[發(fā)明專利]光纖卡盒測(cè)試儀和光纖卡盒測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810006168.1
• 申請(qǐng)日: 2018-01-04
• 公開（公告）號(hào): CN110006629B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李航;馬正新;冷宗圣;袁擁軍;余利
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 康普技術(shù)有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01M11/00
• 分類號(hào): G01M11/00;G01M11/08
• 代理公司: 中國(guó)貿(mào)促會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038
• 代理人: 白皎

本發(fā)明提供了一種光纖卡盒測(cè)試儀及其測(cè)試方法，該光纖卡盒測(cè)試儀包括檢測(cè)器；以及光源模塊，包括多個(gè)光源并且與所述檢測(cè)器相對(duì)布置；其中，所述光纖卡盒測(cè)試儀被布置為使得光纖卡盒在測(cè)試過程中能夠被布置在所述檢測(cè)器和所述光源模塊之間，其中所述檢測(cè)器被布置在所述光纖卡盒的集成端處，所述光源模塊被布置在所述光纖卡盒的扇出端處；并且所述多個(gè)光源被布置為使得每個(gè)光源能夠與所述光纖卡盒的所述扇出端處的每個(gè)光纖連接接口對(duì)準(zhǔn)。通過本公開的光纖卡盒測(cè)試儀及其測(cè)試方法，極大地提高了光學(xué)卡盒的光學(xué)測(cè)試效率；同時(shí)避免了光纖卡盒的光纖接口的插芯的刮傷和/或污染。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光纖領(lǐng)域，并且更具體地，涉及一種光纖卡盒測(cè)試儀和光纖卡盒測(cè)試方法。

背景技術(shù)

諸如MPO型的光纖卡盒在光纖網(wǎng)絡(luò)中被廣泛地使用。針對(duì)這些卡盒需要執(zhí)行相關(guān)的連續(xù)性和極性等的光學(xué)測(cè)試，以保證光纖卡盒的質(zhì)量和有效使用。圖1示出了一種常規(guī)的MPO-LC卡盒的測(cè)試方法。如圖1所示，典型的MPO-LC光纖卡盒20包括具有光纖連接接口的集成端21和扇出端22。為了測(cè)試MPO型光纖卡盒20，技術(shù)人員需要將一根MPO/MPO跳線連接到MPO測(cè)試儀10的適配接口11和光纖卡盒20的集成端21，以及將另一根MPO/LC跳線連接到MPO測(cè)試儀10的另一適配接口11和光纖卡盒20的扇出端22之間。在測(cè)試過程中，MPO測(cè)試儀10向光纖卡盒20的一端發(fā)射光，并且在另一端檢測(cè)光，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)光纖卡盒20的連續(xù)性和極性的光學(xué)測(cè)試。然而，由于需要插拔跳線，上述常規(guī)的光纖卡盒20的測(cè)試方法是費(fèi)時(shí)的，從而導(dǎo)致光纖卡盒20的光學(xué)測(cè)試的效率低下；同時(shí)由于插拔跳線導(dǎo)致插芯端面不可避免地受到刮傷和/或污染。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明的一個(gè)目的至少在于提供一種光纖卡盒測(cè)試儀及其測(cè)試方法。通過本公開的光纖卡盒測(cè)試儀及其測(cè)試方法，可以無需插拔跳線就實(shí)現(xiàn)對(duì)光纖卡盒的光學(xué)測(cè)試，從而極大地提高光學(xué)卡盒的光學(xué)測(cè)試效率；同時(shí)避免了光纖卡盒的光纖接口的插芯端面的刮傷和/ 或污染。

根據(jù)本公開的第一方面，提供了一種光纖卡盒測(cè)試儀，包括檢測(cè)器；以及光源模塊，包括多個(gè)光源并且與所述檢測(cè)器相對(duì)布置；其中，所述光纖卡盒測(cè)試儀被布置為使得光纖卡盒在測(cè)試過程中能夠被布置在所述檢測(cè)器和所述光源模塊之間，其中所述檢測(cè)器被布置在所述光纖卡盒的集成端處，所述光源模塊被布置在所述光纖卡盒的扇出端處；并且所述多個(gè)光源被布置為使得每個(gè)光源能夠與所述光纖卡盒的所述扇出端處的每個(gè)光纖連接接口對(duì)準(zhǔn)。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，光纖卡盒測(cè)試儀還包括框架，所述檢測(cè)器和所述光源模塊被布置在所述框架上。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，所述檢測(cè)器能夠在所述框架上沿與所述集成端的端面平行的第一方向移動(dòng)。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，所述框架還包括保持器，所述保持器用于將所述光纖卡盒保持在所述光源模塊的上方。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，光纖卡盒測(cè)試儀還包括控制器，所述控制器被配置為按順序地驅(qū)動(dòng)所述光源模塊中的多個(gè)光源朝所述扇出端處的多個(gè)光纖連接接口發(fā)射光。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，所述多個(gè)光源被布置成陣列。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，所述光學(xué)卡盒是MPO型光纖卡盒，其中一端為光纖集成端，另一端為扇出端。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，扇出端包括多個(gè)LC或SC光纖連接接口。

根據(jù)本公開的一些實(shí)施例，所述檢測(cè)器是CCD。

根據(jù)本公開的另一方面，提供了一種光纖卡盒測(cè)試方法，包括：將光纖卡盒布置在檢測(cè)器和包括多個(gè)光源的光源模塊之間，其中所述多個(gè)光源的每個(gè)光源能夠與所述光纖卡盒的扇出端處的多個(gè)光纖連接接口的每個(gè)光纖連接接口對(duì)準(zhǔn)；從所述光源模塊發(fā)射光到所述光纖卡盒的扇出端；以及在所述光纖卡盒的集成端處檢測(cè)光。