[發明專利]LED顯示屏的整屏校正方法、校正系統及存儲介質

在審

• 申請號: 201810014828.0
• 申請日: 2018-01-08
• 公開（公告）號: CN108320696A
• 公開（公告）日: 2018-07-24
• 發明（設計）人: 謝明璞;嚴振航;孫興紅;李選中;吳振志;吳涵渠
• 申請（專利權）人: 深圳市奧拓電子股份有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種LED顯示屏的整屏校正方法、校正系統及存儲介質。所述方法包括以下步驟：獲取LED顯示屏的整屏圖像；根據獲取的整屏圖像確定LED模組的邊界像素點，并獲取邊界像素點的空間均勻性參數；由LED模組間的像素點陣空間均勻性參數根據預設算法得到校正系數；將所述校正系數用于LED顯示屏進行整屏校正。上述LED顯示屏的整屏校正方法、校正系統及存儲介質，基于空間均勻性計算校正系數，使用普通相機或手機即可進行校正，降低了校正成本，且大大減少了數據分析量，可以進行實時校正，而無需顯示特定的校正圖像。

技術領域

本發明涉及顯示屏校正領域，特別是涉及一種LED顯示屏的整屏校正方法、校正系統及存儲介質。

背景技術

通常，大面積的LED顯示屏由若干個小的LED模組拼接形成，單個LED模組在出廠時會進行出廠校正，但是，拼接后形成的整屏，由于拼接誤差會造成整屏的亮度不均勻，因此，需要在拼接完成后，對整屏進行二次校正。

現有的校正方法，通常是使用專業相機對LED屏體上所有LED像素燈進行亮度及色域分析，得出所有點的校正系數，再將此校正系數應用到屏體上。然而，專業相交較為昂貴，使用不方便，從而使得校正成本較高。

發明內容

基于此，有必要針對LED顯示屏的二次校正的校正成本高的問題，提供一種LED顯示屏的整屏校正方法、校正系統及存儲介質。

本發明第一方面提供一種LED顯示屏的整屏校正方法，所述方法包括以下步驟：

獲取LED顯示屏的整屏圖像；

根據獲取的整屏圖像確定LED模組的邊界像素點，并獲取邊界像素點的空間均勻性參數；

由LED模組間的像素點陣空間均勻性參數根據預設算法得到校正系數；

將所述校正系數用于LED顯示屏進行整屏校正。

在其中一個實施例中，所述獲取邊界像素點的空間均勻性參數包括：

獲取邊界像素點的位置信息；

根據像素點的位置信息確定與所述邊界像素點相鄰的四個校正像素點的位置；

基于圖像分析計算邊界像素點與四個校正像素點之間的距離D1、D2、D3和D4；

其中，四個所述校正像素點構成的四邊形的其中一條對角線平行于LED模組的邊緣線。

在其中一個實施例中，所述由LED模組間的像素點陣空間均勻性參數根據預設算法得到校正系數包括：

獲取邊界像素點所在LED模組的模組內像素間距D；

根據模組內像素間距D及邊界像素點與四個校正像素點之間的距離D1、D2、D3和D4計算得到校正系數。

在其中一個實施例中，所述獲取邊界像素點所在LED模組的模組內像素間距D包括：

基于圖像分析計算邊界像素點所在LED模組的模組內像素間距D；或

讀取預設的模組內像素間距D。

在其中一個實施例中，所述邊界像素點與四個校正像素點之間的距離D1、D2、D3和D4直接由圖像分析得到；或

所述邊界像素點與四個校正像素點之間的距離D1、D2、D3和D4由對圖像分析得到的邊界像素點與四個校正像素點之間的距離值校正后得到。

在其中一個實施例中，所述對圖像分析得到的邊界像素點與四個校正像素點之間的距離值的校正具體包括：根據對圖像分析得到的邊界像素點與四個校正像素點之間的距離值的相近度進行校正。

在其中一個實施例中，所述預設算法為：校正系數＝(D1+D2)*(D3+D4)/(4*D*D)。