[發明專利]用于垂直橫截面成像的多光子內窺顯微鏡

有效

• 申請號: 201780074828.3
• 申請日: 2017-12-04
• 公開（公告）號: CN110062603B
• 公開（公告）日: 2023-06-16
• 發明（設計）人: 肯·奧爾德姆;J·崔;段西雨;托馬斯·D·王;李海軍
• 申請（專利權）人: 密歇根大學董事會
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;G01N21/64;G01N33/483;G02B3/00
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 郭艷芳;王琦

1.一種多光子光學探針，包含：

探針殼體，其具有近端和定位在樣品處的遠端，所述探針殼體適于產生輸出激光能量；

橫向掃描臺，其聯接到橫向鏡組件并且至少部分地設置在所述探針殼體中，所述橫向掃描臺適于通過移動所述橫向鏡組件在所述樣品的平面掃描區域上掃描所述輸出激光能量；和

軸向掃描臺，其聯接到軸向鏡組件并且至少部分地設置在所述探針殼體中，所述軸向掃描臺適于在所述樣品的深度范圍內掃描所述輸出激光能量，其中所述深度范圍和所述平面掃描區域形成三維體積；

其中所述軸向掃描臺包含圍繞所述軸向鏡組件軸向地定位在水平平面中的多個致動腿，并且

其中所述橫向掃描臺和所述軸向掃描臺是被定位為提供單軸多光子探針的獨立掃描臺。

2.根據權利要求1所述的多光子光學探針，其中所述多個致動腿圍繞所述軸向鏡組件對稱地定位。

3.根據權利要求1所述的多光子光學探針，其中所述軸向掃描臺包含至少一個傳感器，所述傳感器適于感測所述多個致動腿中的至少一個的位移。

4.根據權利要求3所述的多光子光學探針，其中所述至少一個傳感器包含設置在至少一個致動腿上的壓阻傳感器。

5.根據權利要求1所述的多光子光學探針，其進一步包含圍繞所述軸向鏡組件軸向地定位的多個電連接器。

6.根據權利要求5所述的多光子光學探針，其中所述多個電連接器中的每一個包含從頂部電極和底部電極延伸到在所述軸向掃描臺上圖案化的接合墊的電跳線。

7.根據權利要求6所述的多光子光學探針，其中所述電跳線包含聚對二甲苯膜、二氧化硅層和金屬層。

8.根據權利要求1所述的多光子光學探針，其進一步包含適于掃描所述樣品的遠端光學器件。

9.根據權利要求8所述的多光子光學探針，其中所述遠端光學器件的直徑小于3.4mm。

10.根據權利要求1所述的多光子光學探針，其進一步包含至少部分地設置在所述探針殼體中的激光器和光收集電子器件，所述激光器和光收集電子器件包含半波片、線性偏振器和至少一個透鏡。

11.根據權利要求8所述的多光子光學探針，其中所述橫向掃描臺、所述軸向掃描臺和所述遠端光學器件通過光纖連接聯接。

12.根據權利要求8所述的多光子光學探針，其中所述橫向掃描臺鄰近所述遠端光學器件定位，并且所述軸向掃描臺遠離所述遠端光學器件定位。

13.一種用于多光子光學探針的軸向掃描臺，所述軸向掃描臺包含：

框架；

鏡平臺，其聯接到所述框架，所述鏡平臺適于支撐鏡元件；

多個致動器腿，其聯接到所述框架和所述鏡平臺，所述多個致動器腿適于沿垂直軸升高所述鏡平臺；和

多個電連接器，其圍繞所述鏡平臺定位；

其中所述多個致動器腿和所述多個電連接器圍繞所述鏡平臺軸向地定位。

14.根據權利要求13所述的軸向掃描臺，其中所述多個致動器腿和所述多個電連接器圍繞軸向鏡組件對稱地定位。

15.根據權利要求13所述的軸向掃描臺，其進一步包含至少一個傳感器，所述傳感器適于感測所述多個致動器腿中的至少一個的位移。

16.根據權利要求15所述的軸向掃描臺，其中所述至少一個傳感器包含設置在至少一個致動器腿上的壓阻傳感器。