[發(fā)明專利]用于光纖的測(cè)量設(shè)備和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780081138.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110140037B | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | F·比西埃;B·桑吉內(nèi)蒂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 艾迪量子股份公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/00 | 分類號(hào): | G01M11/00;G01D5/353 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 周家新 |
| 地址: | 瑞士*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 光纖 測(cè)量 設(shè)備 方法 | ||
1.一種用于測(cè)量光纖(1400)中的反射的測(cè)量設(shè)備(3000、5000、6000),所述測(cè)量設(shè)備包括:
發(fā)射裝置(3100),其連接至光纖(1400)并被配置成用于將光發(fā)射到光纖(1400)中,
測(cè)量裝置(3300、5300、6300),其連接至光纖(1400)并被配置成用于接收來(lái)自光纖(1400)的反射光,
其特征在于,
測(cè)量裝置包括第一光子探測(cè)器(3310)和第二光子探測(cè)器(3311),
其中,基于第一光子探測(cè)器(3310)的輸出控制第二光子探測(cè)器(3311)的操作、或控制到達(dá)第二光子探測(cè)器(3311)的反射光、或控制第二光子探測(cè)器(3311)的操作和到達(dá)第二光子探測(cè)器(3311)的反射光,
其中,所述測(cè)量設(shè)備還包括連接在光纖(1400)與第二光子探測(cè)器(3311)之間的光學(xué)延遲元件(3370),
其中,光學(xué)延遲元件(3370)向來(lái)自光纖(1400)的反射光引入一延遲ΔT2。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量設(shè)備(5000、6000),其特征在于,所述測(cè)量裝置還包括連接在光纖(1400)與第二光子探測(cè)器(3311)之間的強(qiáng)度調(diào)制器(5360),并且
其中,基于第一光子探測(cè)器(3310)的輸出驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度調(diào)制器(5360),以便控制到達(dá)第二光子探測(cè)器(3311)的反射光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量設(shè)備(3000、5000、6000),其特征在于,
所述延遲ΔT2等于或長(zhǎng)于第一光子探測(cè)器(3310)檢測(cè)反射光所需的時(shí)間。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的測(cè)量設(shè)備(3000、5000、6000),其特征在于,
發(fā)射裝置(3100)被配置成用于發(fā)射具有預(yù)定脈沖持續(xù)時(shí)間的光脈沖,
強(qiáng)度調(diào)制器(5360)被配置為能夠以等于或優(yōu)選地大于脈沖持續(xù)時(shí)間的切換時(shí)間ΔT3切換。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量設(shè)備(3000、5000、6000),其特征在于,
切換時(shí)間ΔT3是脈沖持續(xù)時(shí)間的至少1.5倍。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量設(shè)備(3000、5000、6000),其特征在于,
切換時(shí)間ΔT3是脈沖持續(xù)時(shí)間的至少3倍。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量設(shè)備(3000、5000、6000),其特征在于,
切換時(shí)間ΔT3是脈沖持續(xù)時(shí)間的至少5倍。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的測(cè)量設(shè)備(6000),其特征在于,所述測(cè)量設(shè)備還包括連接在光纖(1400)與第二光子探測(cè)器(3311)之間的光學(xué)衰減器(6380)。
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