[發明專利]探測缺陷在審
| 申請號: | 201780081844.5 | 申請日: | 2017-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN110121654A | 公開(公告)日: | 2019-08-13 |
| 發明(設計)人: | 馬克·馬斯登;彼得·曼恩;查爾斯·亞歷山大;杰夫·湯普森 | 申請(專利權)人: | 雷迪公司 |
| 主分類號: | G01R31/08 | 分類號: | G01R31/08 |
| 代理公司: | 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315 | 代理人: | 南霆 |
| 地址: | 英國布*** | 國省代碼: | 英國;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 探測 絕緣層 接收器 電壓信號 交流電壓 絕緣導體 定位器 探針 交流電 采樣電流信號 磁場生成 電流信號 磁力計 電接觸 處理器 磁場 配置 改進 | ||
1.一種用于探測埋在地面以下的絕緣導體的絕緣層中的缺陷的定位器,所述絕緣導體攜帶交流電,所述定位器包括:
磁力計,其被布置為探測由所述交流電產生的磁場,并且基于所探測的磁場生成電流信號;
交流電壓梯度接收器,其包括被布置為與所述地面電接觸的一對探針,所述交流電壓梯度接收器被布置為生成指明在所述一對探針之間的電壓的電壓信號;以及
處理器,其被配置為實質上同步地采樣所述電流信號和電壓信號。
2.如權利要求1所述的定位器,其中,所述處理器被配置為確定在所述電流信號和電壓信號之間的相位差。
3.如權利要求2所述的定位器,其包括存儲器,其中,所述處理器被配置為在所述存儲器中儲存:電流測量結果,其基于所處理的電流信號;電壓測量結果,其基于所處理的電壓信號;以及,相位測量結果,其基于所確定的在所述電流信號和電壓信號之間的相位差。
4.如前述權利要求中任一項所述的定位器,包括位置確定設備,其被布置為確定所述定位器的位置,其中,所述處理器被配置為在所述存儲器中儲存位置信息,所述位置信息是關于所述定位器在測量所儲存的電流測量結果和電壓測量結果時所處的位置。
5.如權利要求4所述的定位器,其中,所述處理器被配置為確定相位差相對于距離的比率,所述距離是基于所述位置信息確定的。
6.如前述權利要求中任一項所述的定位器,包括通信接口,其用于與便攜計算設備進行通信,其中,所述處理器被配置為將所述電流測量結果和電壓測量結果傳輸至所述便攜計算設備。
7.如權利要求4所述的定位器,其中,所述處理器被配置為將所述電流測量結果和電壓測量結果實時傳輸至所述便攜計算設備。
8.如權利要求2所述的定位器,其中,所述處理器被配置為在使用時獲得調查測量結果數據,所述調查測量結果數據包括:關于沿著所述定位器所經過的調查路徑的多個不同位置中的每一個位置的電流測量結果和電壓測量結果,其中,所述電流測量結果是基于所述電流信號,并且所述電壓測量結果是基于所述電壓信號。
9.如權利要求8所述的定位器,其中,所述調查測量結果數據還包括:關于沿著所述定位器所經過的調查路徑的多個不同位置中的每一個位置的、在所述電流信號和所述電壓信號之間的所述相位差的相位差測量結果。
10.如權利要求9所述的定位器,其中,所述處理器被配置為,基于所述相位差測量結果隨著在所述調查路徑一部分上的距離的變化,確定與埋在所述調查路徑上的地面以下的絕緣導體的絕緣層中的缺陷的長度相關的信息。
11.如權利要求10所述的定位器,其中,所述信息是所述缺陷的長度的估計值。
12.如權利要求9或10所述的定位器,其中,所述定位器包括顯示裝置,所述處理器被配置為在所述顯示裝置上顯示以下曲線中的至少一個:所述電流測量結果相對于距離的曲線;所述電壓測量結果相對于距離的曲線;以及,所述相位差測量結果相對于距離的曲線。
13.如前述權利要求8至12中任一項所述的定位器,包括用于與外部計算設備通信的通信接口,其中,所述處理器被配置為將所述電流測量結果和電壓測量結果傳輸至所述便攜計算設備。
14.如權利要求12所述的定位器,其中,所述外部計算設備為便攜計算設備。
15.如前述權利要求中任一項所述的定位器,其中,在所述絕緣導體中所攜帶的交流電具有低頻率分量和相對較高頻率分量,其中,所述磁力計被布置為探測由所述低頻率分量產生的磁場。
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