[發明專利]探測器

有效

• 申請號: 201780096021.X
• 申請日: 2017-10-20
• 公開（公告）號: CN111226120B
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發明（設計）人: 山口政紀;北原忠
• 申請（專利權）人: 株式會社東陽特克尼卡
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01N27/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 高迪

用于計測試樣體(10)的電阻抗的探測器(100)具備：作為第一電極的屏蔽導體(101)，呈中空結構，具有收納試樣體(10)的封閉空間(104)；以及作為第二電極的中心導體(106)，在封閉空間(104)內延伸，并且與屏蔽導體(101)絕緣。中心導體(106)，以與屏蔽導體(101)的壁部之間留有空隙的方式延伸，且與所述壁部之間夾著試樣體(10)，封閉空間(104)是真空或者被填充惰性氣體(110)。

技術領域

本發明涉及用于計測電阻抗的探測器。

背景技術

已知有對試樣的電阻抗進行計測的探測器。例如，在專利文獻1公開了對位于爐等特殊環境下的被測定物的物性進行測定的物性測定裝置。該物性測定裝置被構成為，在爐內使用探測器來計測被測定物的試樣的電阻抗。探測器貫通收納試樣的收納框而垂下，相對于載置在收納框的朝上面上的試樣，進行升降。探測器以及收納框分別與阻抗測定器的兩個端子的一方以及他方電連接。

(現有技術文獻)

(專利文獻)

專利文獻1∶日本特開平5－240816號公報

在專利文獻1的物性測定裝置中，探測器以及收納框分別構成與試樣接觸的電極。為了正確地計測試樣的電阻抗，不管周圍的溫度變化，探測器以及收納框之間需要保持電絕緣。

發明內容

本發明提供一種用于提高與試樣即試樣體接觸的電極之間的電絕緣性的探測器。

本發明的一個方案涉及的探測器，是用于計測試樣體的電阻抗的探測器，所述探測器具備：第一電極，呈中空結構，具有收納試樣體的封閉空間；以及第二電極，在所述封閉空間內延伸，并且與所述第一電極絕緣，所述第二電極，以與所述第一電極的壁部之間留有空隙的方式延伸，且與所述壁部之間夾著所述試樣體，所述封閉空間是真空或者被填充惰性氣體。

通過本發明涉及的探測器，能夠提高與試樣體接觸的電極之間的電絕緣性。

附圖說明

圖1是示出實施方式涉及的探測器的計測時的狀態的一例的模式的截面側面圖。

圖2是圖1的探測器的模式的截面側面圖。

圖3是沿著圖2的III-III線的模式的截面圖。

圖4是與圖3同樣模式地示出實施方式的變形例涉及的探測器的截面圖。

具體實施方式

如同背景技術部分的記載，本發明者們研究了對試樣體的電阻抗進行計測的探測器。以往，材料的電阻抗被定位在材料的基本物性之一。因此，在開發出新材料時，利用探測器等計測其電阻抗。這時，在符合材料的使用目的的溫度環境下，計測材料的電阻抗。然而，計測中使用的探測器的電纜、保持試樣體的探測器的夾具等的電絕緣性，隨著周圍的溫度而變化，與室溫有很大差距的溫度環境下，難以進行準確的計測。因此，本發明者們研究了能夠減少由于溫度環境的變化帶來的計測結果的影響的探測器。銳意研究的結果，本發明者們提出了如下能夠提高與試樣體接觸的電極之間的電絕緣性的探測器。

于是，本發明的一個方案涉及的探測器，是用于計測試樣體的電阻抗的探測器，所述探測器具備：第一電極，呈中空結構，具有收納試樣體的封閉空間；以及第二電極，在所述封閉空間內延伸，并且與所述第一電極絕緣，所述第二電極，以與所述第一電極的壁部之間留有空隙的方式延伸，且與所述壁部之間夾著所述試樣體，所述封閉空間是真空或者被填充惰性氣體。

本發明的一個方案涉及的探測器還可以具備：絕緣性的保持部件，相對于所述第一電極保持所述第二電極，所述壁部包括第一壁部和第二壁部，所述第一壁部與所述第二電極之間夾著所述試樣體，所述第二壁部以與所述第二電極之間留有空隙的方式延伸，所述保持部件，從所述第二壁部延伸到所述第二電極，至少在一個方向上保持所述第二電極。