[發明專利]用于確定檢測器單元的剩余運行時段的方法有效
| 申請號： | 201780069946.5 | 申請日： | 2017-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN109997030B | 公開（公告）日： | 2022-01-28 |
| 發明（設計）人： | 哈特穆特·達姆;姜明政;納西斯·米歇爾·尼茨基厄加德烏;西蒙·魏登布魯赫 | 申請（專利權）人： | 恩德萊斯和豪瑟爾歐洲兩合公司 |
| 主分類號： | G01N23/207 | 分類號： | G01N23/207;G01N23/223;G01T1/20;G01F23/288 |
| 代理公司： | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚傳江 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 確定 檢測器 單元 剩余 運行 時段 方法 | ||
1.一種用于確定用于輻射測量、密度或填充水平測量裝置(2)的檢測器單元(1)的剩余運行時段(ΔtB，r)的方法，其中，所述檢測器單元(1)包括至少一個具有可控放大因子(A)的光電倍增管(12)，其中，所述檢測器單元(1)還包括控制評估單元(13)，
其中，所述控制評估單元(13)利用控制電壓(Va)來控制所述光電倍增管(12)，并且
其中，所述方法包括如下方法步驟：
-在至少一個預定的時間段(dt)內記錄控制電壓(Va)，
-基于在所述預定的時間段(dt)內記錄的控制電壓(Va)來確定時間變化率函數(dVa/dt)，
-利用所述時間變化率函數(dVa/dt)和當前運行時間(tB，a)處存在的當前控制電壓(Va，a)來計算直到達到最大控制電壓(Va，max)為止的剩余運行時間(ΔtB，r)。
2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述利用控制電壓(Va)來控制所述光電倍增管(12)是以使放大因子(A)恒定的方式進行的。
3.根據權利要求1所述的方法，其中，利用控制電壓(Va)在所述預定的時間段(dt)內的回歸來確定變化率函數(dVa/dt)。
4.根據權利要求3所述的方法，其中，最小二乘法被應用用于執行所述回歸和/或用于確定合適的回歸類型。
5.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其中，所述控制電壓(Va)被記錄為溫度補償的。
6.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其中，所述預定的時間段(dt)在所述檢測器單元(1)的整個運行時間上延伸到所述當前運行時間(tB，a)。
7.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其中，所述預定的時間段(dt)是恒定的并且終止于所述當前運行時間(tB，a)。
8.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其中，當所述變化率函數(dVa/dt)的至少一個參數改變超過預定義的極限值時，或者當所述變化率函數(dVa/dt)的回歸類型改變時，創建報告。
9.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其中，至少在所述預定的時間段(dt)內，以預定的時間間隔，來執行記錄控制電壓(Va)。
10.根據權利要求9所述的方法，其中，所述預定的時間間隔是大于一天的時間間隔。
11.一種用于輻射測量、密度或填充水平測量裝置(2)的檢測器單元，所述檢測器單元用于執行前述權利要求1至10中的任意一項所述的方法，包括：
-閃爍體(11)，
-光電倍增管(12)，所述光電倍增管(12)與所述閃爍體(11)光學耦合并具有可控的放大因子(A)，以及
-控制評估單元(13)。
12.根據權利要求11所述的檢測器單元，其中，所述控制評估單元(13)執行記錄控制電壓(Va)和/或確定時間變化率函數(dVa/dt)和/或計算剩余運行時段(ΔtB，r)。
13.根據權利要求11或12所述的檢測器單元，還包括：
-顯示單元，所述顯示單元用于顯示剩余運行時段(ΔtB，r)。
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