[發明專利]智能芯片測試系統

在審

• 申請號: 201810002261.5
• 申請日: 2018-01-02
• 公開（公告）號: CN108152701A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 李奇宇
• 申請（專利權）人: 成都智易通科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 成都路航知識產權代理有限公司 51256
• 代理人: 李凌

1.智能芯片測試系統，其特征在于，所述系統包括：

測試主機、連接線、測試連接端、第一固定支架、第二固定支架、第一固定圓環、第二固定圓環、第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱、測試平臺、第一滑軌、第二滑軌、第一收集箱、第二收集箱；

測試主機通過連接線與測試連接端連接，第一固定支架和第二固定支架的一端分別與測試連接端的左右側面連接，第一固定支架和第二固定支架的另一端分別與第一固定圓環和第二固定圓環連接，第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱分別固定在測試平臺的左側、中部、右側，第一固定柱與第二固定柱之間的距離、第二固定柱與第三固定柱之間的距離、第一固定圓環與第二固定圓環之間的距離相等，測試平臺上表面設有2個放置測試芯片的凹槽，第一滑軌上端與測試平臺左側連接，第一滑軌下端延伸至第一收集箱內，第二滑軌上端與測試平臺右側連接，第二滑軌下端延伸至第二收集箱內。

2.根據權利要求1所述的智能芯片測試系統，其特征在于，測試平臺底部設有帶剎腳輪。

3.根據權利要求1所述的智能芯片測試系統，其特征在于，第一固定圓環和第二固定圓環的尺寸相同，第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱尺寸相同，第一固定圓環與第一固定柱的尺寸匹配。

4.根據權利要求1所述的智能芯片測試系統，其特征在于，凹槽尺寸與測試芯片尺寸匹配。

5.根據權利要求1所述的智能芯片測試系統，其特征在于，所述系統還包括波紋軟管和LED照明燈，波紋軟管一端與LED照明燈連接，波紋軟管另一端與測試平臺連接。