[發明專利]質譜分析裝置和色譜質譜聯用儀

有效

• 申請號: 201780088879.1
• 申請日: 2017-03-23
• 公開（公告）號: CN110506205B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 安田弘之
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62;G01N30/72;H01J49/00;H01J49/24;H01J49/42
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種質譜分析裝置，能夠執行MSⁿ分析，n為2以上的整數，所述質譜分析裝置具備：

前級質量分離部，其從源自試樣中包含的化合物的離子中選擇具有規定的質荷比的離子作為前體離子；斷裂部，其使由該前級質量分離部選擇的前體離子斷裂來生成產物離子；以及后級質量分離部，其對由該斷裂部生成的產物離子進行質量分離，

所述質譜分析裝置的特征在于，還具備：

a)存儲部，其保存有多個MRM測定條件以及與多個化合物分別對應的多個多MRM標準譜的數據集，所述多個MRM測定條件各自包含多個MRM轉變，所述多個MRM轉變各自為前體離子與產物離子的組，所述多個多MRM標準譜的數據集各自表示在以產物離子的質荷比為一軸的圖表上以質量峰的形式表示通過執行該MRM測定條件所測定出的產物離子的強度的質譜；

b)目標化合物輸入接收部，其接收由用戶進行的一個或多個目標化合物的輸入；

c)測定執行部，其從所述存儲部讀取與所述一個或多個目標化合物分別對應的MRM測定條件，在該MRM測定條件下測定所述試樣；

d)多MRM實測譜制作部，其制作多MRM實測譜，所述多MRM實測譜為在以產物離子的質荷比為一軸的圖表上以質量峰的形式表示通過測定所述試樣所得到的產物離子的強度的譜；

e)相似度計算部，其針對所述一個或多個目標化合物中的每一個目標化合物求出所述多MRM實測譜與在所述存儲部中保存的所述多MRM標準譜的相似度。

2.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，

所述多個MRM轉變為前體離子和產物離子中的至少一者的質荷比不同的3種以上的MRM轉變。

3.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，

所述多個MRM轉變為前體離子和產物離子中的至少一者的質荷比不同的6種以上且16種以下的MRM轉變。

4.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，

還具備f)譜顯示部，該譜顯示部顯示所述一個或多個目標化合物的所述多MRM標準譜和所述多MRM實測譜。

5.一種色譜質譜聯用儀，其特征在于，

除了具備根據權利要求1所述的質譜分析裝置之外，還具備g)色譜儀，該色譜儀將所述試樣中包含的化合物在時間上分離，

所述MRM測定條件還包含基于該MRM測定條件來測定所述試樣的測定時間段的信息，

所述測定執行部在所述測定時間段內基于所述MRM測定條件重復執行所述試樣的測定。

6.根據權利要求5所述的色譜質譜聯用儀，其特征在于，

所述測定時間段包含：比該化合物從所述色譜儀洗脫的開始時間更早的時間段、或/和比該化合物從所述色譜儀洗脫的結束時間更晚的時間段。

7.根據權利要求5所述的色譜質譜聯用儀，其特征在于，

還具備h)噪音去除譜制作部，該噪音去除譜制作部針對所述一個或多個目標化合物中的每一個目標化合物，進行如下處理：從在該目標化合物的保留時間段所獲取的多MRM實測譜扣除在該目標化合物的保留時間外所獲取的多MRM實測譜的數據。