[發明專利]一種校準陣列天線的方法、裝置和系統

有效

• 申請號: 201780095222.8
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN111133691B
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: 何昭君;馬英東;李曉東;張勇;郭勇;王麗萍
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12;H01Q21/00;G01S7/40
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃冠雄

一種校準陣列天線的方法、裝置和系統，涉及無線通信技術領域，其中該方法包括：被測裝置連通陣列天線中的天線并通過連通的天線向檢測裝置發送檢測信號，在連通天線時，被測裝置還向檢測裝置發送觸發信號，該觸發信號包括表示被測裝置對連通的天線進行切換的信息。通過本申請實施例的方案，檢測裝置在收到觸發信號后，能夠確定被測裝置發送觸發信號時連通的天線，并接收連通的天線發送的檢測信號，從而能夠根據被測裝置發送的檢測信號對陣列天線進行校準，由于不需要在陣列天線的每個天線的輸入口搭建采集電路，因此降低了校準陣列天線的復雜度同時節省陣列天線校準過程中搭建采集電路的時間，提高了陣列天線校準的效率。

技術領域

本申請涉及無線通信技術領域，特別涉及一種校準陣列天線的方法、裝置和系統。

背景技術

相控陣列天線采用多個發射天線且利用空間波束合成技術，能夠實現波束掃描和遠距離傳輸。實現相控的前提是校正陣列天線發射信號之間的信號誤差，例如校正信號的幅度誤差和/或校正信號的相位誤差。當不同天線發射的信號之間存在幅度誤差和/或相位誤差時，會致使波束矢量合成出現偏差，最終導致波束主瓣增益下降和旁瓣抬升，從而影響通信性能。因此，陣列天線在投入使用之前需要通過校準技術來改善陣列天線的通信性能。

如圖1所示，現有技術中通常采用的陣列天線校準方法需要在每個發射天線的信號輸入端口分別引出校準信號，對引出的校準信號進行變頻后輸入給矢量網絡分析儀，通過矢量網絡分析儀計算不同天線發射的信號之間存在的信號誤差，進而根據計算得到的信號誤差對陣列天線進行校準。但根據圖1所示的陣列天線校準方法，需要在陣列天線的每個天線的信號輸入端口構建采集電路來采集校準信號，由于陣列天線中包含的天線數量較多，搭建用于檢測每個天線之間的信號誤差的采集電路的搭建時間過長，實現的復雜度較高，因此不利于對陣列天線進行快速校準。

綜上所述，現有技術中通常采用的陣列天線校準方法不利于對陣列天線進行快速校準。

發明內容

本申請實施例提供一種校準陣列天線的方法、裝置和系統，用以解決現有技術中通常采用的陣列天線校準方法不利于對陣列天線進行快速校準的問題。

第一方面，本申請提供一種校準陣列天線的方法，該方法包括被測裝置連通陣列天線中的天線并通過連通的天線向檢測裝置發送檢測信號，在連通天線時，被測裝置還向檢測裝置發送觸發信號，該觸發信號包括表示被測裝置對連通的天線進行切換的信息。通過本申請實施例的方案，被測裝置連通陣列天線中的天線并通過連通的天線向檢測裝置發送檢測信號，以及在連通天線時向檢測裝置發送觸發信號，檢測裝置在收到觸發信號后，能夠確定被測裝置發送觸發信號時連通的天線，并接收連通的天線發送的檢測信號，以及根據被測裝置發送的檢測信號對陣列天線進行校準，由于該校準陣列天線的方案不需要在陣列天線的每個天線的輸入口搭建采集電路，降低了校準陣列天線的復雜度同時節省陣列天線校準過程中搭建采集電路的時間，從而提高了陣列天線校準的效率。

基于第一方面，在一個可能的設計中，被測裝置可以在不同時刻按照預設順序連通陣列天線中的不同天線。被測裝置可以按照預設順序連通不同的天線，這樣可以由檢測裝置在收到觸發信號后根據預設順序確定被測裝置連通的天線。

基于第一方面，在一個可能的設計中，被測裝置向檢測裝置發送的觸發信號還可以包括用于指示被測裝置發送觸發信號時所連通的天線的信息。被測裝置可以向檢測裝置發送包含連通的天線的信息的觸發信號，檢測裝置從而能夠根據觸發信號中的天線的信息確定被測裝置發送觸發信號時連通的天線。