[發明專利]使用復制電路的失配檢測

有效

• 申請號: 201780068216.3
• 申請日: 2017-02-03
• 公開（公告）號: CN109923781B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 丹·威廉·諾貝;羅納德·尤金·里迪;彼得·培根;詹姆斯·S·卡布爾
• 申請（專利權）人: 派賽公司
• 主分類號: H03F3/195
• 分類號: H03F3/195;H03F3/24;H03F3/213;H03F1/56
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 楊鐵成;楊林森

1.一種電路裝置，包括：

感測電路；

第一射頻(RF)路徑，其通過第一RF路徑的一個或更多個感測點耦合至所述感測電路，所述第一RF路徑包括第一有源電路；以及

至少一個第二RF路徑，其通過所述第二RF路徑的與所述第一RF路徑的所述一個或更多個感測點對應的一個或更多個感測點耦合至所述感測電路，所述第二RF路徑包括第二有源電路，所述第二有源電路是所述第一有源電路的縮小尺寸復制，

其中，所述感測電路適于感測在所述第一RF路徑的所述一個或更多個感測點處感測的所述第一RF路徑的一個或更多個操作特性與在所述第二RF路徑的對應的一個或更多個感測點處感測的所述第二RF路徑的一個或更多個參考操作特性之間的差異，并且

其中，所述第一RF路徑的所述一個或更多個感測點包括耦合至所述第一有源電路的內部節點的至少一個感測點。

2.根據權利要求1所述的電路裝置，其中：

所述第一RF路徑的所述一個或更多個操作特性受到操作變量集合的影響；并且

所述第二RF路徑被配置成使得所述第二RF路徑的一個或更多個參考操作特性受到所述操作變量的子集的影響。

3.根據權利要求2所述的電路裝置，其中，所述操作變量集合包括以下中的一個或更多個：a)所述第一RF路徑/所述第二RF路徑的負載；b)所述第一有源電路/所述第二有源電路處的局部溫度；c)所述第一有源電路/所述第二有源電路的器件上的熱載流子注入(HCI)效應；d)所述第一有源電路/所述第二有源電路上的瞬態效應；e)所述第一有源電路/所述第二有源電路的器件上的浮體效應；f)所述第一RF路徑/所述第二RF路徑的不同操作模式；以及g)所述第一RF路徑/所述第二RF路徑的不同操作頻率。

4.根據權利要求2所述的電路裝置，其中，所述第一有源電路的所述操作特性和所述第二有源電路的所述操作特性根據關于所述操作變量集合的已知映射函數相關。

5.根據權利要求2所述的電路裝置，其中，所述一個或更多個操作特性包括以下中的一個或更多個：a)信號調制特性；b)信號線性特性；c)信號失真特性；d)信號幅度特性；e)信號相位特性；f)瞬態響應特性；g)溫度特性；以及e)偏置條件，包括偏置電壓和偏置電流。

6.根據權利要求2所述的電路裝置，其中：

所述第一RF路徑被配置成通過耦合至所述第一RF路徑的輸出節點的匹配阻抗在所述第一RF路徑的所述輸出節點處發送RF信號，并且

所述第二RF路徑被配置成通過耦合至所述第二RF路徑的輸出節點的終止阻抗在所述第二RF路徑的所述輸出節點處終止RF信號。

7.根據權利要求2所述的電路裝置，其中，所述感測電路感測所述第一RF路徑的所述一個或更多個感測點處的與所述第一RF路徑的所述一個或更多個操作特性對應的信號，并且感測所述第二RF路徑的所述一個或更多個感測點處的與所述第二RF路徑的所述一個或更多個參考操作特性對應的信號。

8.根據權利要求7所述的電路裝置，其中，所感測的信號是以下中的一個或更多個：a)電壓信號；b)電流信號；以及c)功率信號。

9.根據權利要求7所述的電路裝置，其中，所述第一RF路徑和所述第二RF路徑還包括控制輸入，所述控制輸入被配置成接收控制信號以影響所述一個或更多個操作特性。

10.根據權利要求9所述的電路裝置，其中，所述控制信號基于所感測的信號。

11.根據權利要求1所述的電路裝置，其中，所述第二有源電路的所述縮小尺寸約為所述第一有源電路的尺寸的1/100或更小，例如，所述第二有源電路的電流和功耗約為所述第一有源電路的電流和功耗的1/100或更小。