[發明專利]利用太赫茲波的脫氧核糖核酸分析方法及脫氧核糖核酸分析裝置

在審

• 申請號: 201780074447.5
• 申請日: 2017-11-16
• 公開（公告）號: CN110023738A
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 孫周赫;千和暎;梁希真
• 申請（專利權）人: 首爾市立大學校產學協力團;首爾大學醫院
• 主分類號: G01N21/3581
• 分類號: G01N21/3581;C12Q1/6886
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 鄧毅;黃綸偉

1.一種脫氧核糖核酸分析方法，其中，包括：

(a)步驟，向甲基化的脫氧核糖核酸照射太赫茲波；

(b)步驟，檢測因上述甲基化的脫氧核糖核酸而反射的太赫茲波；

(c)步驟，檢測在上述(b)步驟中檢測的太赫茲波的波形的峰；以及

(d)步驟，通過在上述(c)步驟中檢測的上述峰來判斷癌癥的種類。

2.根據權利要求1所述的脫氧核糖核酸分析方法，其中，上述(c)步驟包括：

(c-1)步驟，利用第一高斯函數和第二高斯函數的合來擬合上述波形；以及

(c-2)步驟，檢測上述第一高斯函數的峰及與上述第一高斯函數的峰相對應的上述太赫茲波的頻率。

3.根據權利要求2所述的脫氧核糖核酸分析方法，其中，上述(d)步驟包括通過在上述(c-2)步驟中檢測的與上述第一高斯函數的峰相對應的上述太赫茲波的頻率來判斷上述癌癥的種類的步驟。

4.根據權利要求3所述的脫氧核糖核酸分析方法，其中，上述(a)步驟包括在改變上述太赫茲波的頻率并向上述甲基化的脫氧核糖核酸照射上述太赫茲波的步驟。

5.一種脫氧核糖核酸分析裝置，其中，包括：

太赫茲波照射部，向甲基化的脫氧核糖核酸照射太赫茲波；

太赫茲波檢測部，檢測因上述甲基化的脫氧核糖核酸而反射的太赫茲波；

峰檢測部，檢測由上述太赫茲波檢測部檢測的太赫茲波的波形的峰；以及

判斷部，通過由上述峰檢測部檢測的上述峰來判斷癌癥的種類。

6.根據權利要求5所述的脫氧核糖核酸分析裝置，其中，上述峰檢測部包括：

波形擬合部，利用第一高斯函數和第二高斯函數的和來擬合上述波形；以及

高斯峰檢測部，檢測上述第一高斯函數的峰及與上述第一高斯函數的峰相對應的上述太赫茲波的頻率。

7.根據權利要求6所述的脫氧核糖核酸分析裝置，其中，上述判斷部通過由上述高斯峰檢測部檢測的與上述第一高斯函數的峰相對應的上述太赫茲波的頻率來判斷上述癌癥的種類。

8.根據權利要求7所述的脫氧核糖核酸分析裝置，其中，太赫茲波照射部改變上述太赫茲波的頻率并向上述甲基化的脫氧核糖核酸照射上述太赫茲波。