[發明專利]一種新型液體顆粒計數方法及系統

在審

• 申請號: 201810007349.6
• 申請日: 2018-01-04
• 公開（公告）號: CN108226015A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 梁鳳飛;孫吉勇;沈瑋棟;陳建;周大農;張琪;戴圣陽
• 申請（專利權）人: 江蘇蘇凈集團有限公司;蘇州蘇凈儀器自控設備有限公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛

本發明涉及一種新型液體顆粒計數方法，該方法為：設置流通流體的流通池，利用光學模組發出的光照射流通池而在流通池內形成檢測區域，接收流經檢測區域的流體內的顆粒所產生的光阻脈沖信號和光散射脈沖信號，基于光阻脈沖信號辨別顆粒的粒徑而初步分類計數，定義顆粒的甄別系數，顆粒的甄別系數為顆粒所產生的光散射脈沖信號的幅值與光阻脈沖信號的幅值之比，從而剔除初步分類計數結果中無效顆粒的計數，從而得到最終的固體顆粒的計數結果，無效顆粒為液相的流體中的氣泡。實現上述方法的液體顆粒計數系統包括流通池、光學模組、第一探測器模塊、第二探測器模塊和處理器。本發明可以實現快速、實時、準確的顆粒計數，降低誤判率。

技術領域

本發明涉及一種對流體中的顆粒進行分類計數的方法和系統。

背景技術

隨著科技的發展及社會進步，各行各業對顆粒污染的控制要求越來越高，從醫藥、電子、半導體、濾膜、油品檢測等工業產品質量領域，到PM2.5、粉塵等社會生活領域，普遍存在各種類型的顆粒計數器。而其中應用較為廣泛的光學顆粒計數器是基于光阻法或光散射法測量顆粒大小并實現顆粒計數的。目前光阻法主要應用于微米級粒徑的液體顆粒計數，而光散射法主要應用于亞微米液體顆粒的計數。

光學顆粒計數系統以其快速、實時、準確等優勢成為當前的大部分工業顆粒污染控制的主要檢測工具，但是由于光學傳感器本身存在的缺點導致其受各種因素的影響，進而導致各種偽數據的產生。比如在測量液體或油中顆粒時，氣泡(尤其是微米級氣泡)是產生偽數據的主要影響因素，而目前采用的方法包括靜置或抽真空等方式來預先除去氣泡。也就是說，現有的顆粒計數器，要么無法濾除偽數據產生的因素，要么需預先使用一定方法或裝置濾除偽數據產生的因素。

發明內容

本發明的目的是提供一種能在計數時實時甄別顆粒性質，從而精準對顆粒進行計數的方法。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案是：

一種新型液體顆粒計數方法，用于對液相的流體中的固體顆粒進行計數，所述液體顆粒計數方法為：設置流通所述流體的流通池，利用光學模組發出的光照射所述流通池而在所述流通池內形成檢測區域，接收流經所述檢測區域的所述流體內的顆粒所產生的光阻脈沖信號和光散射脈沖信號，基于所述光阻脈沖信號辨別所述顆粒的粒徑而初步分類計數，至少基于所述光散射脈沖信號甄別所述顆粒的性質而剔除初步分類計數結果中無效顆粒的計數，從而得到最終的固體顆粒的計數結果，所述無效顆粒為液相的所述流體中的氣泡。

優選的，定義顆粒的甄別系數，顆粒的甄別系數為所述顆粒所產生的所述光散射脈沖信號的幅值與所述光阻脈沖信號的幅值之比，利用所述甄別系數而甄別所述顆粒的性質。

本發明還提供一種結構簡單、通用性強，能夠同時計數和甄別顆粒性質的新型液體顆粒計數系統，其方案是：

一種液體顆粒計數系統，用于對液相的流體中的固體顆粒進行計數，所述液體顆粒計數系統包括：

流通池，所述流通池用于流通所述流體；

光學模組，所述光學模組用于發出光來照射所述流通池而在所述流通池內形成所述檢測區域；

第一探測器模塊，所述第一探測器模塊用于基于流經所述檢測區域的所述流體內的顆粒而導致的光通量變化而輸出所述光阻脈沖信號；

第二探測器模塊，所述第二探測器模塊用于基于流經所述檢測區域的所述流體內的顆粒而導致的散射光變化而輸出光散射脈沖信號；

處理器，所述處理器分別與所述第一探測器模塊和所述第二探測器模塊相通信，所述處理器用于接收流經所述檢測區域的所述流體內的顆粒所產生的光阻脈沖信號和光散射脈沖信號，并基于所述光阻脈沖信號辨別所述顆粒的粒徑而初步分類計數，至少基于所述光散射脈沖信號甄別所述顆粒的性質而剔除初步分類計數結果中無效顆粒的計數，從而得到最終的固體顆粒的計數結果；所述無效顆粒為液相的所述流體中的氣泡。