[發明專利]測試設備、設備的測試方法及裝置、存儲介質在審
| 申請號: | 201810014070.0 | 申請日: | 2018-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN110022237A | 公開(公告)日: | 2019-07-16 |
| 發明(設計)人: | 程遠杰;姜雪松 | 申請(專利權)人: | 中國移動通信有限公司研究院;中國移動通信集團有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 高潔;張穎玲 |
| 地址: | 100053 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 開關陣列 連接端口 測試路徑 測試設備 受控開關 隔離器 頻段 測試方法及裝置 濾波器 濾波器陣列 存儲介質 開關狀態 雜散信號 陣列連接 雜散 測量 | ||
1.一種測試設備,其特征在于,包括:
用于與被測設備的第一連接端口;
用于與測試輔助設備連接的第二連接端口;
開關陣列,包括多個受控開關;
濾波器陣列,通過所述開關陣列與所述第一連接端口相連;
隔離器陣列,通過所述開關陣列分別與所述第一連接端口及所述第二連接端口連接;
其中,所述開關陣列,用于通過所述受控開關的開關狀態,調節所述濾波器陣列連接到測試路徑中的濾波器;位于所述測試路徑中的濾波器,用于過濾特定頻段的信號;
所述開關陣列,還用于通過所述受控開關的開關狀態,調節所述隔離器陣列連接到所述測試路徑中的隔離器;位于所述測試路徑中的隔離器,用于將所述被測設備的輸出信號調節為預定信號后傳輸到連接在所述第二連接端口的所述測試輔助設備。
2.根據權利要求1所述的測試設備,其特征在于,還包括:
負載網絡,包括一個或多個負載,用于連接形成所述測試路徑以外的非測試路徑。
3.根據權利要求2所述的被測設備,其特征在于,所述被測設備包括:待測的第一設備端口和所述第一設備端口以外的第二設備端口;所述第一設備端口所連接的路徑為所述測試路徑;
所述負載網絡包括:
吸收負載,用于與所述第二設備端口連接,以吸收所述非測試路徑上的信號。
4.根據權利要求2所述的測試設備,其特征在于,
所述負載網絡還包括:
防空載負載,通過連接到非測試路徑,用于吸收所述被測設備提供的非測試信號。
5.根據權利要求2所述的測試設備,其特征在于,
所述負載網絡包括:一個或多個衰減器。
6.根據權利要求1所述的測試設備,其特征在于,還包括:
匹配網絡,與所述第一連接端口及所述開關陣列連接,用于阻抗匹配和反射保護。
7.根據權利要求6所述的測試設備,其特征在于,
所述匹配網絡包括:
第一匹配網絡,通過所述開關陣列與第一部分的所述第一連接端口連接;
第二匹配網絡,通過所述開關陣列中第二部分的所述第一連接端口連接;
所述開關陣列,還包括:
受控開關組,用于在第一狀態時,通過自身的開關狀態連接所述第一匹配網絡與所述濾波器陣列,并連接所述第二匹配網絡與所述隔離器陣列;在第二狀態時,通過自身的開關狀態連接所述第二匹配網絡與所述濾波器陣列,并連接所述第一匹配網絡與所述隔離器陣列。
8.根據權利要求1至7任一項所述的測試設備,其特征在于,所述測試設備還包括:
第一耦合器;
第二耦合器;其中,所述第一耦合器和所述第二耦合器均包括:第一連接點、第二連接點及第三連接點;
可調衰減器件,連接在所述第一耦合器的第三連接點和所述第二耦合器的第三連接點之間,用于衰減傳導到反射路徑上的信號,以測量所述被測設備的收發隔離抑制比;
所述第一耦合器的第一連接點,通過所述開關陣列與所述第一連接端口連接,所述第一耦合器的第二連接點,通過開關陣列與所述濾波陣列連接;
所述第二耦合器的第一連接點,通過所述開關陣列與所述第一連接端口連接,所述第二耦合器的第二連接點,通過開關陣列與所述隔離器陣列連接。
9.根據權利要求1至7任一項所述的測試設備,其特征在于,所述測試設備還包括:
控制器,與所述開關陣列連接,用于根據所述被測設備的測試需求參數,向所述開關陣列發送控制信號,其中,所述控制信號,用于控制所述受控開關的開關狀態。
10.一種設備的測試方法,其特征在于,包括:
根據被測設備的測試需求參數及被測設備的設備參數,生成控制信號;
根據所述控制信號調節所述測試設備的開關陣列中受控開關的開關狀態,以控制接入到測試路徑上的濾波器和隔離器;
利用所述測試路徑對所述被測設備進行測試。
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