[發(fā)明專利]用于光纖的測量設備和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201780081138.0
• 申請日: 2017-12-21
• 公開（公告）號: CN110140037B
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發(fā)明（設計）人: F·比西埃;B·桑吉內蒂
• 申請（專利權）人: 艾迪量子股份公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01D5/353
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 周家新

1.一種用于測量光纖(1400)中的反射的測量設備(3000、5000、6000)，所述測量設備包括：

發(fā)射裝置(3100)，其連接至光纖(1400)并被配置成用于將光發(fā)射到光纖(1400)中，

測量裝置(3300、5300、6300)，其連接至光纖(1400)并被配置成用于接收來自光纖(1400)的反射光，

其特征在于，

測量裝置包括第一光子探測器(3310)和第二光子探測器(3311)，

其中，基于第一光子探測器(3310)的輸出控制第二光子探測器(3311)的操作、或控制到達第二光子探測器(3311)的反射光、或控制第二光子探測器(3311)的操作和到達第二光子探測器(3311)的反射光，

其中，所述測量設備還包括連接在光纖(1400)與第二光子探測器(3311)之間的光學延遲元件(3370)，

其中，光學延遲元件(3370)向來自光纖(1400)的反射光引入一延遲ΔT2。

2.根據權利要求1所述的測量設備(5000、6000)，其特征在于，所述測量裝置還包括連接在光纖(1400)與第二光子探測器(3311)之間的強度調制器(5360)，并且

其中，基于第一光子探測器(3310)的輸出驅動強度調制器(5360)，以便控制到達第二光子探測器(3311)的反射光。

3.根據權利要求1所述的測量設備(3000、5000、6000)，其特征在于，

所述延遲ΔT2等于或長于第一光子探測器(3310)檢測反射光所需的時間。

4.根據權利要求2或3所述的測量設備(3000、5000、6000)，其特征在于，

發(fā)射裝置(3100)被配置成用于發(fā)射具有預定脈沖持續(xù)時間的光脈沖，

強度調制器(5360)被配置為能夠以等于或優(yōu)選地大于脈沖持續(xù)時間的切換時間ΔT3切換。

5.根據權利要求4所述的測量設備(3000、5000、6000)，其特征在于，

切換時間ΔT3是脈沖持續(xù)時間的至少1.5倍。

6.根據權利要求4所述的測量設備(3000、5000、6000)，其特征在于，

切換時間ΔT3是脈沖持續(xù)時間的至少3倍。

7.根據權利要求4所述的測量設備(3000、5000、6000)，其特征在于，

切換時間ΔT3是脈沖持續(xù)時間的至少5倍。

8.根據權利要求1-3中任一項所述的測量設備(6000)，其特征在于，所述測量設備還包括連接在光纖(1400)與第二光子探測器(3311)之間的光學衰減器(6380)。