[發明專利]伽馬輻射探測器的保護件有效
| 申請號: | 201780079145.7 | 申請日: | 2017-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN110100191B | 公開(公告)日: | 2023-05-30 |
| 發明(設計)人: | C·科克 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/161 | 分類號: | G01T1/161;G01T1/20 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪貴 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輻射 探測器 保護 | ||
1.一種組合探測器(660),所述組合探測器包括伽馬輻射探測器(100)和X射線輻射探測器(661);
所述伽馬輻射探測器(100)包括:
伽馬閃爍體陣列(10lx,y),所述伽馬閃爍體陣列包括多個第一閃爍體元件(1011,1、1012,1),用于響應于接收到的伽馬量子生成第一閃爍光;
光學調制器(102);和
第一光電探測器陣列(103a,b),所述第一光電探測器陣列用于探測由所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)生成的所述第一閃爍光;
其中,所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)、所述光學調制器(102)和所述第一光電探測器陣列(103a,b)被沿伽馬輻射接收方向(104)以疊層構型設置;并且所述光學調制器(102)被設置在所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)與所述第一光電探測器陣列(103a,b)之間,用于通過控制由所述第一光電探測器陣列(103a,b)探測到的所述第一閃爍光的量來調制所述第一閃爍光在所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)與所述第一光電探測器陣列(103a,b)之間的傳輸;
其中,所述光學調制器(102)包括至少一個光學調制器像素,所述光學調制器像素在垂直于所述伽馬輻射接收方向(104)的平面中具有橫截面區域(102’);
其中,所述第一光電探測器陣列(103a,b)包括多個光電探測器像素(1031,1、1032,1),每個光電探測器像素在垂直于所述伽馬輻射接收方向(104)的所述平面中具有橫截面區域(103’a,b);
其中,每個光學調制器像素的橫截面區域(102’)大于或等于每個光電探測器像素的橫截面區域(103’a,b);以及
其中,所述X射線輻射探測器(661)被沿所述伽馬輻射接收方向(104、604)設置在所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)的與所述第一光電探測器陣列(103a,b)相反的一側上。
2.根據權利要求1所述的組合探測器,其中,所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)包括伽馬輻射接收面(106)和相反的閃爍光輸出面(107);
其中,所述閃爍光輸出面(107)被設置成面向所述光學調制器(102);
其中,所述伽馬輻射探測器(100)還包括用于準直伽馬量子的伽馬輻射準直器(108);以及
其中,所述伽馬閃爍體陣列(101x,y)的所述伽馬輻射接收面(106)被布置成面向所述伽馬輻射準直器(108)。
3.根據權利要求1至2中的任一項所述的組合探測器,其中,所述光學調制器被配置成通過調制所述第一閃爍光的吸收、反射和散射中的至少一種來調制所述第一閃爍光在所述伽馬閃爍體陣列與所述第一光電探測器陣列之間的傳輸。
4.根據權利要求1-2中的任一項所述的組合探測器,其中,所述光學調制器包括液晶裝置、電致變色裝置、MEMS裝置、電潤濕裝置和電泳裝置中的任一種。
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