[發(fā)明專利]使用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的光譜監(jiān)測(cè)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780073024.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110036464B | 公開(公告)日: | 2023-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | B·切里安 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 應(yīng)用材料公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/66;H01L21/304 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 汪駿飛;侯穎媖 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 光譜 監(jiān)測(cè) | ||
1.一種用于控制基板的處理的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品有形地實(shí)施于非瞬時(shí)計(jì)算機(jī)可讀取介質(zhì)中,并且包括用于使處理器執(zhí)行以下操作的指令:
從原位光監(jiān)測(cè)系統(tǒng)接收從正進(jìn)行處理的基板反射的光的測(cè)得的光譜,所述處理修改所述基板的外層的厚度;
縮減所述測(cè)得的光譜的維度以產(chǎn)生多個(gè)分量值,其中所述測(cè)得的光譜包括N個(gè)波長(zhǎng)的N個(gè)強(qiáng)度值,并且其中縮減所述維度的指令包括使具有N列中的N個(gè)強(qiáng)度值的1×N矩陣乘以其中LN的N×L矩陣以產(chǎn)生L個(gè)分量值的指令;
使用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來產(chǎn)生表征值,所述人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)具有接收所述多個(gè)分量值的多個(gè)輸入節(jié)點(diǎn)、輸出所述表征值的輸出節(jié)點(diǎn)以及將所述輸入節(jié)點(diǎn)連接至所述輸出節(jié)點(diǎn)的多個(gè)隱藏節(jié)點(diǎn);以及
基于所述表征值來確定所述基板的停止處理或處理參數(shù)的調(diào)整中的至少一個(gè)。
2.如權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括對(duì)多個(gè)參考光譜執(zhí)行特征提取以產(chǎn)生多個(gè)分量的指令。
3.如權(quán)利要求2所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其中執(zhí)行特征提取的所述指令包括執(zhí)行主成分分析、奇異值分解、獨(dú)立成分分析或自編碼的指令。
4.如權(quán)利要求2所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括對(duì)具有已知表征值的所述多個(gè)參考光譜中的兩個(gè)或更多個(gè)光譜來執(zhí)行維度縮減以產(chǎn)生訓(xùn)練數(shù)據(jù)的指令。
5.如權(quán)利要求4所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括使用所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)和所述已知表征值而通過反向傳播訓(xùn)練所述人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的指令。
6.如權(quán)利要求5所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其中所述兩個(gè)或更多個(gè)光譜包括比所述多個(gè)參考光譜更少的光譜。
7.如權(quán)利要求5所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括對(duì)具有已知表征值的多個(gè)參考光譜執(zhí)行維度縮減以產(chǎn)生訓(xùn)練數(shù)據(jù)的指令。
8.如權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其中所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括至少一個(gè)輸入節(jié)點(diǎn),所述至少一個(gè)輸入節(jié)點(diǎn)被配置為接收所述基板的先前測(cè)量、先前基板的測(cè)量、來自所述基板在其中經(jīng)歷處理的處理系統(tǒng)中的另一傳感器的測(cè)量、來自在所述處理系統(tǒng)外部的傳感器的測(cè)量、來自所述處理系統(tǒng)的控制器所存儲(chǔ)的處理配方的值或由所述控制器追蹤的變量的值中的至少一個(gè)。
9.一種處理基板的方法,包括以下步驟:
使基板經(jīng)受修改所述基板的外層的厚度的處理;
在所述處理期間利用原位光監(jiān)測(cè)系統(tǒng)測(cè)量從正進(jìn)行處理的所述基板反射的光的測(cè)得的光譜;
縮減所述測(cè)得的光譜的維度以產(chǎn)生多個(gè)分量值,其中所述測(cè)得的光譜包括N個(gè)波長(zhǎng)的N個(gè)強(qiáng)度值,并且其中縮減所述維度包括使具有N列中的N個(gè)強(qiáng)度值的1×N矩陣乘以其中LN的N×L矩陣以產(chǎn)生L個(gè)分量值;
使用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來產(chǎn)生表征值,所述人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)具有接收所述多個(gè)分量值的多個(gè)輸入節(jié)點(diǎn)、輸出所述表征值的輸出節(jié)點(diǎn)以及將所述輸入節(jié)點(diǎn)連接至所述輸出節(jié)點(diǎn)的多個(gè)隱藏節(jié)點(diǎn);以及
基于所述表征值來確定所述基板的停止處理或處理參數(shù)的調(diào)整中的至少一個(gè)。
10.如權(quán)利要求9所述的方法,其中所述處理包括化學(xué)機(jī)械拋光。
11.如權(quán)利要求9所述的方法,包括對(duì)多個(gè)參考光譜執(zhí)行特征提取以產(chǎn)生多個(gè)分量。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,包括對(duì)具有已知表征值的所述多個(gè)參考光譜中的兩個(gè)或更多個(gè)執(zhí)行維度縮減以產(chǎn)生訓(xùn)練數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于應(yīng)用材料公司,未經(jīng)應(yīng)用材料公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201780073024.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:半導(dǎo)體基材的制造方法
- 下一篇:貼合裝置
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 硬件神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)換方法、計(jì)算裝置、軟硬件協(xié)作系統(tǒng)
- 生成較大神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
- 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的生成方法、生成裝置和電子設(shè)備
- 一種舌診方法、裝置、計(jì)算設(shè)備及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)
- 學(xué)習(xí)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)
- 脈沖神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)換方法及相關(guān)轉(zhuǎn)換芯片
- 圖像處理方法、裝置、可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種適應(yīng)目標(biāo)數(shù)據(jù)集的網(wǎng)絡(luò)模型微調(diào)方法、系統(tǒng)、終端和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于重構(gòu)人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的處理器及其操作方法、電氣設(shè)備
- 一種圖像神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化方法及裝置
- 一種用于監(jiān)測(cè)站的天氣監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
- 一種電力設(shè)備安全監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及監(jiān)測(cè)方法
- 基于區(qū)塊鏈的環(huán)境監(jiān)測(cè)及數(shù)據(jù)處理方法和裝置
- 監(jiān)測(cè)方法以及裝置
- 醫(yī)院后勤能耗目標(biāo)對(duì)象的監(jiān)測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 故障監(jiān)測(cè)裝置和故障監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
- 一種社區(qū)養(yǎng)老安全監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
- 一種濕地生態(tài)環(huán)境監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及方法
- 一種接地網(wǎng)阻抗短路在線監(jiān)測(cè)裝置
- 一種廢氣監(jiān)測(cè)裝置





