[發明專利]磁強計

有效

• 申請號: 201780082844.7
• 申請日: 2017-12-15
• 公開（公告）號: CN110168938B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: G·德桑德雷
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: H03M1/18
• 分類號: H03M1/18;H03M1/12;G01R33/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 郭毅

1.一種磁強計(100)，該磁強計具有：

-測量值傳感器(10)，所述測量值傳感器向第一放大器裝置(20)

輸送信號(V_B)；

-求和元件(22)，其中，在所述求和元件(22)的輸出端處，所述第一放大器裝置(20)的輸出信號范圍定義地移位；

-其中，所述求和元件(22)的輸出信號能夠借助第二放大器裝置(21)定義地放大；其中

-除了放大因子(A)1外，借助所述第二放大器裝置(21)可以提供另外的可參數化的放大因子(A)，優選為2ⁿ；

-其中，所述第二放大器裝置(21)的輸出信號輸送給低通濾波器(30)；

-其中，所述低通濾波器(30)的輸出信號輸送給模擬/數字轉換器(40)；

-其中，所述模擬/數字轉換器(40)的輸出信號輸送給校正環節(50)；

其中，

-為了形成結果信號(V)，將所述模擬/數字轉換器(40)的輸出信號除以校正因子(A*)，所述校正因子等于所述第二放大器裝置(21)的定義的放大因子(A)，其中，將數字校正信號(V_msb*)相加至由此所得到的商，所述數字校正信號在所述數字校正信號的范圍內相應于所述第一放大器裝置(20)的輸出信號(I)的輸出信號范圍的移位。

2.根據權利要求1所述的磁強計(100)，其特征在于，所述求和元件(22)布置在所述第一放大器裝置(20)的第一級(20a)與所述第一放大器裝置(20)的第二級(20b)之間。

3.根據權利要求1所述的磁強計(100)，其特征在于，所述求和元件(22)布置在所述第一放大器裝置(20)的后面。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的磁強計(100)，其特征在于，所述第一放大器裝置(21)在功能上至少部分地集成到所述低通濾波器(30)中。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的磁強計(100)，其特征在于，所述第一放大器裝置(20)的輸出信號(I)的輸出信號范圍借助校正電流(I_msb)定義地減小。

6.根據權利要求5所述的磁強計(100)，其特征在于，所述校正電流(I_msb)能夠與所述第一放大器裝置(20)的輸出信號(I)的電平相關地根據所述放大因子(A)的數值來劃分。

7.一種用于讀取根據權利要求1至6中任一項所述的磁強計(100)的方法，所述方法具有以下步驟：

-將測量值傳感器(10)的輸出信號(V_B)輸送給第一放大器裝置(20)；

-定義地移位所述第一放大器裝置(20)的輸出信號(I)的范圍；

-借助第二放大器裝置(21)定義地放大所述輸出信號(I)的經減小的范圍；

-其中，除了放大因子(A)1外，借助所述第二放大器裝置(21)可以提供另外的可參數化的放大因子(A)，優選2ⁿ；

-借助低通濾波器(30)去除經放大的衰減的殘余信號的高頻分量；

-借助模擬/數字轉換器(40)來轉換經濾波的所述信號；并且

-借助連接在所述模擬/數字轉換器(40)下游的校正環節(50)來形成結果信號(V)，其中，將所述經放大的殘余信號除以校正因子(A*)，所述校正因子等于所述第二放大器裝置(21)的定義的放大因子(A)，其中，將數字校正值(V_msb*)相加至由此所得到的商，所述數字校正值在所述數字校正值的范圍內相應于所述第一放大器裝置(20)的輸出范圍的定義的移位。