[發明專利]筆輸入設備用膜的評價方法、筆輸入設備膜評價裝置及筆輸入設備用膜

有效

• 申請號: 201780082679.5
• 申請日: 2017-10-10
• 公開（公告）號: CN110168481B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 下杉翔太
• 申請（專利權）人: 株式會社大賽璐
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 金蘭

1.一種筆輸入設備用膜的評價方法，其中，具有：

第1步驟，一邊使筆的前端與筆輸入設備用膜的表面接觸，一邊沿著前述筆輸入設備用膜的前述表面，使前述筆輸入設備用膜相對于前述筆相對地移動，得到表示在前述移動中前述筆以比0Hz大且4Hz以下的范圍內的值的振動頻率振動時的前述筆的振幅及前述筆的加速度的至少某個的測量數據；以及

第2步驟，將在前述第1步驟中得到的前述測量數據與基準數據進行比較。

2.如權利要求1所述的筆輸入設備用膜的評價方法，其中，

在前述第1步驟中，使用前述筆的前述加速度的測量值，基于數式1，計算前述筆的前述振幅，

[數式1]

S＝20×log₁₀(a/1×10^－5)

其中，設前述振幅為S(dB)，設前述加速度為a(m/s²)。

3.如權利要求1或2所述的筆輸入設備用膜的評價方法，其中，

在前述第1步驟中，將前述筆輸入設備用膜用支承體支承，使前述筆輸入設備用膜與前述支承體一起相對于前述筆相對地移動。

4.如權利要求1或2所述的筆輸入設備用膜的評價方法，其中，

在前述第1步驟中，通過安裝在前述筆上的加速度檢測傳感器對前述加速度進行測量。

5.一種筆輸入設備用膜評價裝置，其中，具備：

支承體，對筆輸入設備用膜進行支承；

保持部，保持筆，以使前述筆的前端與前述筆輸入設備用膜的表面接觸；

移動機構部，在前述筆輸入設備用膜被前述支承體支承的狀態下，沿著前述筆輸入設備用膜的前述表面，使前述支承體與前述筆輸入設備用膜一起相對于前述筆相對地移動；

測量部，對在前述移動中前述筆以比0Hz大且4Hz以下的范圍內的值的振動頻率振動時的前述筆的振幅及前述筆的加速度的至少某個進行測量；以及

輸出部，對前述測量部測量出的測量數據進行輸出。

6.如權利要求5所述的筆輸入設備用膜評價裝置，其中，

前述測量部使用前述筆的前述加速度的測量值，基于數式1，計算前述筆的前述振幅，

[數式1]

S＝20×log₁₀(a/1×10^－5)

其中，設前述振幅為S(dB)，設前述加速度為a(m/s²)。

7.如權利要求5或6所述的筆輸入設備用膜評價裝置，其中，

前述測量部具有安裝在前述筆上的加速度檢測傳感器。

8.一種筆輸入設備用膜，其中，

以將筆輸入設備的顯示面覆蓋的方式配置，具有：通過筆被輸入的表面；以及凹凸，形成于該表面；

通過一邊使筆與前述表面接觸一邊沿著前述表面使前述筆相對地移動從而前述筆振動時的前述筆的振動的振幅的最大值被設定為90dB以上110dB以下的值。

9.如權利要求8所述的筆輸入設備用膜，其中，具備：

第1膜部件，以將前述顯示面覆蓋的方式配置；以及

第2膜部件，以將前述第1膜部件的與前述顯示面相反側的面覆蓋的方式配置；

前述第2膜部件具有沿著前述第1膜部件的前述相反側的面擴展的基底部、以及在相互分散的狀態下被前述基底部保持的多個珠形粒子；

前述第2膜部件的保持前述珠形粒子的保持區域從該區域的周緣區域向與前述第1膜部件相反側突出；

前述第2膜部件的與前述顯示面相反側的面的算術平均粗糙度Ra被設定為0.5μm以上1.5μm以下的范圍的值，并且基圓最大起伏W_EM被設定為10.0μm以上20.0μm以下的范圍的值。

10.如權利要求9所述的筆輸入設備用膜，其中，

前述珠形粒子的平均粒徑D1被設定為8μm以上30μm以內的范圍的值。