[發明專利]LED顯示屏的參數適配方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201810011758.3
• 申請日: 2018-01-05
• 公開（公告）號: CN108109580B
• 公開（公告）日: 2019-12-17
• 發明（設計）人: 羅清文;謝志君;歐陽其平
• 申請（專利權）人: 深圳市灰度軟件有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32
• 代理公司: 11332 北京品源專利代理有限公司
• 代理人: 孟金喆

1.一種LED顯示屏的參數適配方法，其特征在于，包括：

生成包含至少一組參數列表的參數列表集合，并建立與所述參數列表一一對應的索引值，所述參數列表包括固定參數和可變參數；

按照所述索引值讀取所述參數列表集合中的所述參數列表，并將所述參數列表發送至控制器，所述控制器用于對LED顯示屏進行控制；

獲取所述LED顯示屏的顯示圖像，并根據所述顯示圖像的顯示狀態確定目標參數列表；

構建預設大小的特征測試圖像，并生成與所述特征測試圖像對應的特征數據；

將所述特征數據發送至控制器，作為測試特征數據；

相應的，所述根據所述顯示圖像的顯示狀態確定目標參數列表，具體為：

進入測試狀態，獲取測試狀態下所述顯示圖像對應的第一實際特征數據，并對所述第一實際特征數據進行狀態分析，獲取所述固定參數，其中所述固定參數包括數據極性、OE極性、顏色通道、一組RGB控制的行高、掃描類型和掃描表的像素點坐標列表；

退出測試狀態后，獲取所述顯示圖像對應的第二實際特征數據，并將所述第二實際特征數據與所述測試特征數據進行匹配；

將所述第二實際特征數據與所述測試特征數據匹配時對應的包含所述固定參數的當前參數列表作為目標參數列表。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述可變參數包括顯示模組寬度、是否使用138譯碼器、LED芯片型號和一掃插入的空點數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

當所述第二實際特征數據與所述測試特征數據不匹配時，返回執行按照所述索引值讀取所述參數列表集合中的所述參數列表，并將所述參數列表發送至控制器的操作，直至二者匹配或遍歷讀取全部參數列表。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述構建預設大小的特征測試圖像之前，還包括：

獲取內存緩存區的參數信息，其中，所述參數信息包括寬度、高度和像素點位數；

相應的，所述構建預設大小的特征測試圖像，具體為：

構建與所述內存緩存區的參數信息相匹配的預設大小的特征測試圖像。

5.一種LED顯示屏的參數適配裝置，其特征在于，包括：

列表集合生成模塊，用于生成包含至少一組參數列表的參數列表集合，并建立與所述參數列表一一對應的索引值，所述參數列表包括固定參數和可變參數；

列表讀取模塊，用于按照所述索引值讀取所述參數列表集合中的所述參數列表，并將所述參數列表發送至控制器，所述控制器用于對LED顯示屏進行控制；

圖像獲取模塊，用于獲取所述LED顯示屏的顯示圖像，并根據所述顯示圖像的顯示狀態確定目標參數列表；

圖像構建模塊，用于構建預設大小的特征測試圖像，并生成與所述特征測試圖像對應的特征數據；

將所述特征數據發送至控制器，作為測試特征數據；

相應的，所述圖像獲取模塊，具體用于：

進入測試狀態，獲取測試狀態下所述顯示圖像對應的第一實際特征數據，并對所述第一實際特征數據進行狀態分析，獲取所述固定參數，其中所述固定參數包括數據極性、OE極性、顏色通道、一組RGB控制的行高、掃描類型和掃描表的像素點坐標列表；

退出測試狀態后，獲取所述顯示圖像對應的第二實際特征數據，并將所述第二實際特征數據與所述測試特征數據進行匹配；

將所述第二實際特征數據與所述測試特征數據匹配時對應的包含所述固定參數的當前參數列表作為目標參數列表。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述可變參數包括顯示模組寬度、是否使用138譯碼器、LED芯片型號和一掃插入的空點數。

7.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1-4中任一所述的LED顯示屏的參數適配方法。

8.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-4中任一所述的LED顯示屏的參數適配方法。