區域，且判定出所述真實坐標位置與所述工件推估位置的距離小于所述第二誤差值時，借由所述處理單元，將此次執行該步驟(B)中所根據的所述候選感興趣區域作為所述目標感興趣區域，并將此次執行步驟(C)所獲得的所述工件推估位置作為所述目標工件推估位置。