[發明專利]用于測量熒光壽命的裝置和方法

有效

• 申請號: 201780077817.0
• 申請日: 2017-11-17
• 公開（公告）號: CN110178016B
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 李相允;姜珉求;元榮載;李承洛;樸炳俊;金炳淵
• 申請（專利權）人: 英泰克普拉斯有限公司;五松尖端醫療產業振興財團
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G02B21/00;G02B26/10;G01J1/44;G02B21/06
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;楊利劍

1.一種熒光壽命測量裝置，包括：

照射光產生單元，其構造成產生照射光；

熒光光子檢測單元，其構造成收集通過用所述照射光照射包括熒光分子的樣品而產生的熒光光子；

轉換單元，其構造成將收集到的熒光光子轉換為第一時鐘信號，并將未經過所述樣品的照射光轉換為第二時鐘信號；

第一模塊，其構造成根據所述轉換單元分析所述收集到的熒光光子的熒光壽命，所述第一模塊包括模擬平均時延(AMD)測量單元，所述模擬平均時延測量單元構造成使用所述第一時鐘信號的平均時間與所述第二時鐘信號的平均時間之間的差來計算所述熒光壽命；

控制單元，其構造成根據所述第一模塊所分析的熒光壽命來指定所述樣品的關注范圍(ROI)，并且所述控制單元將所述照射光的脈沖周期調節為所述熒光壽命的五倍或更多；以及

第二模塊，其構造成分析對應于所述ROI的熒光光子的熒光壽命，所述第二模塊包括時間相關單光子計數(TCSPC)測量單元，所述時間相關單光子計數測量單元構造成累積一個熒光光子的時間數據以計算所述熒光壽命。

2.一種熒光壽命測量方法，包括：

光產生步驟，在所述光產生步驟中，產生照射光；

第一照射步驟，在所述第一照射步驟中，用所述照射光照射樣品；

模擬平均時延(AMD)測量步驟，在所述模擬平均時延測量步驟中，計算熒光光子檢測單元所收集的熒光光子的熒光壽命；

控制步驟，在所述控制步驟中，根據所述AMD測量步驟中所計算的熒光壽命來指定所述樣品的關注范圍(ROI)；

將所述照射光的脈沖周期調節為所述熒光壽命的五倍或更多的步驟；以及

時間相關單光子計數(TCSPC)測量步驟，在所述時間相關單光子計數測量步驟中，計算對應于所述ROI的熒光光子的熒光壽命。

3.根據權利要求2所述的熒光壽命測量方法，在所述控制步驟之后還包括：

調節步驟，在所述調節步驟中，將所述照射光的強度降低到單個光子水平；以及

第二照射步驟，在所述第二照射步驟中，重新收集通過用調節后的照射光重新照射所述ROI而產生的熒光光子，

其中，所述TCSPC測量步驟包括計算在所述第二照射步驟中檢測到的熒光光子的熒光壽命。