[發明專利]靜電電容檢測裝置以及輸入裝置有效
| 申請號： | 201780079128.3 | 申請日： | 2017-11-15 |
| 公開（公告）號： | CN110088637B | 公開（公告）日： | 2021-07-27 |
| 發明（設計）人： | 筱井潔;藤由達巳;寒川井伸一 | 申請（專利權）人： | 阿爾卑斯阿爾派株式會社 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26;G06F3/041;G06F3/044;H03K17/955 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 趙琳琳 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 靜電 電容 檢測 裝置 以及 輸入 | ||
1.一種靜電電容檢測裝置，檢測接近檢測電極的對象物與所述檢測電極之間的靜電電容，其中，
所述靜電電容檢測裝置具有：
第1電壓輸出電路，輸出供給到與所述檢測電極接近配置的屏蔽電極的第1交流電壓；
第2電壓輸出電路，輸出頻率和相位與所述第1交流電壓相等、且振幅比所述第1交流電壓小的第2交流電壓；以及
電流輸出電路，向所述檢測電極輸出驅動電流使得所述檢測電極的電壓與所述第2交流電壓的電壓差變小，并且輸出與該驅動電流相應的檢測信號，
所述第2電壓輸出電路輸出振幅被調整為不存在接近所述檢測電極的所述對象物的狀態下的所述驅動電流成為零的所述第2交流電壓，
所述第2電壓輸出電路輸出使所述第1交流電壓衰減后的電壓作為所述第2交流電壓，
所述第2電壓輸出電路包含第1電容器與第2電容器的串聯電路，
所述第1電壓輸出電路在所述串聯電路的兩端施加所述第1交流電壓，
在所述第2電容器中產生與所述第1交流電壓相應的所述第2交流電壓。
2.根據權利要求1所述的靜電電容檢測裝置，其中，
所述第1電容器與所述第2電容器的靜電電容比具有被調整為不存在接近所述檢測電極的所述對象物的狀態下的所述驅動電流成為零的值。
3.根據權利要求2所述的靜電電容檢測裝置，其中，
所述第2電容器的靜電電容值能夠調整，所述第2電容器具有被調整為不存在接近所述檢測電極的所述對象物的狀態下的所述驅動電流成為零的靜電電容值。
4.一種靜電電容檢測裝置，檢測接近檢測電極的對象物與所述檢測電極之間的靜電電容，其中，
所述靜電電容檢測裝置具有：
第1電壓輸出電路，輸出供給到與所述檢測電極接近配置的屏蔽電極的第1交流電壓；
第2電壓輸出電路，輸出頻率和相位與所述第1交流電壓相等、且振幅比所述第1交流電壓小的第2交流電壓；以及
電流輸出電路，向所述檢測電極輸出驅動電流使得所述檢測電極的電壓與所述第2交流電壓的電壓差變小，并且輸出與該驅動電流相應的檢測信號，
所述第2電壓輸出電路輸出振幅被調整為不存在接近所述檢測電極的所述對象物的狀態下的所述驅動電流成為零的所述第2交流電壓，
所述第2電壓輸出電路輸出使所述第1交流電壓衰減后的電壓作為所述第2交流電壓，
所述電流輸出電路包含：
運算放大器，將與所述檢測電極連接的反相輸入端子和被施加所述第2交流電壓的同相輸入端子的電壓差進行放大，并將該放大結果作為所述檢測信號輸出；
反饋電容器，設置于所述運算放大器的所述檢測信號的輸出端子與所述反相輸入端子之間的路徑；
反饋電阻，與所述反饋電容器并聯連接；以及
第1電阻，設置于所述運算放大器的所述反相輸入端子與所述檢測電極之間的路徑。
5.根據權利要求4所述的靜電電容檢測裝置，其中，
所述第1電壓輸出電路以及所述第2電壓輸出電路分別能夠變更所輸出的交流電壓的頻率，
所述第1電阻是電阻值根據所述第1交流電壓以及所述第2交流電壓的頻率而變更的可變電阻。
6.根據權利要求4所述的靜電電容檢測裝置，其中，
所述反饋電容器的靜電電容值以及所述反饋電阻的電阻值分別能夠調整。
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