[發明專利]用于運行用于檢測在測量氣體空間中的測量氣體的顆粒的傳感器元件的方法有效
| 申請號: | 201780072579.4 | 申請日: | 2017-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN109997026B | 公開(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發明(設計)人: | D·諾爾茨 | 申請(專利權)人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/06 | 分類號: | G01N15/06;B08B7/00 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
| 地址: | 德國斯*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 運行 檢測 測量 氣體 空間 中的 顆粒 傳感器 元件 方法 | ||
1.一種用于運行用于檢測在測量氣體空間中的測量氣體的顆粒的傳感器元件的方法,其中,所述傳感器元件包括載體和至少一個測量電極,所述至少一個測量電極與所述載體連接并且能夠暴露在所述測量氣體中,其中,所述方法包括如下步驟:
a)以第一再生溫度實施所述傳感器元件的第一再生;
b)在所述測量電極上實施第一診斷測量;并且
c)根據所述第一診斷測量的結果實施以下步驟中的至少一個步驟:
c1)輸出故障通報;
c2)實施測量階段以檢測所述測量氣體的所述顆粒;或者
c3)以第二再生溫度實施所述傳感器元件的第二再生;
其中,所述第二再生溫度高于所述第一再生溫度,
其中,在方法步驟c)中將所述第一診斷測量的結果與第一閾值進行比較,其中,當所述結果高于所述第一閾值時,實施方法步驟c1),
其中,當所述結果低于所述第一閾值時,將所述結果與第二閾值進行比較,所述第二閾值低于所述第一閾值,
其中,當所述結果低于所述第二閾值時,實施方法步驟c2),
其中,當所述結果處在所述第一閾值與所述第二閾值之間時,實施方法步驟c3)。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,在實施所述方法步驟c3)后實施以下方法步驟:
d)在所述測量電極上實施第二診斷測量。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其中,還實施以下方法步驟:
e)根據所述第二診斷測量的結果實施所述以下步驟中的至少一個步驟:
e1)輸出故障通報;或者
e2)實施測量階段以檢測所述測量氣體的所述顆粒。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中,在方法步驟e)中將所述第二診斷測量的結果與第三閾值進行比較,其中,當所述結果高于所述第三閾值時,實施方法步驟e1),其中,當所述結果低于所述第三閾值時,實施方法步驟e2)。
5.一種用于檢測在測量氣體空間中的測量氣體的顆粒的傳感器,所述傳感器包括至少一個傳感器元件和至少一個控制裝置,所述至少一個控制裝置與所述傳感器元件連接,其中,所述傳感器元件包括載體和至少一個測量電極,所述至少一個測量電極與所述載體連接并且能夠暴露在所述測量氣體中,其中,所述控制裝置設置用于實施根據權利要求1至4中任一項所述的方法。
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