[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780068708.2 | 申請日: | 2017-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN109923663B | 公開(公告)日: | 2023-02-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 山田明;櫻井晉也;中野敬志;近藤陽介;本島六都也 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社電裝 |
| 主分類號: | H01L21/8234 | 分類號: | H01L21/8234;H01L21/336;H01L21/822;H01L21/8222;H01L27/04;H01L27/06;H01L27/088;H01L29/78 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 呂文卓 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 | ||
對于GGMOS的1個(gè)單元將N型體區(qū)域(5)配置多個(gè),并且將N型體區(qū)域(5)的N型雜質(zhì)濃度設(shè)定得較低,從而與陰極電極進(jìn)行肖特基接觸。具體而言,包圍構(gòu)成GGMOS的單元而將N型體區(qū)域(5)配置多個(gè)。由此,能夠提高體接觸電阻,能夠提高基極電阻,所以能夠更早地使寄生PNP晶體管導(dǎo)通。因而,能夠可靠地抑制對被保護(hù)元件流過浪涌電流。
相關(guān)申請的相互參照
本申請基于2016年11月09日申請的日本專利申請第2016-219029號,這里通過參照而包括其記載內(nèi)容。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及具有使LDMOS(橫向擴(kuò)散MOS)(Laterally Diffused MOSFET的簡寫)的柵極-源極間短路而使用的GGMOS(柵極接地MOS)(Grounded-gate MOSFET的簡寫)等保護(hù)元件的半導(dǎo)體裝置。
背景技術(shù)
以往,已知例如通過將GGMOS與用作向負(fù)載的電力供給的開關(guān)元件的MOSFET等并聯(lián)連接從而通過GGMOS保護(hù)MOSFET的保護(hù)電路。該保護(hù)電路中,由于與MOSFET并聯(lián)連接的GGMOS比MOSFET先擊穿(break through),所以浪涌電流流過GGMOS側(cè)從而能夠使浪涌電流不流過MOSFET,能夠保護(hù)MOSFET不損壞。
例如,GGMOS被做成具有寄生PNP晶體管以及寄生二極管的結(jié)構(gòu)。寄生PNP晶體管包括鄰接配置的N型阱層及P型阱層、在N型阱層的表層部形成的P+型陰極區(qū)域及N+型體(body)區(qū)域、以及在P型阱層的表層部形成的P+型陽極區(qū)域等。寄生二極管包括N型阱層與P型阱層的PN結(jié)。另外,N+型體區(qū)域相當(dāng)于寄生二極管的陰極,在寄生PNP晶體管中相當(dāng)于基極。同樣,P+型陽極區(qū)域相當(dāng)于寄生二極管的陽極,在寄生PNP晶體管中相當(dāng)于集電極。P+型陰極區(qū)域相當(dāng)于寄生PNP晶體管的發(fā)射極。
在這樣的結(jié)構(gòu)下,在施加浪涌時(shí)N型阱層與P型阱層的PN結(jié)所形成的寄生二極管導(dǎo)通。并且,通過伴隨于此的基極電阻即N型阱層中的直至N+型體區(qū)域的內(nèi)部電阻的電壓下降,寄生晶體管的基極-陰極間電壓上升。由此,寄生PNP晶體管導(dǎo)通,不進(jìn)行向用作開關(guān)元件的MOSFET的電力供給,從而能夠抑制浪涌電流流過MOSFET。
但是,由于P型阱層的電阻成分而P型阱層的電壓上升,超過作為被保護(hù)元件的MOSFET的耐壓,不再能夠保護(hù)被保護(hù)元件。特別是,在保護(hù)元件的耐壓高的情況下,漂移(drift)長度即P型阱層中的成為與N型阱層的邊界的PN結(jié)至P+型陽極區(qū)域的長度較長從而漂移電阻變高,容易引起上述電壓上升。
因此,為了進(jìn)一步使寄生PNP晶體管容易動(dòng)作、不對被保護(hù)元件施加過大電壓,提出了將N+型體區(qū)域僅形成在形成GGMOS的單元區(qū)域的外周部的構(gòu)造(參照專利文獻(xiàn)1)。根據(jù)這樣的結(jié)構(gòu),能夠拉開N型阱層與P型阱層的PN結(jié)至N+型體層的距離,能夠增大基極電阻,從而能夠使寄生PNP晶體管容易動(dòng)作。因而,能夠抑制向被保護(hù)元件施加過大電壓的情況。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開2013-8715號公報(bào)
但是,通過限定N+型體區(qū)域的形成位置,在GGMOS中的距N+型體區(qū)域較遠(yuǎn)的部分和較近的部分中動(dòng)作定時(shí)產(chǎn)生偏差,無法均勻地使GGMOS動(dòng)作。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,提供能夠使寄生PNP晶體管更容易動(dòng)作并且使GGMOS更均勻地動(dòng)作的結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體裝置。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





