[發(fā)明專利]新型化合物、半導(dǎo)體材料、以及使用了其的膜以及半導(dǎo)體的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780078579.5 | 申請日: | 2017-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN110088072B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 中杉茂正;柳田浩志;黑澤和則;關(guān)藤高志;濱祐介;松浦裕里子 | 申請(專利權(quán))人: | 默克專利有限公司 |
| 主分類號: | C07C39/04 | 分類號: | C07C39/04;H10K85/20;H10K85/60 |
| 代理公司: | 北京三幸商標(biāo)專利事務(wù)所(普通合伙) 11216 | 代理人: | 劉卓然 |
| 地址: | 德國達*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 新型 化合物 半導(dǎo)體材料 以及 使用 半導(dǎo)體 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體的制造方法,其包含以下的工序:
在基板上施加一層下層膜形成組合物,
將該層進行固化而制造下層膜,其中將該層進行固化的條件為在150~650℃煅燒30~180秒,
在該下層膜的上方形成一層光致抗蝕組合物,
將該光致抗蝕組合物進行固化而形成光致抗蝕層,
將由該光致抗蝕層進行了覆膜的基板進行曝光,
將經(jīng)曝光的基板進行顯影而形成抗蝕圖案,
將該抗蝕圖案設(shè)為掩模進行蝕刻,
對基板進行加工,
其中,該下層膜形成組合物包含由下述式(8)、(9)、(10)或者(11)表示的化合物構(gòu)成的半導(dǎo)體材料與溶劑,
[化學(xué)式viii]
[化學(xué)式ix]
[化學(xué)式x]
[化學(xué)式xi]
A為-OH或者-NH2,
R1為氫、-OH、-NH2、-SH、或者與苯基環(huán)進行結(jié)合的直接鍵,
R1’為氫、-OH、-NH2、-SH、或者與苯基環(huán)進行結(jié)合的直接鍵,
R2為氫、-OH、-NH2、-SH、或者與苯基環(huán)進行結(jié)合的直接鍵,
R2’為氫、-OH、-NH2、-SH、或者與苯基環(huán)進行結(jié)合的直接鍵,
R3為氫、-OH、-NH2、-SH、或者與苯基環(huán)進行結(jié)合的直接鍵,
R3’為氫、-OH、-NH2、-SH、或者與苯基環(huán)進行結(jié)合的直接鍵,
n1為0、1或2,
n2為0、1或2,
n3為0、1或2,且
m為0、1、2或3。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體的制造方法,其中,上述式(8)、(9)、(10)或者(11)的化合物具有42~120個碳原子數(shù)。
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