[發明專利]一種通過射頻信號來校準晶體偏振的方法

在審

• 申請號: 201810008527.7
• 申請日: 2018-01-04
• 公開（公告）號: CN108390732A
• 公開（公告）日: 2018-08-10
• 發明（設計）人: 李雙慶;張坤;馮杰
• 申請（專利權）人: 晶晨半導體（上海）股份有限公司
• 主分類號: H04B17/11
• 分類號: H04B17/11;H04B17/21
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

本發明提供一種通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法，屬于通信領域，所述方法包括：步驟S1、被測器件的射頻端口通過銅管連接件連接射頻線的一端，所述射頻線的另一端連接無線局域網測試儀，所述無線局域網測試儀連接控制端；步驟S2、用戶通過所述控制端控制所述無線局域網測試儀對所述被測器件的射頻信號進行測試以得到測試結果，用戶根據所述測試結果判斷所述射頻信號的偏差是否合格：若判斷結果為是，隨后退出；若判斷結果為否，則所述用戶對所述被測器件的晶體電路進行調節，隨后轉步驟S2。本發明的有益效果：不會受到探頭的影響，測量更加準確。

技術領域

本發明涉及通信領域，尤其涉及一種通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法。

背景技術

現在高速信號的頻率越來越高，對于晶體的頻率偏差要求也越來越嚴格，當晶體和負載電容不匹配時，會造成晶體頻偏過大，導致系統的不穩定，在射頻(RadioFrequency，RF)中更會影響性能。當前難題是晶體的時鐘和外部負載電容均通過經驗值來設計，很難滿足高精度時鐘的要求。當前的難題是，晶體的時鐘和外部電阻均通過經驗值來設計，很難滿足高精度時鐘的要求。

針對當前難題，業界的處理方案通常由以下兩種：

1)用示波器直接測量晶體管腳上的時鐘頻率，但測量不準確，示波器探頭會影響負載電容，偏差很大；

2)用頻率計直接測量晶體管腳上的時鐘頻率，依然會影響負載電容，造成測試結果不準。

發明內容

針對現有技術中存在的問題，本發明提供了一種通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法。

本發明采用如下技術方案：

一種通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法，適用于晶體電路，所述方法包括：

步驟S1、被測器件的射頻端口通過銅管連接件連接射頻線的一端，所述射頻線的另一端連接無線局域網測試儀；

步驟S2、用戶通過所述控制端控制所述無線局域網測試儀對所述被測器件的射頻信號進行測試以得到測試結果，用戶根據所述測試結果判斷所述射頻信號的偏差是否合格：

若判斷結果為是，隨后退出；

若判斷結果為否，則所述用戶對所述被測器件的晶體電路進行調節，隨后轉步驟S2。

優選的，所述無線局域網測試儀包括測試模塊和控制端模塊。

優選的，所述控制端模塊為一PC端。

優選的，所述測試模塊通過有線連接的方式連接至所述控制端模塊。

優選的，所述步驟S2中，所述用戶通過所述控制端模塊的顯示裝置查看所述測試結果。

優選的，所述步驟S2中，所述用戶根據所述測試結果判斷所述射頻信號的偏差不合格時，則所述用戶通過調整所述晶體電路的負載電容的電容值。

優選的，所述被測器件的所述射頻端口為天線接入點。

本發明的有益效果：不會受到探頭的影響，測量更加準確。

附圖說明

圖1為本發明的一種優選實施例中，通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法的流程圖；

圖2為本發明的一種優選實施例中，通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法的結構示意圖。

具體實施方式

需要說明的是，在不沖突的情況下，下述技術方案，技術特征之間可以相互組合。

下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步的說明：

如圖1-2所示，一種通過射頻信號來校準晶體頻偏的方法，上述方法包括：