[發明專利]一種產品電磁兼容狀況快速評估和質量控制的方法

在審

• 申請號: 201810012675.6
• 申請日: 2018-01-06
• 公開（公告）號: CN108562807A
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: 吳偉;吳躍佳
• 申請（專利權）人: 吳偉
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種產品電磁兼容狀況快速評估和質量控制的方法。該方法包括：選擇參考樣品并獲取參考樣品的頻譜；選擇被評估產品并獲取被評估產品的頻譜；比較參考樣品和評估產品的頻譜，判斷評估產品的電磁兼容狀況。其優點在于：對產品的EMC狀況快速評估可以在生產車間進行，節省了評估費用；對批量產品生產過程中產品的每只必檢有利于產品EMC質量控制；評估結果不僅反映批量產品的EMC狀況，而且反映產品質量，為批量產品的質量控制提供了一種新的手段。

技術領域

本發明涉及一種產品電磁兼容狀況快速評估方法，特別是涉及一種可用于產品質量控制的電磁兼容狀況快速評估方法。

背景技術

產品的電磁兼容（EMC）狀況是產品質量的重要部分。產品的EMC狀況低下會降低產品的抗干擾能力，從而降低產品的可靠性。然而，由于產品的EMC測試需要在屏蔽室內進行，昂貴并且耗時，至今為止的產品EMC性能評估局限于對產品的型式試驗，也就是只對產品的一個樣品做EMC測試，并且假定所有后續生產的同型號批量產品的EMC特性與該樣品相同。然而，實踐中由于產品的元器件的變動，生產工藝的改變等等都會導致批量產品的EMC狀況偏離樣品的EMC狀況。

發明內容

本發明提出一種可用于產品質量控制的產品電磁兼容狀況快速評估方法，能夠對批量產品中每只產品的EMC狀況做快速評估。由于產品的電磁干擾（EMI）由產品的電路產生，與電路的工作狀況密切相關，因此本方法也能夠用于批量產品的質量控制。

本發明提出的一種產品電磁兼容狀況快速評估方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

選擇參考樣品并獲取參考樣品的頻譜；

選擇被評估產品并獲取被評估產品的頻譜；

比較參考樣品和評估產品的頻譜，判斷評估產品的電磁兼容狀況。

所述的評估方法，其特征在于，所述參考樣品與被評估產品屬于同類型產品，參考樣品的EMC狀態已知。

所述的評估方法，其特征在于，所述獲取參考樣品頻譜和獲取被評估產品的頻譜，可以是用電信號采集儀器采集參考樣品和被評估產品電路上同樣部位的電信號并且通過數學變換獲得頻譜。

所述的評估方法，其特征在于，所述獲取參考樣品頻譜和獲取被評估產品的頻譜，可以是用頻率測試儀測量參考樣品和被評估產品電路上同樣部位來獲得頻譜。

所述的評估方法，其特征在于，所述判斷評估產品的電磁兼容狀況，包括以下判據：

（1）

（2）

其中，R 為差值，f為頻譜中的某一頻率，Se為被評估產品的頻譜，Sr為參考樣品的頻譜，Estatus為產品評估結果，margin為產品干擾的余量，uncertainty為測量不確定性，PASS為通過，FAIL為通不過，UNCERTAIN為不確定。

所述的評估方法，其特征在于，其特征在于，所述選擇參考樣品并獲取參考樣品的頻譜，可以直接用任意線段替代參考樣品的頻譜。

本發明方法及其計算公式（1）（2）基于以下基本原理：

產品A和產品B屬于同類型產品，用頻譜表征EMI水平

基本原理1. 產品B的頻譜低于產品A的頻譜，如果EMC標準實驗室測試產品A的頻譜低于EMC標準規定的EMI限制線從而符合EMC標準，則產品B也因此符合EMC標準。

基本原理2. 在同樣的環境下用相同的儀器在相同的測試點測量產品A和產品B獲取頻譜，即便上述環境和儀器與標準EMC測試要求的不同，上述基本原理1仍然成立。

基本原理3. 在同樣的環境下用相同的儀器在相同的測試點測量產品A和產品B獲取頻譜，計算產品A和產品B頻譜的差值能夠消除環境干擾影響。