[發(fā)明專利]具有折疊部分和探針組件的彈簧加載探針

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201780080705.0
• 申請(qǐng)日: 2017-12-14
• 公開（公告）號(hào): CN110226092A
• 公開（公告）日: 2019-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: V.特雷伯格斯;J.布蘭德斯;T.埃文斯
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 艾科塞拉公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067;H01R13/24
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張雨

一種用于與測(cè)試設(shè)備一起使用的測(cè)試探針。所述測(cè)試探針包括第一部分、第二部分和第三部分，在所述第一部分與所述第二部分之間以及所述第二部分與所述第三部分之間具有鉸鏈。所述第一部分在第一鉸鏈處折疊在所述第二部分之上，所述第三部分在第二鉸鏈處折疊在所述第二部分之上，其中所述第二部分堆疊在所述第一部分與所述第三部分之間。所述測(cè)試探針能夠從第一非壓縮狀態(tài)壓縮到第二壓縮狀態(tài)。

優(yōu)先權(quán)申請(qǐng)

本申請(qǐng)要求2016年12月16日提交的美國(guó)臨時(shí)申請(qǐng)?zhí)?2/435,366的優(yōu)先權(quán)。上文所提及申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容特此以引用的方式并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

彈簧接觸組件和可用于測(cè)試探針的組件以及相關(guān)方法。

背景技術(shù)

集成電路(IC)越來越多地在晶片級(jí)進(jìn)行封裝。晶片級(jí)芯片尺寸封裝(WLCSP)在改進(jìn)的電氣性能、小成品封裝尺寸和經(jīng)濟(jì)制造方面提供若干優(yōu)點(diǎn)。為了充分利用經(jīng)濟(jì)封裝方面，這些裝置也在晶片級(jí)進(jìn)行測(cè)試。

隨著WLCSP的尺寸變小，觸點(diǎn)之間的間距也在縮減。例如，0.4 mm的間距正在變?yōu)?.3 mm，并且對(duì)0.2和更小的需求在增長(zhǎng)。傳統(tǒng)晶片探針技術(shù)可應(yīng)對(duì)更精細(xì)的間距，但不適合于晶片級(jí)測(cè)試(WLT)(最終測(cè)試)所需的更高的電氣性能。

WLT需要高帶寬來進(jìn)行RF裝置的全速測(cè)試，需要低電感來進(jìn)行清潔功率輸送，并且需要高載流能力來進(jìn)行一些DC參數(shù)測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

一種用于與測(cè)試設(shè)備一起使用的測(cè)試探針。所述測(cè)試探針包括第一部分、第二部分和第三部分，在所述第一部分與所述第二部分之間以及所述第二部分與所述第三部分之間具有鉸鏈。所述第一部分在第一鉸鏈處折疊在所述第二部分之上，所述第三部分在第二鉸鏈處折疊在所述第二部分之上，其中所述第二部分堆疊在所述第一部分與所述第三部分之間。所述測(cè)試探針能夠從第一非壓縮狀態(tài)壓縮到第二壓縮狀態(tài)。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第一鉸鏈?zhǔn)堑谝画h(huán)圈。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第二鉸鏈?zhǔn)堑诙h(huán)圈。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第二環(huán)圈朝向所述第一部分彎曲并且提供用于冗余電流流動(dòng)。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第一部分、所述第二部分或所述第三部分中的至少一者包括彈簧。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第一部分包括蛇形扁平壓縮彈簧。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第二部分包括蛇形扁平拉伸彈簧。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第三部分包括蛇形扁平壓縮彈簧。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第一部分包括蛇形壓縮彈簧，所述第二部分包括蛇形拉伸彈簧，并且所述第三部分包括蛇形壓縮彈簧。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第二部分是不變形剛性部分，并且所述第一部分和所述第三部分包括壓縮彈簧。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，所述第二部分包括拉伸彈簧，并且所述第一部分和所述第三部分包括不變形剛性部分。

在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方案中，一種測(cè)試設(shè)備包括：外殼；至少一個(gè)測(cè)試探針，所述至少一個(gè)測(cè)試探針從第一端延伸到第二端，并且所述至少一個(gè)測(cè)試探針設(shè)置在所述外殼內(nèi)。所述測(cè)試探針包括第一部分，所述第一部分在第一部分第一端與第一部分第二端之間延伸且在其間具有第一部分中間部分。所述測(cè)試探針包括第二部分，所述第二部分在第二部分第一端與第二部分第二端之間延伸且在其間具有第二部分中間部分。所述測(cè)試探針還包括第三部分，所述第三部分在第三部分第一端與第三部分第二端之間延伸且在其間具有第三部分中間部分，其中所述第二部分設(shè)置在所述第一部分與所述第三部分之間。