[發(fā)明專利]TF卡測(cè)試座在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810010201.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108181489A | 公開(公告)日: | 2018-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬現(xiàn)通;劉熙胖;王凱霖;彭金輝;石淑英;蘇慶會(huì);穆佩紅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鄭州信大捷安信息技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/073 | 分類號(hào): | G01R1/073;G01R1/067;G01R1/04 |
| 代理公司: | 鄭州德勤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41128 | 代理人: | 黃紅梅 |
| 地址: | 450000 河南省*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 放置槽 測(cè)試探針 壓桿 下壓機(jī)構(gòu) 限位長孔 測(cè)試座 壓緊端 伸入 測(cè)試線路板 復(fù)位機(jī)構(gòu) 連接測(cè)試 豎向限位 水平設(shè)置 線路板 鉸接端 限位軸 鉸接 針頭 延伸 | ||
本發(fā)明提供了一種TF卡測(cè)試座,包括基座、設(shè)置在基座上的測(cè)試線路板、測(cè)試探針、TF卡放置槽以及下壓機(jī)構(gòu)和設(shè)置在TF卡放置槽兩側(cè)的TF卡壓桿,測(cè)試探針連接測(cè)試線路板,TF卡放置槽水平設(shè)置,測(cè)試探針設(shè)置在所述TF卡放置槽下方,測(cè)試探針的針頭伸入TF卡放置槽內(nèi);每個(gè)TF卡壓桿均包括伸入TF卡放置槽內(nèi)的壓緊端和鉸接在下壓機(jī)構(gòu)上的鉸接端,每個(gè)TF卡壓桿上均開設(shè)有從TF卡壓桿的中部延伸至壓緊端附近的限位長孔,基座上位于TF卡放置槽的兩側(cè)均設(shè)置有限位軸,兩個(gè)限位軸一一對(duì)應(yīng)地穿設(shè)在兩個(gè)限位長孔內(nèi);基座和下壓機(jī)構(gòu)之間設(shè)置有豎向限位機(jī)構(gòu)和復(fù)位機(jī)構(gòu)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電子產(chǎn)品測(cè)試裝置,具體的說,涉及了一種TF卡測(cè)試座。
背景技術(shù)
T-FLASH存儲(chǔ)卡簡(jiǎn)稱TF卡,是一種外觀十分小巧的閃存儲(chǔ)器卡,最早用于手機(jī)設(shè)備上,如今隨著科技的迅速發(fā)展,TF卡被廣泛應(yīng)用在智能家居、單反相機(jī)、平板電腦等智能設(shè)備上。隨著TF卡產(chǎn)品市場(chǎng)的要求,在提升TF卡產(chǎn)品性能的同時(shí),對(duì)TF卡的測(cè)試需求也逐漸增多,TF卡測(cè)試座作為一種承載部件,能夠完成對(duì)TF卡的電氣性能及功能的測(cè)試,因此TF卡測(cè)試座的優(yōu)劣能夠直接影響到TF卡測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
然而,現(xiàn)有的TF卡測(cè)試座主要存在以下問題:一方面,傳統(tǒng)的TF卡測(cè)試座在對(duì)待測(cè)TF卡進(jìn)行測(cè)試的過程中,當(dāng)待測(cè)TF卡被放置在TF卡測(cè)試座的相應(yīng)位置時(shí),待測(cè)TF卡容易發(fā)生移位,導(dǎo)致測(cè)試過程中容易出現(xiàn)待測(cè)TF卡與探針接觸不良、不穩(wěn)定或者信號(hào)故障等現(xiàn)象;另一方面,現(xiàn)有的TF卡測(cè)試座多為人工掀蓋式的測(cè)試座,在對(duì)大批量待測(cè)TF卡進(jìn)行測(cè)試時(shí),難以靈活地適用于自動(dòng)化設(shè)備實(shí)現(xiàn)待測(cè)TF卡的自動(dòng)化測(cè)試,從而導(dǎo)致測(cè)試效率大大降低;此外,由于現(xiàn)有的TF卡測(cè)試座結(jié)構(gòu)復(fù)雜,一旦出現(xiàn)部件損壞時(shí),不方便進(jìn)行更換或者維護(hù)。
為了解決以上存在的問題,人們一直在尋求一種理想的技術(shù)解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,從而提供一種設(shè)計(jì)科學(xué)、可靠性高、操作方便、維護(hù)方便、可適用于大批量自動(dòng)化測(cè)試的TF卡測(cè)試座。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種TF卡測(cè)試座,包括基座、設(shè)置在所述基座上的測(cè)試線路板、測(cè)試探針、TF卡放置槽以及下壓機(jī)構(gòu)和設(shè)置在所述TF卡放置槽兩側(cè)的TF卡壓桿,所述測(cè)試探針安裝在所述測(cè)試線路板上,所述測(cè)試探針的針頭伸入所述TF卡放置槽內(nèi);
所述TF卡壓桿包括伸入所述TF卡放置槽內(nèi)的壓緊端和鉸接在所述下壓機(jī)構(gòu)上的鉸接端,所述TF卡壓桿上開設(shè)有從所述TF卡壓桿的中部延伸至所述壓緊端附近的限位長孔,所述基座上對(duì)應(yīng)所述限位長孔設(shè)置有限位軸,所述下壓機(jī)構(gòu)的上下移動(dòng)能夠驅(qū)使所述TF卡壓桿在所述限位長孔的限定范圍內(nèi)翻轉(zhuǎn);
所述基座和所述下壓機(jī)構(gòu)之間設(shè)置有豎向限位機(jī)構(gòu)和復(fù)位機(jī)構(gòu),初始狀態(tài)下,所述復(fù)位機(jī)構(gòu)頂壓所述下壓機(jī)構(gòu)并驅(qū)使所述TF卡壓桿的壓緊端壓緊所述TF卡放置槽的底面;存/取卡狀態(tài)下,所述下壓機(jī)構(gòu)下移壓迫所述復(fù)位機(jī)構(gòu)并驅(qū)使所述TF卡壓桿翻轉(zhuǎn)至離開所述TF卡放置槽。
基于上述,所述基座包括底座和TF卡座,所述底座上開設(shè)有安裝槽,所述TF卡座可豎向運(yùn)動(dòng)地放置在所述安裝槽內(nèi),所述安裝槽對(duì)應(yīng)所述TF卡座的外側(cè)壁設(shè)置有導(dǎo)向內(nèi)壁,所述TF卡座底部和所述安裝槽之間設(shè)置有彈性機(jī)構(gòu),所述TF卡放置槽開設(shè)在所述TF卡座內(nèi),所述測(cè)試探針穿過所述底座和所述TF卡座,兩個(gè)所述限位軸均設(shè)置在所述底座上,所述復(fù)位機(jī)構(gòu)的作用力大于所述彈性機(jī)構(gòu)的作用力。
基于上述,所述復(fù)位機(jī)構(gòu)包括設(shè)置在所述底座四角和所述下壓機(jī)構(gòu)四角之間的四個(gè)第一壓簧,所述彈性機(jī)構(gòu)包括兩個(gè)第二壓簧。
基于上述,所述底座四角和所述下壓機(jī)構(gòu)四角對(duì)應(yīng)所述第一壓簧、所述安裝槽和所述TF卡座底部對(duì)應(yīng)所述第二壓簧分別設(shè)置有壓簧安裝凹孔。
基于上述,所述豎向限位機(jī)構(gòu)包括設(shè)置在所述底座上的行程長孔和設(shè)置在所述下壓機(jī)構(gòu)上的行程限位銷。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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