[發明專利]LED光源測試方法

在審

• 申請號: 201810018805.7
• 申請日: 2018-01-09
• 公開（公告）號: CN110017966A
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 李軍
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區順達電腦廠有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供一種LED光源測試方法，其用于測試治具上測試電路板上LED光源，藉由一光學成像模塊、一電連接該光學成像模塊的光源成像分析模塊、一電連接該光學成像分析模塊的成像圖片處理模塊、及一電連接該成像圖片處理模塊的測試結果顯示模塊來實施，包括以下步驟：（A）根據電路板上的LED光源的開通順序,該光學成像模塊依次掃描這些LED光源,該LED光源接通的先后順序由該ICT測試治具的測試程序設定；（B）該光源成像分析模塊依次分析由該光學成像模塊所得的掃描結果并生成對應的圖片；（C）該成像圖片處理模塊依次處理由該光源成像分析模塊生成的圖片并生成對應的分析結果；（D）該測試結果顯示模塊依次顯示由該成像圖片處理模塊生成的分析結果。

技術領域

本發明涉及一種LED光源測試方法，特別是一種采用光學成像模塊可以對多路LED進行測試的LED光源測試方法。

背景技術

目前MB（Main Board，主機板）/SB（System Board，系統板）上LED（Light EmittingDiode，發光二極管）元件的亮度與顏色的測試在ICT（In Circuit Test,在線電路測試）治具上已運用得十分廣泛。其常用測試用模塊分單體測試模塊與8合1測試模塊。其中，單體測試模塊只能測試一路LED光源，8合1測試模塊提供8路單獨LED光源輸入測試端口。單體測試模塊使用靈活，但是成本較高，不適合多路LED光源測試。8合1測試模塊不適合少數量的LED光源測試，常常有許多端口閑置未使用。當要求測試的LED光源超過一定數量時，需要不斷增加測試模塊，但ICT治具上空間有限，這樣會造成設計、使用、維護困難。

有鑒于此，本發明提供一種采用光學成像模塊可以對多路LED光源進行測試的LED光源測試方法。

發明內容

本發明要解決的技術問題是在于提供一種可以對多路LED光源進行測試的LED光源測試方法,其設計簡單、成本低。

為解決上述技術問題，本發明LED光源測試方法，藉由一光學成像模塊、一電連接該光學成像模塊的光源成像分析模塊、一電連接該光學成像分析模塊的成像圖片處理模塊、及一電連接該成像圖片處理模塊的測試結果顯示模塊來實施，該LED光源測試方法包括以下步驟：

（A）根據電路板上的LED光源的開通順序,該光學成像模塊依次掃描這些LED光源, 該LED光源接通的先后順序由該ICT測試治具的測試程序設定；

（B）該光源成像分析模塊依次分析由該光學成像模塊所得的掃描結果并生成對應的圖片；

（C）該成像圖片處理模塊依次處理由該光源成像分析模塊生成的圖片并生成對應的分析結果；

（D）該測試結果顯示模塊依次顯示由該成像圖片處理模塊生成的分析結果。

優選地，所述光源成像分析模塊是將已掃描LED光源的亮度和顏色信息處理成圖片形式，一路光源生成一張圖片。

優選地，所述成像圖片處理模塊是將掃描的圖片通過軟件分析得出對應LED光源顏色和亮度的計算值，并分別與預設的顏色和亮度的范圍值比較，如果分析所得該計算值在預設的范圍值內，則LED光源測試結果為合格，反之則結果為不合格。

優選地，所述測試結果顯示模塊有一顯示屏幕，將LED光源測試結果以“合格”或者“不合格”形式顯示在該顯示屏幕上。

相較于現有技術，本發明LED光源測試方法，采用光學成像模塊，集中對單路或多路LED光源進行信號處理，不限制輸入(支路)端口的數量，按照LED光源產生的順序，統一由一光源分析模塊處理，經計算機軟件分析對應LED光源的成像圖片，得到對應LED光源的顏色和亮度的計算值，并分別與預設的顏色和亮度的范圍值比較，從而達到對LED顏色和亮度的測試目的，本發明所用LED測試系統不用占用ICT治具的測試點數資源，不需要對多路LED測試再增加額外的測試模塊，設計簡單，所需成本低。

【附圖說明】