[發明專利]高溫干體溫度校驗儀爐體及高溫干體溫度校驗儀

在審

• 申請號: 201810019512.0
• 申請日: 2018-01-09
• 公開（公告）號: CN110017691A
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 李學燦;高洪軍;季偉;王剛;張春瑩;林建軍;吳成江;羅齊琦
• 申請（專利權）人: 北京康斯特儀表科技股份有限公司
• 主分類號: F27B17/02
• 分類號: F27B17/02;F27D1/00;F27D9/00;G01K15/00;F16K1/22;F16K31/04;F16K31/52
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 魯兵

1.一種高溫干體溫度校驗儀爐體，包括恒溫塊(13)、隔熱筒(14)，其特征在于：

還包括一置于爐體底部的底座(11)，所述隔熱筒(14)置于所述恒溫塊(13)外圍并與恒溫塊(13)相間隔形成冷卻通道(C1)，隔熱筒(14)和恒溫塊(13)固定在底座(11)上；底座(11)設置通風孔，所述通風孔與冷卻通道(C1)相通。

2.根據權利要求1所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：還包括冷卻風扇(16)，所述冷卻風扇(16)安裝在底座(11)空腔內，底座(11)空腔透過所述通風孔與冷卻通道(C1)相通。

3.根據權利要求1或2所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：

所述隔熱筒(14)包括套設的內筒體(14-1)和外筒體(14-2)，所述內筒體為密閉的雙層結構，其由內壁、外壁及兩端的封板組成中空的隔熱筒體；內筒體(14-1)置于恒溫塊(13)外側與恒溫塊(13)間隔形成冷卻通道(C1)，外筒體(14-2)置于內筒體(14-1)外側且相間隔形成二次冷卻通道(C2)，內筒體(14-1)和外筒體(14-2)底部固定在爐體底座(11)上。

4.根據權利要求3所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：內筒體(14-1)和外筒體(14-2)頂部通過一定位塊(15)卡固，定位塊(15)開設有與冷卻通道(C1)和二次冷卻通道(C2)均連通的氣流出口(15-2)。

5.根據權利要求1至4任一項所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：

所述底座(11)固定隔熱筒(14)的端面設置支撐柱安裝孔(11-2)用于安裝支撐恒溫塊(13)的支撐柱(20)，支撐柱(20)頂端與恒溫塊(13)固定連接，支撐柱(20)底端卡固在支撐柱安裝孔(11-2)內。

6.根據權利要求4或5所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：所述定位塊(15)下部設置對位槽(15-3)，恒溫塊(13)上的加熱棒(12)上端頭卡固在對位槽(15-3)內。

7.根據權利要求1至6任一項所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：

所述底座(11)固定隔熱筒(14)的端面為肋條狀支架(11-1)結構，肋條間的空隙區域與底座(11)空腔連通，肋條支架呈橋拱形狀，從側邊向中心部位拱起，條狀支架(11-1)上設置支撐柱安裝孔(11-2)。

8.根據權利要求3至7任一項所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：

所述底座(11)固定隔熱筒(14)的端面分布設多個條狀凸臺(11-5)，外筒體(14-2)由上向下套接在條狀凸臺(11-5)外側。

9.根據權利要求8所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：在條狀凸臺(11-5)間均布或對稱設置多個外筒限位塊(11-6)，外筒限位塊(11-6)位于外筒體14-2的內側或外側。

10.根據權利要求7或8或9所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：在肋條狀支架(11-1)邊緣分布設多個凸塊(11-3)，內筒體(14-1)由上向下套接在凸塊(11-3)外側并與凸塊(11-3)固定；凸塊(11-3)與條狀凸臺(11-5)間留有間距，該間距與外筒體和內筒體的間距匹配。

11.根據權利要求3至10任一項所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：

底座(11)對應外筒體(14-2)和內筒體(14-1)之間的區域設有與底座(11)空腔連通的通槽(11-4)，通槽(11-4)連通二次冷卻通道(C2)。

12.根據權利要求1至11中任一項所述高溫干體溫度校驗儀爐體，其特征在于：

還包括風閥，風閥固定于底座(11)空腔內，且位于冷卻風扇(16)上方。