[發(fā)明專利]活體檢測(cè)方法和設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201780068288.8
• 申請(qǐng)日: 2017-11-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109906558A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 伍顯鴻;羅文祐;鄭家偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 維德鴻興科技發(fā)展有限公司
• 主分類號(hào): H03K17/955
• 分類號(hào): H03K17/955
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 張娜;顧麗波

1.一種檢測(cè)電接觸表面處可能的活體接觸的方法，其中所述活體具有可檢測(cè)的特性初始阻抗以及在所述電接觸表面處于觸摸電壓的情況下接觸所述電接觸表面時(shí)由所述初始阻抗定義的相應(yīng)特性時(shí)間常數(shù)，其中所述方法包括：

-向所述接觸表面發(fā)送無(wú)危害性的探測(cè)信號(hào)，其中所述探測(cè)信號(hào)包括一個(gè)探測(cè)脈沖或形成一個(gè)探測(cè)脈沖序列的多個(gè)探測(cè)脈沖，并且所述探測(cè)脈沖具有基準(zhǔn)電壓電平以及探測(cè)電壓電平，所述探測(cè)電壓電平高于所述基準(zhǔn)電壓電平且等于所述觸摸電壓，或所述探測(cè)電壓電平低于所述基準(zhǔn)電壓電平且等于所述觸摸電壓；

-響應(yīng)于電探測(cè)信號(hào)檢測(cè)來(lái)自所述接觸表面的電響應(yīng)，其中所述電響應(yīng)包括電響應(yīng)信號(hào)；以及

-根據(jù)所述電響應(yīng)信號(hào)確定在所述電接觸表面處是否存在可能的活體接觸；

其中所述探測(cè)脈沖在實(shí)質(zhì)上短于定義上升沿的所述時(shí)間常數(shù)的上升時(shí)間內(nèi)從所述基準(zhǔn)電壓電平上升到所述探測(cè)電壓電平，并且在實(shí)質(zhì)上長(zhǎng)于所述時(shí)間常數(shù)的持續(xù)時(shí)間期間保持在所述探測(cè)電壓電平，或者其中，所述探測(cè)脈沖具有基準(zhǔn)電壓電平以及低于所述基準(zhǔn)電壓電平并且等于所述觸摸電壓的探測(cè)電壓電平，并且其中所述探測(cè)脈沖在實(shí)質(zhì)上短于定義下降沿的所述時(shí)間常數(shù)的下降時(shí)間內(nèi)從所述基準(zhǔn)電壓電平下降到所述探測(cè)電壓電平，并且在實(shí)質(zhì)上長(zhǎng)于所述時(shí)間常數(shù)的持續(xù)時(shí)間期間保持在所述探測(cè)電壓電平；

其中所述方法包括將在定義檢測(cè)時(shí)間段的時(shí)間窗口中響應(yīng)于所述探測(cè)信號(hào)而接收的所述電響應(yīng)與參考響應(yīng)進(jìn)行比較，并確定所述電響應(yīng)是否與所述參考響應(yīng)匹配，以判斷在所述電接觸面處是否存在活體接觸；以及

其中所述參考響應(yīng)是將所述探測(cè)信號(hào)施加到所述活體或施加到具有所述活體的所述特性初始阻抗的無(wú)源電阻抗網(wǎng)絡(luò)而產(chǎn)生的預(yù)期響應(yīng)，或者其中，所述參考響應(yīng)是參考形成樣本池的相應(yīng)多個(gè)活體的多個(gè)樣本響應(yīng)而確定的預(yù)期響應(yīng)，并且所述樣本響應(yīng)是通過(guò)以下操作來(lái)獲得的：將所述探測(cè)信號(hào)單獨(dú)地施加到所述樣本池的樣本活體來(lái)收集響應(yīng)信號(hào)，并且每個(gè)樣本活體具有可檢測(cè)的特性初始阻抗以及在所述電接觸表面處于所述探測(cè)電壓的情況下接觸所述電接觸表面時(shí)由所述初始阻抗定義的相應(yīng)特性時(shí)間常數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述方法包括在多個(gè)數(shù)據(jù)收集時(shí)間收集所述電響應(yīng)的多個(gè)信號(hào)幅度值，并且參考所述多個(gè)信號(hào)值來(lái)確定所述電響應(yīng)是否與所述參考響應(yīng)相匹配，以判斷在所述電接觸表面是否存在活體接觸。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中所述數(shù)據(jù)收集時(shí)間順序地分布在收集時(shí)間窗口中，所述收集時(shí)間窗口在靠近所述探測(cè)信號(hào)的所述上升沿或所述下降沿的時(shí)間開(kāi)始并且具有與所述時(shí)間常數(shù)相當(dāng)或大于所述時(shí)間常數(shù)的持續(xù)時(shí)間。

4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述特性初始阻抗具有串聯(lián)的特性初始電阻和特性初始電容，并且所述時(shí)間常數(shù)定義等于所述特性初始電阻乘以所述特性初始電容的時(shí)間值。

5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述電接觸表面具有特性接觸區(qū)域，并且所述活體具有特性內(nèi)部電阻和可參考所述接觸區(qū)域確定的特性皮膚電容，并且其中所述特性初始電阻具有等于所述內(nèi)部電阻或與所述內(nèi)部電阻相當(dāng)?shù)碾娮柚担⑶宜鎏匦猿跏茧娙菥哂械扔谒銎つw電容或與所述皮膚電容相當(dāng)?shù)碾娙葜怠?/p>

6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述探測(cè)脈沖具有階躍波形或方波。

7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所述探測(cè)脈沖具有足以產(chǎn)生至所述活體的電子可檢測(cè)的電流涌入的電壓電平，并且所述電流涌入具有無(wú)危害性的峰值電流幅度和無(wú)危害性的持續(xù)時(shí)間。

8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所述方法包括微控制器操作電子電路以收集所述電響應(yīng)信號(hào)，并參考收集的所述電響應(yīng)信號(hào)來(lái)確定所述電響應(yīng)是否具有與所述參考響應(yīng)的時(shí)域特性匹配的或相當(dāng)?shù)臅r(shí)域特性。