[發明專利]一種利用Lemont和揚稻4號的紋枯病抗性基因的方法

在審

• 申請號: 201810016927.2
• 申請日: 2018-01-05
• 公開（公告）號: CN108103221A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發明（設計）人: 陳淵;楊長登;曾宇翔;季芝娟;梁燕
• 申請（專利權）人: 中國水稻研究所
• 主分類號: C12Q1/6895
• 分類號: C12Q1/6895
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用Lemont和揚稻4號的紋枯病抗性基因的方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)將水稻品種Lemont作為母本與水稻品種揚稻4號作為父本進行雜交，并構建重組自交系分離群體Fn，所述Fn中的n≥5；

(2)用分子標記D336B、D1133、D1239分別PCR擴增步驟(1)獲得的重組自交系分離群體內的不同株系的葉片DNA，根據D336B標記與水稻第3染色體上的紋枯病抗性基因qSBRLEYD3B連鎖的特點，根據D1133標記與水稻第11染色體上的紋枯病抗性基因qSBRLEYD11B連鎖的特點，根據D1239標記與水稻第12染色體上的紋枯病抗性基因qSBRLEYD12A連鎖的特點，將D336B、D1133、D1239標記的PCR擴增產物分別進行聚丙烯酰胺凝膠電泳檢測，將D336B標記擴增揚稻4號的帶型命名為A，將D1133標記擴增Lemont的帶型命名為B，將D1239標記擴增揚稻4號的帶型命名為C，將D336B標記擴增Lemont的帶型命名為D，將D1133標記擴增揚稻4號的帶型命名為E，將D1239標記擴增Lemont的帶型命名為F；選擇攜帶A、B、C帶型數目越多的株系即是紋枯病抗性越強的水稻株系，選擇攜帶D、E、F帶型數目越多的株系即是紋枯病抗性越差的水稻株系。

2.根據權利要求1所述的利用Lemont和揚稻4號的紋枯病抗性基因的方法，其特征在于，所述步驟(2)中，攜帶不同數目的A、B、C帶型的株系的紋枯病抗性按從強到弱排序為：聚合A、B、C全部三種帶型的株系＞攜帶A、B、C三種帶型中的任意兩種帶型的株系＞攜帶A、B、C三種帶型中的任意一種帶型的株系＞不攜帶A、B、C三種帶型中的任何一種帶型的株系；需要指出的是，上述排序大小僅適用于種植在同一個環境條件下對同一個Fn世代內的分離群體內的株系進行比較，所述Fn中n為固定數值。

3.根據權利要求1所述的利用Lemont和揚稻4號的紋枯病抗性基因的方法，其特征在于，所述步驟(2)中，攜帶不同數目的D、E、F帶型的株系的紋枯病抗性按從弱到強排序為：聚合D、E、F全部三種帶型的株系＜攜帶D、E、F三種帶型中的任意兩種帶型的株系＜攜帶D、E、F三種帶型中的任意一種帶型的株系＜不攜帶D、E、F三種帶型中的任何一種帶型的株系；需要指出的是，上述排序大小僅適用于種植在同一個環境條件下對同一個Fn世代內的分離群體內的株系進行比較，所述Fn中n為固定數值。