[發(fā)明專利]檢測(cè)對(duì)表面的觸摸輸入在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780095736.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111201506A | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | I·庫(kù)什尼爾;O·德加尼 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘋果公司 |
| 主分類號(hào): | G06F3/046 | 分類號(hào): | G06F3/046;G06F3/041;G01S13/87 |
| 代理公司: | 北京市漢坤律師事務(wù)所 11602 | 代理人: | 魏小薇;吳麗麗 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 表面 觸摸 輸入 | ||
1.一種用于檢測(cè)對(duì)表面的觸摸輸入的裝置(10),所述裝置(10)包括:
至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12),所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件被配置為發(fā)射射頻頻譜中的電磁輻射;
至少一個(gè)雷達(dá)接收器部件(14),所述至少一個(gè)雷達(dá)接收器部件被配置為接收由對(duì)所述表面執(zhí)行所述觸摸輸入的對(duì)象反射的所述電磁輻射的一部分;以及
控制組件(16),所述控制組件被配置為:
接收與由所述至少一個(gè)雷達(dá)接收器部件(14)接收的所述電磁輻射的所述一部分相關(guān)的信息,并且
基于與由所述至少一個(gè)雷達(dá)接收器部件(14)接收的所述電磁輻射的所述一部分相關(guān)的所述信息來(lái)檢測(cè)對(duì)所述表面的所述觸摸輸入。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述控制組件(16)被配置為基于所接收的所述電磁輻射的所述一部分相對(duì)于所發(fā)射的電磁輻射的相移來(lái)檢測(cè)對(duì)所述表面的所述觸摸輸入。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為在毫米波頻帶中發(fā)射所述電磁輻射。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述控制組件(16)被配置為基于與由所述至少一個(gè)雷達(dá)接收器部件(14)接收的所述電磁輻射的所述一部分相關(guān)的所述信息來(lái)確定所述對(duì)象相對(duì)于所述表面的位置,并且其中所述控制組件(16)被配置為經(jīng)由接口提供與所述對(duì)象的所述位置相關(guān)的信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為利用所述電磁輻射來(lái)掃掠區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置(10),其中所述控制組件(16)被配置為基于檢測(cè)到的觸摸輸入來(lái)指定待由所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)掃掠的所述區(qū)域。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置(10),其中所述控制組件(16)被配置為基于以下分組中的至少一個(gè)元素來(lái)控制所述掃掠的屬性:檢測(cè)到的對(duì)所述表面的觸摸次數(shù)、觸摸檢測(cè)的期望的空間分辨率或時(shí)間分辨率、以及待由檢測(cè)到的觸摸控制的應(yīng)用程序的類型。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述控制組件(16)被配置為在第一時(shí)間間隔內(nèi)檢測(cè)所述對(duì)象存在于所述表面附近,并且其中所述控制組件(16)被配置為在第二時(shí)間間隔內(nèi)確定所述對(duì)象相對(duì)于所述表面的位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置(10),其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為在所述第一時(shí)間間隔期間利用所述電磁輻射來(lái)掃掠第一區(qū)域,并且其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為在所述第二時(shí)間間隔期間掃掠第二區(qū)域,其中所述第一區(qū)域大于所述第二區(qū)域。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置(10),其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為在所述第一時(shí)間間隔期間使用第一較低時(shí)間分辨率來(lái)掃掠區(qū)域,并且其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為在所述第二時(shí)間間隔期間使用第二較高時(shí)間分辨率來(lái)掃掠區(qū)域。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置(10),其中所述控制組件(16)被配置為在所述第一時(shí)間間隔內(nèi)估計(jì)所述對(duì)象相對(duì)于所述表面的位置,并且其中所述控制組件(16)被配置為在所述第二時(shí)間間隔內(nèi)基于所估計(jì)的所述對(duì)象的位置來(lái)指定待由所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)掃掠的區(qū)域。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)包括至少一個(gè)相控陣列天線,并且其中所述至少一個(gè)雷達(dá)發(fā)射器部件(12)被配置為使用所述至少一個(gè)相控陣列天線利用所述電磁輻射來(lái)掃掠區(qū)域。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置(10),其中所述至少一個(gè)相控陣列天線的電磁輻射圖案為沿著所述表面延伸的定向圖案。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
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