[發明專利]分光檢測器

在審

• 申請號: 201780088655.0
• 申請日: 2017-04-21
• 公開（公告）號: CN110462354A
• 公開（公告）日: 2019-11-15
• 發明（設計）人: 渡邊真人;東郷寬之
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02
• 代理公司: 31291 上海立群專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 楊楷;毛立群<國際申請>=PCT/JP2

一種分光檢測器，具備:光源；試樣池，供試樣在內部流通；光傳感器；光學系統，將來自所述光源的光引導至所述試樣池且將來自所述試樣池的光引導至所述光傳感器，該光學系統具有分光器，在所述光源與所述試樣池之間或者在所述試樣池與所述光傳感器之間對光進行分光；殼體，一體地具有用于對所述光源進行收容的燈房部與用于至少對所述試樣池以及所述光學系統進行收容的光學系統收容部。燈房部與光學系統收容部成為一體而構成殼體，使得熱變得更容易從燈房部向光學系統收容部傳遞，檢測器整體達到熱平衡為止的時間得以縮短。

技術領域

本發明涉及例如分光光度計或示差折射率檢測器等在光學系統中含有分光器的檢測器(以下將這樣的檢測器稱為“分光檢測器”)，該光學系統將來自光源的光引導至試樣池，并且將來自試樣池的光引導至光傳感器。

背景技術

紫外可視分光光度計或分光熒光光度計、示差折射率檢測器等分光檢測器利用氘燈或鹵素燈等伴隨發熱進行發光的燈作為光源。在分光檢測器，光源儲存在被稱為燈房的光源儲存部件，但是將光向試樣池或光傳感器引導的含有分光器的光學系統收容在和燈房不同的儲存部件(以下稱為光學系統收容部)內(參照專利文獻1)。

從光源發出的光被導入至光學系統收容部內，由分光器分光并通過光傳感器進行檢測。在導入至光學系統收容部內的光的光路上配置試樣池，通過光傳感器對透過在試樣池內流動的試樣成分的光或從試樣成分發出的熒光進行檢測，從而對試樣成分的吸光度或熒光強度進行測量，由此進行試樣成分的鑒定或定量。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利特開2014-048176號公報

發明內容

發明要解決的技術問題

已知分光檢測器的光源的發光強度或構成光學系統的分光器等的各個光學部件的光學特性有溫度依存性。因此，從檢測器啟動到檢測器信號穩定為止，需要一定程度的時間。特別是，如果像衍射光柵那樣的分光器的溫度變動，則搭載在分光器的光學元件的相對位置關系發生變化，由此波長分散角變動，分光性能發生變化。

如上所述，在以往，對光學系統收容部與燈房進行熱分離，從而使特別是分光器等光學系統不受來自光源的熱的影響。但是，由于在檢測器的構成上使光學系統收容部與燈房相鄰配置，所以受到來自光源的輻射熱的影響等使光學系統收容部與燈房無法完全熱分離。因此，燈房的熱緩慢地向光學系統收容部一側傳遞，燈房與光學系統收容部的整體達到熱平衡為止需要很長時間，由此成為檢測器信號到穩定為止的時間變長的原因。

本發明目的在于，縮短檢測器信號到穩定為止的時間。

用于解決上述技術問題的方案

在以往的分光檢測器中，從對來自光源的熱對于光學系統的影響進行抑制這一觀點出發，在光源與光學系統之間進行熱分離已成為技術常識。對此，本發明是基于如下設想完成的：即，有意地使熱更容易從光源向光學系統傳遞，從而使得檢測器整體達到熱平衡為止的時間縮短。

即，本發明的分光檢測器具備:光源；試樣池，供試樣在內部流通；光傳感器；光學系統，將來自所述光源的光引導至所述試樣池，并且將來自所述試樣池的光引導至所述光傳感器，該光學系統具有分光器，該分光器在所述光源與所述試樣池之間或者在所述試樣池與所述光傳感器之間對光進行分光；殼體，所述殼體一體地具有燈房部和光學系統收容部，所述燈房部用于收容所述光源，所述光學系統收容部用于至少收容所述試樣池以及所述光學系統。燈房部與光學系統收容部成為一體來構成殼體，從而使熱變得更容易從燈房部向光學系統收容部傳遞，檢測器整體達到熱平衡為止的時間得以縮短。

優選地，殼體由熱傳導性材料制成。這樣一來，由光源產生的熱高效率地向殼體整體傳遞，檢測器整體達到熱平衡為止的時間變短。