[發明專利]試樣分析裝置

在審

• 申請號: 201780090077.4
• 申請日: 2017-04-25
• 公開（公告）號: CN110546496A
• 公開（公告）日: 2019-12-06
• 發明（設計）人: 工藤恭彥
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62;G01N30/72
• 代理公司: 11277 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 劉新宇<國際申請>=PCT/JP2017

在響應因子存儲部(22)中針對各種化合物預先保存相對于基準化合物的信號強度比即響應因子。當操作員指示進行分析極限值的估算處理時，在分析控制部(3)的控制下測定部(1)針對包含基準化合物的試樣執行多次GC/MS分析。信號強度計算部(23)基于該分析結果求出基準化合物的信號強度值，相對強度計算部(24)根據多個實測信號強度值計算相對標準偏差，根據該相對標準偏差和從響應因子存儲部(22)讀出的目標化合物的響應因子來計算目標化合物的相對標準偏差。然后，分析極限值估算部(25)根據目標化合物的相對標準偏差通過已知的方法估算檢測限等，并顯示于顯示部(6)。由此，不進行目標化合物的實測就能夠簡易地求出分析極限值。

技術領域

本發明涉及一種質譜分析裝置、氣相色譜儀(GC)、液相色譜儀(LC)、熒光X射線分析裝置等對試樣中的化合物和元素進行分析的各種試樣分析裝置，更詳細而言，涉及一種具有計算檢測限和定量限等并將其計算結果呈現給用戶的功能的試樣分析裝置。

背景技術

在使用以質譜分析裝置為代表的各種試樣分析裝置來分析試樣的情況下，事先掌握檢測限(Limit Of Detection＝LOD)和定量限(Limit Of Quantitation＝LOQ)在確保測定的可靠性的方面是非常重要的。

例如在非專利文獻1中公開了一種氣相色譜質譜聯用儀(GC-MS)，當操作者輸入目標化合物的種類和其它必要的參數時，該氣相色譜質譜聯用儀計算并顯示針對目標化合物的檢測限和定量限。在這種試樣分析裝置中，作為計算針對目標化合物的檢測限和定量限的方法，以往已知有如下的幾種方法(參照非專利文獻1～4)。

[方法A]

制備多個包括假定的檢測限的3倍～5倍左右的濃度的目標化合物的標準試樣，利用試樣分析裝置分別分析該多個標準試樣，來獲取多個信號強度值(在色譜分析的情況下為峰的高度值或峰面積值)。利用該多個信號強度值，通過下述的式(1)計算出針對目標化合物的檢測限值P_LOD。

P_LOD＝(σ/S_av)×C×t(n-1，α)…(1)

此處，σ和S_av為多個信號強度值下的標準偏差和平均值，也就是說σ/S_av為表示重復分析的再現性的相對標準偏差(RSD)，C為標準試樣的濃度。另外，t(n-1，α)為在自由度(此處為分析次數)n-1和100×(1-α)％的置信區間(α為適當地規定的總體標準偏差，例如為0.05)下的t檢驗的值。

另外，針對目標化合物的定量限值P_LOQ是使用上述檢測限值P_LOD通過下述式(2)計算出的。

P_LOQ＝β×P_LOD…(2)

在此，β為憑經驗決定的適當的系數，一般為3以上(通常在3～3.3左右)的值。

[方法B]

在該方法B中，利用通過外標法或內標法制作的目標化合物的校準曲線來計算出針對目標化合物的檢測限和定量限。

即，首先，準備目標化合物的含有濃度不同的多個標準試樣，執行基于外標法或內標法的分析來制作校準曲線。然后，根據利用試樣分析裝置多次分析目標化合物的濃度為零的試樣(空白試樣)所得到的信號強度值(下面稱為“空白信號值”)和該空白信號值的標準偏差，通過下述式(3)和式(4)來計算出針對目標化合物的檢測限值P_LOD和定量限值P_LOQ。

P_LOD＝f(S₀+S_B×γ)…(3)

P_LOQ＝f(S₀+S_B×δ)…(4)