[發明專利]用于采集由介質中的粒子發射的熒光的設備

有效

• 申請號: 201780078344.6
• 申請日: 2017-12-12
• 公開（公告）號: CN110088598B
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發明（設計）人: 魯洛夫·詹森
• 申請（專利權）人: 醫學診斷公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01J3/44;G01N15/14;G02B6/12;G02B6/28
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 許春波;王漪

1.一種用于采集由介質中的粒子發射的熒光的設備，該設備包括：

基板，該基板具有用于容納包括能夠發射熒光的粒子的介質的腔室，

第一波導，該第一波導布置在該基板處并延伸到該腔室中，

其中該第一波導被布置為接收來自光源的激發光并沿著該第一波導的第一方向引導該激發光穿過該腔室，并且在通過該激發光激發這些粒子之后采集由這些粒子發射的熒光，以及

耦合器，該耦合器布置在該第一波導處，

其中該耦合器包括第二波導，該第二波導被布置為在其端部中的一個端部輸出所采集的熒光，并且

其中該第二波導相對于該第一波導被布置為使得在與該第一方向相反的方向上行進的所采集的熒光從該第一波導直接耦合輸出到第二波導中。

2.如權利要求1所述的設備，其中該耦合器相對于該第一方向在該腔室上游布置在該第一波導處。

3.如權利要求1或2所述的設備，其中該第二波導被布置為與該第一波導相鄰，從而允許在與該第一方向相反的方向上行進的所采集的熒光從該第一波導直接耦合輸出到該第二波導中。

4.如權利要求1或2所述的設備，其中該耦合器是定向耦合器。

5.如權利要求4所述的設備，其中該第二波導被布置為在第一端部輸出所采集的熒光，并且在第二端部輸出從該第一波導耦合到該第二波導中的激發光。

6.如權利要求1或2所述的設備，其中該耦合器是波長分束器。

7.如權利要求1或2所述的設備，其中該耦合器是多模干涉耦合器。

8.如權利要求1或2所述的設備，其中該第一波導具有與該介質中能夠發射熒光的粒子的濃度無關地進行選擇的長度。

9.如權利要求1或2所述的設備，其中該基板、該第一波導和該耦合器布置在可拋棄芯片上。

10.一種用于對由介質中的粒子發射的熒光進行檢測的系統，該系統包括：

根據權利要求1-9中任一項所述的用于采集由介質中的粒子發射的熒光的設備，

光源，該光源耦合到該設備的該第一波導以便將激發光輸入到該第一波導，以及

檢測器，該檢測器耦合到該設備的第二波導以便對從該第二波導的端部中的一個端部輸出的所采集的熒光進行檢測。

11.如權利要求10所述的系統，其中該系統包括可拋棄部件和非可拋棄部件，該可拋棄部件被布置為連接至該非可拋棄部件，

其中該光源和該檢測器布置在該非可拋棄部件上，并且該設備布置在該可拋棄部件上。

12.如權利要求10-11中任一項所述的系統，其中該耦合器是定向耦合器，并且其中該第二波導被布置為在第一端部輸出所采集的熒光，并且在第二端部輸出從該第一波導耦合到該第二波導中的激發光，并且

其中該檢測器進一步耦合到該第二波導的第二端部，以便對在所述第二端部輸出的光進行檢測，并且基于在該第二波導的第二端部檢測到的光的功率相對于輸入到該第一波導的激發光的功率來確定該定向耦合器的損耗。

13.一種診斷裝置，該診斷裝置包括根據權利要求1-9中任一項所述的設備或權利要求10-12中任一項所述的系統。