[發明專利]漏電檢測裝置

有效

• 申請號: 201780073637.5
• 申請日: 2017-11-16
• 公開（公告）號: CN110036303B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 生島剛;西垣朋一;福尾尚紀
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種漏電檢測裝置，其特征在于，具有：

交流漏電檢測部，其檢測交流漏電電流；

直流漏電檢測部，其檢測直流漏電電流；及

邏輯或電路，其計算由所述交流漏電檢測部輸出的第一輸出信號與由所述直流漏電檢測部輸出的第二輸出信號的邏輯或；

其中，所述交流漏電檢測部具有：

第一芯，多個導體能夠通過所述第一芯；

二次線圈，其卷繞在所述第一芯上；

電流檢測部，其輸出與流入所述二次線圈的交流電流的振幅相對應的信號電平的第一電壓信號；

修正部，其輸出修正第一電壓信號，所述修正第一電壓信號隨著由所述電流檢測部輸出的所述第一電壓信號的頻率高于預定頻率，而使所述第一電壓信號的信號電平降低；及

第一判定部，其根據由所述修正部輸出的所述修正第一電壓信號與第一臨界值的大小關系，而輸出信號電平在高電平與低電平之間切換的所述第一輸出信號，

所述直流漏電檢測部具有：

第二芯，所述多個導體能夠通過所述第二芯；

勵磁線圈，其卷繞在所述第二芯上；

電流檢測用電阻器，其將流入所述勵磁線圈的電流轉換成電壓；

勵磁部，其依據藉由所述電流檢測用電阻器轉換后的電壓與臨界電壓的比較結果，將電壓電平在比基準電壓值高的第一電壓值與比所述基準電壓值低的第二電壓值間交替地變化的勵磁頻率的勵磁電壓施加至所述勵磁線圈；

直流成分檢測部，其輸出與藉由所述電流檢測用電阻器轉換后的電壓的直流成分的大小相對應的第二電壓信號；

第二判定部，其根據由所述直流成分檢測部輸出的所述第二電壓信號與第二臨界值的大小關系，而輸出電壓電平在高電平與低電平之間切換的所述第二輸出信號；及

低通濾波器，其設置于所述勵磁線圈與所述勵磁部中的輸入端之間，所述勵磁部中的該輸入端電性連接至所述勵磁線圈與所述電流檢測用電阻器的連接點。

2.根據權利要求1所述的漏電檢測裝置，其中：

所述修正部是設置在所述電流檢測部與所述第一判定部之間的第一低通濾波器，

所述第一低通濾波器的截止頻率及作為所述直流漏電檢測部的低通濾波器的第二低通濾波器的截止頻率比所述勵磁頻率高，

表示所述第二低通濾波器的頻率-增益特性的衰減曲線的傾斜度比表示所述第一低通濾波器的頻率-增益特性的衰減曲線的傾斜度大，及

表示所述第二低通濾波器的頻率-增益特性的衰減曲線與表示所述第一低通濾波器的頻率-增益特性的衰減曲線在這兩個曲線共用頻率的對數軸及單位為dB的增益軸的一個圖上彼此交叉。

3.根據權利要求1或2所述的漏電檢測裝置，其中，所述直流成分檢測部包含第三低通濾波器。

4.根據權利要求1或2所述的漏電檢測裝置，其中：

所述直流成分檢測部包含積分電路及反饋電阻器，

所述積分電路包含：

運算放大器；

電阻器，其一端連接于所述運算放大器的反相輸入端子；及

電容器，其連接在所述運算放大器的反相輸入端子與輸出端子之間，

所述積分電路配置成，所述基準電壓值的基準電壓輸入至所述運算放大器的非反相輸入端子且藉由所述電流檢測用電阻器轉換后的電壓經由所述電阻器輸入至所述運算放大器的反相輸入端子，及

所述反饋電阻器連接在所述積分電路的輸出端與所述電阻器的另一端之間。