[發明專利]探測器構造

有效

• 申請號: 201780079256.8
• 申請日: 2017-09-26
• 公開（公告）號: CN110088632B
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 劍崎真一;北市幸裕
• 申請（專利權）人: 株式會社村田制作所
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073;H01R13/15;H01R13/24;H01R24/38
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李慧;王瑋

本發明提供探測器構造，用于進行具有至少一個端子的連接器的特性檢查，具備插頭、同軸探測器、凸緣、殼體以及彈簧，殼體的一側的端部和凸緣的貫通孔具有在殼體的一側的端部與凸緣的貫通孔嵌合上的狀態下限制殼體向周向的旋轉的外形，由此能夠更精度良好地進行連接器的端子的特性檢查。

技術領域

本發明涉及連接器用的探測器構造。

背景技術

以往，公開了用于進行作為被檢查體的連接器的特性檢查的探測器構造(例如，參照專利文獻1)。

專利文獻1的探測器構造是用于進行同軸連接器的特性檢查的探測器構造，特別是，對為了使多個信號流動而設置有多個端子的多極連接器進行特性檢查。專利文獻1的探測器構造具備能夠與多極連接器的多個端子同時接觸的多個中心導體。

專利文獻1：國際公開第2016/072193號公報

另一方面，在連接器的探測器構造中，要求提高端子的特性檢查的精度。在像專利文獻1的探測器構造那樣使多個中心導體與多個端子同時接觸的情況下，產生端子與中心導體的錯位，特性檢查的精度容易降低。要求包含專利文獻1所公開的探測器構造在內，能夠更精度良好地進行端子的特性檢查的技術的開發。

發明內容

因此，本發明的目的在于解決上述問題，提供一種探測器構造，能夠更精度良好地進行連接器的端子的特性檢查。

為了實現上述目的，本發明的探測器構造用于進行具有至少一個端子的連接器的特性檢查，其中，該探測器構造具備：插頭，其具有供所述連接器嵌合的槽部；同軸探測器，其插通于所述插頭內，并且在與所述插頭的所述槽部嵌合的所述連接器上的所述端子對應的位置使導通銷露出；凸緣，其在與所述導通銷露出一側相反一側相對于所述插頭隔開間隔的位置，用來固定于用于進行所述特性檢查的設備，并形成了供所述同軸探測器插通的貫通孔；殼體，其一側的端部從與配置所述插頭側相反一側向所述凸緣的所述貫通孔嵌合，在內包所述同軸探測器的同時朝向所述插頭延伸，另一側的端部安裝于所述插頭；以及彈簧，其安裝在所述插頭與所述凸緣之間，設置在包圍所述殼體的位置，對所述插頭向遠離所述凸緣的方向施力，所述殼體的所述一側的端部和所述凸緣的所述貫通孔具有，在所述殼體的所述一側的端部與所述凸緣的所述貫通孔嵌合上的狀態下，限制所述殼體向周向的旋轉的外形。

根據本發明的探測器構造，能夠更精度良好地進行連接器的端子的特性檢查。

附圖說明

本發明的這些方式和特征根據與關于附圖的優選的實施方式相關的下面的描述而變得清楚。

圖1是實施方式1的探測器構造的概略立體圖。

圖2是表示探測器構造的一部分的概略立體圖。

圖3是表示探測器構造的一部分的概略立體圖。

圖4是表示插通到插頭內的多根同軸探測器的概略立體圖。

圖5是表示1根同軸探測器的概略立體圖。

圖6是用于對同軸探測器與多極連接器的端子的關系進行說明的概略立體圖。

圖7是插頭的嵌合部的局部性的概略縱剖視圖。

圖8A是用于對在槽部配置多極連接器而進行端子的特性檢查的方法進行說明的概略剖視圖。

圖8B是用于對在槽部配置多極連接器而進行端子的特性檢查的方法進行說明的概略剖視圖。

圖9是探測器構造的分解立體圖。

圖10是探測器構造的分解立體圖。

圖11是探測器構造的概略縱剖視圖。

圖12A是表示殼體與凸緣嵌合的嵌合狀態的概略立體圖。