[發明專利]一種矢量網絡的測量裝置及其測量方法

有效

• 申請號: 201810016261.0
• 申請日: 2018-01-08
• 公開（公告）號: CN108627696B
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: 羅勇;章磊;劉山
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎陽科技股份有限公司
• 主分類號: G01R25/00
• 分類號: G01R25/00;G01R23/02
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 郭燕

1.一種矢量網絡的測量裝置，其特征在于，包括：掃描信號產生模塊、雙向耦合器、IQ分析模塊、第一開關、第二開關、第一網絡端口和第二網絡端口；

所述掃描信號產生模塊用于產生特定頻率的掃描信號；

所述雙向耦合器與所述掃描信號產生模塊、所述第一開關、所述第一網絡端口信號連接，用于接收所述掃描信號并將所述掃描信號和耦合處理后的耦合信號分別發送至所述第一網絡端口和所述第一開關；

所述IQ分析模塊用于對所述掃描信號和/或所述耦合信號進行矢量分析得到被測矢量網絡的矢量特性；

所述第一開關包括兩個信號輸入端口和一個信號輸出端口，兩個信號輸入端口分別連接所述雙向耦合器的正向耦合信號輸出端口和反射耦合信號輸出端口，所述第一開關通過切換開關狀態使信號輸出端口在兩個信號輸入端口之間切換；

所述第二開關包括兩個信號輸入端口和一個信號輸出端口，兩個信號輸入端口分別連接所述第一開關的信號輸出端口和所述第二網絡端口，所述第二開關的信號輸出端口與所述IQ分析模塊信號連接；

所述第一網絡端口和所述第二網絡端口用于外接被測矢量網絡，所述第一開關和所述第二開關用于配合切換所述雙向耦合器和所述IQ分析模塊之間以及所述第二網絡端口和所述IQ分析模塊之間的信號連接狀態。

2.如權利要求1所述的矢量網絡的測量裝置，其特征在于，所述被測矢量網絡為單端口矢量網絡，所述單端口矢量網絡的單端口與所述第一網絡端口連接；

切換所述第一開關使得其信號輸出端口與所述正向耦合信號輸出端口連接，切換所述第二開關使得其信號輸出端口與所述第一開關的信號輸出端口連接，所述IQ分析模塊接收來自所述雙向耦合器的正向耦合信號；

切換所述第一開關使得其信號輸出端口與所述反射耦合信號輸出端口連接，切換所述第二開關使得其信號輸出端口與所述第一開關的信號輸出端口連接，所述IQ分析模塊接收來自所述雙向耦合器的反射耦合信號；

所述IQ分析模塊將得到的正向耦合信號和反射耦合信號進行比較得到所述單端口網絡的矢量特性。

3.如權利要求1所述的矢量網絡的測量裝置，其特征在于，所述被測矢量網絡為二端口矢量網絡，所述二端口矢量網絡的信號進口和信號出口分別與所述第一網絡端口和所述第二網絡端口連接；

切換所述第一開關使得其信號輸出端口與所述正向耦合信號輸出端口連接，切換所述第二開關使得其信號輸出端口與所述第一開關的信號輸出端口連接，所述IQ分析模塊接收來自所述雙向耦合器的正向耦合信號；

切換所述第二開關使得其信號輸出端口與所述第二網絡端口連接，所述IQ分析模塊接收來自所述二端口矢量網絡的通過信號，所述通過信號由進入所述二端口矢量網絡的所述掃描信號得到；

所述IQ分析模塊將得到的所述正向耦合信號和所述通過信號進行比較得到所述二端口矢量網絡的矢量特性。

4.如權利要求1至3任一項所述的矢量網絡測量裝置，其特征在于，還包括頻譜接收通道，所述頻譜接收通道與所述IQ分析模塊信號連接，用于接收來自所述第二開關的模擬信號并將模擬信號進行信號處理之后發送至所述IQ分析模塊。